【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体装置，它能容易地去除载有掩模型ROM(掩模型只读存储器)的微型计算机的软件故障。近年，载有掩模型ROM的微型计算机的软件故障的去除，一般采用改变掩模型ROM来更改程序区域改变这样的对策。以下对以往的载有掩模型ROM的微型计算机其软件错误采用的对策方法进行说明。以往载有掩模型ROM的微型计算机其软件故障的去除是采用重新制作掩模型ROM或者将掩模型ROM程序区域的一部分先改写在微型计算机外部的非易失性存储器中，并改写该非易失性存储器的内容的方法。微型计算机的结构如图5所示。在图5中，微型计算机50具备作为程序区域读出专用存储器的掩模型ROM51、数据区域的易失性RAM52以及中央运算器CPU53。以往，对于在载有掩模型ROM51的微型计算机50其软件部分存在故障的情况，故障的去除方法是如下这样实现的采取将掩模型ROM51再次改变或者将掩模型ROM51内的程序区域的一部分改写在微型计算机外部配置的非易失性存储器上。再者，作为去除掩模型ROM故障的早期技术，在例如日本专利特开昭63-10234号公报、特开平1-192096号公报以及美国专利第...
【技术保护点】
一种半导体装置，其特征在于， 具备控制手段和存储手段， 所述控制手段包括具有存储了程序的程序区域的掩模只读存储器、具有存储了所述程序运作中使用的数据的数据区域并能够改写的存储器以及中央运算处理手段， 所述存储手段存储能够改写所述存储器中任意数据区域的任意数据。
【技术特征摘要】
JP 2000-6-27 192278/00;JP 1999-8-31 244718/991．一种半导体装置，其特征在于，具备控制手段和存储手段，所述控制手段包括具有存储了程序的程序区域的掩模只读存储器、具有存储了所述程序运作中使用的数据的数据区域并能够改写的存储器以及中央运算处理手段，所述存储手段存储能够改写所述存储器中任意数据区域的任意数据。2．如权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，所述存储手段在存储能够改写存储器中数据区域的任意数据之前，写入着数值“0”。3．如权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，所述存储器具备设定规定条件的第1数据以及输出符合所述第1数据的条件的结果的第2数据。4．如权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，所述存储手段具备指定存储器内第2地址的源地址、为了读出写入在所述第1地址的第1数据中的规定位值用的第1掩模数据、同所述第1掩模数据和所述第1数据运算处理后的运算结果数据进行比较用的比较数据、同所述第2地址中写入的第2数据...
【专利技术属性】
技术研发人员：平田阳一，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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