本申请提供一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取当前存储介质中各存储单元的属性信息；其中，属性信息用于表征存储单元的折损程度；根据各存储单元的属性信息，确定当前存储介质中的高容错单元；判断待存储数据是否为高容错数据；当待存储数据为高容错数据时，将待存储数据存储至高容错单元。上述方案提供的方法，通过将折损严重的存储单元作为高容错单元，并利用高容错单元存储高容错数据，延长了存储单元的可用寿命，进而延长了存储介质的整体可用寿命。而延长了存储介质的整体可用寿命。而延长了存储介质的整体可用寿命。
【技术实现步骤摘要】
一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本申请涉及存储介质管理
，尤其涉及一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]随着存储技术的不断发展，存储介质的存储密度持续增加。但由于硬件特性，在不可进行就地更新的存储介质(如闪存、叠瓦式磁盘等)中，存储介质的可用寿命也不可避免地持续缩短。因此，如何延长存储介质的可用寿命是亟待解决的技术难题。
[0003]在现有技术中，通常是基于负载均衡优化策略，将存储器的读写磨损尽可能均匀分布到各个存储单元上，从而减缓个别存储介质的折旧速率。
[0004]但是，存储介质是否可用是根据报废存储单元所占的比例来确定的，现有技术只能避免部分存储单元过早损坏导致整个存储介质报废，并不能实际地延长存储单元的可用寿命。
技术实现思路
[0005]本申请提供一种数据存储方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术不能实际地延长存储单元的可用寿命等缺陷。
[0006]本申请第一个方面提供一种数据存储方法，包括：
[0007]获取当前存储介质中各存储单元的属性信息；其中，所述属性信息用于表征存储单元的折损程度；
[0008]根据各所述存储单元的属性信息，确定所述当前存储介质中的高容错单元；
[0009]判断待存储数据是否为高容错数据；
[0010]当所述待存储数据为高容错数据时，将所述待存储数据存储至所述高容错单元。
[0011]可选的，所述存储单元的属性信息至少包括已擦除次数和数据比特翻转率，所述根据各所述存储单元的属性信息，确定所述当前存储介质中的高容错单元，包括：
[0012]根据所述存储单元的已擦除次数和数据比特翻转率，计算所述存储单元的折旧因子；
[0013]当所述存储单元的折旧因子大于预设的普通单元折旧阈值且小于预设的高容错单元折旧阈值时，确定所述存储单元为高容错单元。
[0014]可选的，在将所述待存储数据存储至所述高容错单元之前，所述方法还包括：
[0015]获取预设数量的最近历史数据的数据分布信息；其中，所述数据分布信息包括所述最近历史数据中写请求操作的数量和所述请求操作的平均间隔；
[0016]根据所述预设数量的最近历史数据的数据分布信息，确定存储单元的重生临界值；
[0017]根据当前存储介质中高容错单元的数量和所述重生临界值之间的大小关系，判断是否启用所述高容错单元。
[0018]可选的，若确定启用所述高容错单元，在将所述待存储数据存储至所述高容错单元之前，所述方法还包括：
[0019]获取各所述高容错单元的当前存储量；
[0020]根据各所述高容错单元的当前存储量和预设的存储单元饱和量，判断当前是否有可用高容错单元。
[0021]可选的，还包括：
[0022]若确定不启用所述高容错单元或当前没有可用存储单元，则将所述待存储数据存储至普通单元。
[0023]可选的，所述判断待存储数据是否为高容错数据，包括：
[0024]判断所述待存储数据是否携带有数据纠错码；
[0025]当所述待存储数据携带数据纠错码时，基于所述数据纠错码，对所述待存储数据进行校正，以得到校正后的数据；
[0026]判断所述校正后的数据的比特翻转率是否大于预设的比特翻转率阈值；
[0027]若是，则确定所述待存储数据为高容错数据。
[0028]可选的，还包括：
[0029]按照预设的管理周期，在所述当前存储介质中提取存储有高容错数据的普通单元；
[0030]根据各所述普通单元中的高容错数据在高容错单元间的历史迁移次数和高容错数据存储量，确定目标普通单元；
[0031]将所述目标普通单元中的高容错数据迁移至高容错单元。
[0032]本申请第二个方面提供一种数据存储装置，包括：
[0033]获取模块，用于获取当前存储介质中各存储单元的属性信息；其中，所述属性信息用于表征存储单元的折损程度；
[0034]确定模块，用于根据各所述存储单元的属性信息，确定所述当前存储介质中的高容错单元；
[0035]判断模块，用于判断待存储数据是否为高容错数据；
[0036]存储模块，用于当所述待存储数据为高容错数据时，将所述待存储数据存储至所述高容错单元。
[0037]可选的，所述存储单元的属性信息至少包括已擦除次数和数据比特翻转率，所述确定模块，具体用于：
[0038]根据所述存储单元的已擦除次数和数据比特翻转率，计算所述存储单元的折旧因子；
[0039]当所述存储单元的折旧因子大于预设的普通单元折旧阈值且小于预设的高容错单元折旧阈值时，确定所述存储单元为高容错单元。
[0040]可选的，所述存储模块，还用于：
[0041]获取预设数量的最近历史数据的数据分布信息；其中，所述数据分布信息包括所述最近历史数据中写请求操作的数量和所述请求操作的平均间隔；
[0042]根据所述预设数量的最近历史数据的数据分布信息，确定存储单元的重生临界值；
[0043]根据当前存储介质中高容错单元的数量和所述重生临界值之间的大小关系，判断是否启用所述高容错单元。
[0044]可选的，所述存储模块，还用于：
[0045]获取各所述高容错单元的当前存储量；
[0046]根据各所述高容错单元的当前存储量和预设的存储单元饱和量，判断当前是否有可用高容错单元。
[0047]可选的，所述存储模块，还用于：
[0048]若确定不启用所述高容错单元或当前没有可用存储单元，则将所述待存储数据存储至普通单元。
[0049]可选的，所述判断模块，具体用于：
[0050]判断所述待存储数据是否携带有数据纠错码；
[0051]当所述待存储数据携带数据纠错码时，基于所述数据纠错码，对所述待存储数据进行校正，以得到校正后的数据；
[0052]判断所述校正后的数据的比特翻转率是否大于预设的比特翻转率阈值；
[0053]若是，则确定所述待存储数据为高容错数据。
[0054]可选的，所述装置还包括：
[0055]数据迁移模块，用于按照预设的管理周期，在所述当前存储介质中提取存储有高容错数据的普通单元；根据各所述普通单元中的高容错数据在高容错单元间的历史迁移次数和高容错数据存储量，确定目标普通单元；将所述目标普通单元中的高容错数据迁移至高容错单元。
[0056]本申请第三个方面提供一种电子设备，包括：至少一个处理器和存储器；
[0057]所述存储器存储计算机执行指令；
[0058]所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述至少一个处理器执行如上第一个方面以及第一个方面各种可能的设计所述的方法。
[0059]本申请第四个方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种数据存储方法，其特征在于，包括：获取当前存储介质中各存储单元的属性信息；其中，所述属性信息用于表征存储单元的折损程度；根据各所述存储单元的属性信息，确定所述当前存储介质中的高容错单元；判断待存储数据是否为高容错数据；当所述待存储数据为高容错数据时，将所述待存储数据存储至所述高容错单元。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储单元的属性信息至少包括已擦除次数和数据比特翻转率，所述根据各所述存储单元的属性信息，确定所述当前存储介质中的高容错单元，包括：根据所述存储单元的已擦除次数和数据比特翻转率，计算所述存储单元的折旧因子；当所述存储单元的折旧因子大于预设的普通单元折旧阈值且小于预设的高容错单元折旧阈值时，确定所述存储单元为高容错单元。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在将所述待存储数据存储至所述高容错单元之前，所述方法还包括：获取预设数量的最近历史数据的数据分布信息；其中，所述数据分布信息包括所述最近历史数据中写请求操作的数量和所述请求操作的平均间隔；根据所述预设数量的最近历史数据的数据分布信息，确定存储单元的重生临界值；根据当前存储介质中高容错单元的数量和所述重生临界值之间的大小关系，判断是否启用所述高容错单元。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若确定启用所述高容错单元，在将所述待存储数据存储至所述高容错单元之前，所述方法还包括：获取各所述高容错单元的当前存储量；根据各所述高容错单元的当前存储量和预设的存储单元饱和量，判断当前是否有可用高容错单元。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：若确定不启用所述高容错单元或当前没...
【专利技术属性】
技术研发人员：马晨琳，周卓铠，周池，毛睿，王毅，
申请(专利权)人：深圳大学，
类型：发明
国别省市：
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