本发明专利技术公开了一种IC成品小批量测试设备及其测试方法，包含机架以及设置在机架上的柔性振动盘、第一芯片吸取定位相机、四轴机械手、芯片安装定位相机、芯片测试座和第二芯片吸取定位相机，第一芯片吸取定位相机设置在柔性振动盘上方采集柔性振动盘上的芯片正反、位置和方向信息，芯片安装定位相机设置在柔性振动盘和芯片测试座之间用于采集吸取的芯片的安装位置和方向，四轴机械手端部设置有芯片吸盘用于吸取芯片，第二芯片吸取定位相机设置在四轴机械手端部用于精准获取被吸取芯片的位置和方向。本发明专利技术实现了不同种类的IC成品的全自动测试，全程自动操作完成，无需人工参与，节约了人力的同时大大提高了芯片测试的效率。人力的同时大大提高了芯片测试的效率。人力的同时大大提高了芯片测试的效率。
【技术实现步骤摘要】
一种IC成品小批量测试设备及其测试方法
[0001]本专利技术涉及一种测试设备及其测试方法，特别是一种IC成品小批量测试设备及其测试方法，属于半导体测试设备领域。
技术介绍
[0002]在半导体后道封装测试工序生产过程中，有许多不同品种的小批量产品需要测试。目前通常的做法主要有人工测试和产品线针对性改造两种方式。人工测试是依靠人工抓取需要测试的芯片然后将待测芯片放置到测试基座内进行测试，由于IC芯片部分型号芯片体积小，长度小于5mm，且厚度很薄，人工在进行抓取的时候十分不便，导致测试的效率十分低下。另外，由于人手上很容易携带静电，操作之前还需要进行静电消除，如果静电并未消除则抓取芯片容易直接导致芯片被静电击穿失效，造成经济损失。而且人手在抓取过程中，操作不当很容易引起芯片的引脚变形等问题，造成测试失败。产品线改造方式则是需要对原先的产品线进行改造，直接将测试设备整合在原有产品生产线上，现场改造困难大且成本较高，一条生产线就需要改造增加一套测试设备，大大增加了总体的生产成本。
技术实现思路
[0003]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种IC成品小批量测试设备及其测试方法，实现不同品种的IC成品的全自动测试。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案是：一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：包含机架以及设置在机架上的柔性振动盘、第一芯片吸取定位相机、四轴机械手、芯片安装定位相机、芯片测试座和第二芯片吸取定位相机，第一芯片吸取定位相机设置在柔性振动盘上方采集柔性振动盘上的芯片正反、位置和方向信息，芯片安装定位相机设置在柔性振动盘和芯片测试座之间用于采集吸取的芯片的安装位置和方向，四轴机械手端部设置有芯片吸盘用于吸取芯片，第二芯片吸取定位相机设置在四轴机械手端部用于精准获取被吸取芯片的位置和方向。
[0005]进一步地，还包含料盒，料盒包含料盒平台、合格品盒和不合格品盒，料盒平台固定在机架上侧面上，料盒平台的上侧面上设置有两个与合格品盒和不合格品盒匹配的凹槽，合格品盒和不合格品盒分别卡设在料盒平台的两个凹槽内。
[0006]进一步地，所述凹槽的边沿设置有向凹槽内部倾斜的导向面。
[0007]进一步地，所述四轴机械手包含底座、第一旋转马达、摆臂、壳体、第二旋转马达、第三旋转马达和升降杆，底座固定在机架上侧，第一旋转马达固定在底座上侧，摆臂水平设置并且摆臂的一端设置在第一旋转马达上由第一旋转马达驱动，摆臂的另一端设置在第二旋转马达上由第二旋转马达驱动，第二旋转马达和升降杆设置在壳体内，第三旋转马达固定在升降杆下端由升降杆驱动沿竖直方向升降，芯片吸嘴设置在第三旋转马达上由第三旋转马达驱动并且吸嘴处设置有压力传感器。
[0008]进一步地，所述第二芯片吸取定位相机固定在壳体上。
[0009]进一步地，所述柔性振动盘包含料斗和震动盘体，料斗倾斜设置并且料斗下端下料口位于震动盘体上侧，料斗的下端下料口设置有自动阀板。
[0010]进一步地，所述震动盘体的两侧上方分别设置有一个光源，光源固定在光源支架上，光源支架套设在水平杆一端并通过螺栓紧固，水平杆与竖直杆上端固定，竖直杆下端固定在机架上。
[0011]进一步地，所述第一芯片吸取定位相机固定在相机固定支架一端，相机固定支架另一端套设在竖直调节杆上端并通过螺栓紧固，水平支架一端套设在竖直调节杆下端并通过螺栓紧固，水平支架另一段套设在竖直支架上端并通过螺栓紧固，竖直支架下端固定在机架上。
[0012]进一步地，还包含计算机，计算机固定在机架外侧，第一芯片吸取定位相机、芯片安装定位相机、和第二芯片吸取定位相机分别与计算机连接将采集的数据上传至计算机，柔性振动盘、四轴机械手和芯片测试座分别与计算机连接由计算机进行控制。
[0013]一种IC成品小批量测试设备的测试方法，其特征在于包含以下步骤：将需要测试的IC芯片放置在柔性振动盘的料斗中，料斗定量下料至震动盘体中，震动盘体震动将芯片分散，当震动盘体中芯片被全部吸走时，料斗再次下料；第一芯片吸取定位相机采集震动盘体内芯片的图像信息，识别芯片的正反、粗略位置和方向，然后计算机将可吸取的芯片进行排序并控制四轴机械手按照顺序依次将芯片吸走；剩余芯片继续在震动盘体内震动分散、翻面，并通过第一芯片吸取定位相机重复识别芯片的正反、粗略位置和方向直至所有芯片均被吸走；四轴机械手移动到待吸取芯片的上方，第二芯片吸取定位相机采集下方芯片的图像信息，并通过计算机判断芯片的精确位置和方向，通过反馈的精确位置和方向调整四轴机械手的位置对芯片进行精准吸取；四轴机械手将吸取芯片移动到芯片安装定位相机的正上方，安装定位相机采集四轴机械手上吸取的芯片的图像信息，并通过计算机识别安装位置和方向，计算得到四轴机械手需要调整的芯片位置补偿值，并控制四轴机械手进行调整；四轴机械手移动芯片至测试座并将芯片安装至测试座内进行测试，待测试完成后，四轴机械手根据测试结果将芯片移动至相应的料盒进行存储。
[0014]本专利技术与现有技术相比，具有以下优点和效果：本专利技术的一种IC成品小批量测试设备及其测试方法实现了不同种类的IC成品的全自动测试，降低了测试成本，全程自动操作完成，无需人工参与，节约了人力的同时大大提高了芯片测试的效率；另外本专利技术采用吸盘吸取芯片，避免了芯片被静电击穿以及引脚弯曲的风险；本专利技术通过多个相机对芯片的位置和方向进行判定，从而实现了芯片的精准定位，保证了整个测试的稳定性。
附图说明
[0015]图1是本专利技术的一种IC成品小批量测试设备的示意图。
[0016]图2是本专利技术的一种IC成品小批量测试设备的内部示意图。
[0017]图3是本专利技术的四轴机械手的示意图。
[0018]图4是本专利技术的第一芯片吸取定位相机和柔性振动盘的示意图。
具体实施方式
[0019]为了详细阐述本专利技术为达到预定技术目的而所采取的技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清晰、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的部分实施例，而不是全部的实施例，并且，在不付出创造性劳动的前提下，本专利技术的实施例中的技术手段或技术特征可以替换，下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。
[0020]如图1和图2所示，本专利技术的一种IC成品小批量测试设备，包含机架1以及设置在机架1上的柔性振动盘2、第一芯片吸取定位相机3、四轴机械手4、芯片安装定位相机5、芯片测试座6和第二芯片吸取定位相机7，第一芯片吸取定位相机3设置在柔性振动盘2上方采集柔性振动盘2上的芯片正反、位置和方向信息，芯片安装定位相机5设置在柔性振动盘2和芯片测试座6之间用于采集吸取的芯片的安装位置和方向，四轴机械手4端部设置有芯片吸盘用于吸取芯片，第二芯片吸取定位相机7设置在四轴机械手4端部用于精准获取被吸取芯片的位置和方向。
[0021]本专利技术的IC成品小批量测试设备还包含料盒，料盒包含料盒平台8、合格品盒9和不合格品盒10，料盒平台10固定在机架1上侧面上，料盒平台8的上侧本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：包含机架以及设置在机架上的柔性振动盘、第一芯片吸取定位相机、四轴机械手、芯片安装定位相机、芯片测试座和第二芯片吸取定位相机，第一芯片吸取定位相机设置在柔性振动盘上方采集柔性振动盘上的芯片正反、位置和方向信息，芯片安装定位相机设置在柔性振动盘和芯片测试座之间用于采集吸取的芯片的安装位置和方向，四轴机械手端部设置有芯片吸盘用于吸取芯片，第二芯片吸取定位相机设置在四轴机械手端部用于精准获取被吸取芯片的位置和方向。2.根据权利要求1所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：还包含料盒，料盒包含料盒平台、合格品盒和不合格品盒，料盒平台固定在机架上侧面上，料盒平台的上侧面上设置有两个与合格品盒和不合格品盒匹配的凹槽，合格品盒和不合格品盒分别卡设在料盒平台的两个凹槽内。3.根据权利要求2所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述凹槽的边沿设置有向凹槽内部倾斜的导向面。4.根据权利要求1所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述四轴机械手包含底座、第一旋转马达、摆臂、壳体、第二旋转马达、第三旋转马达和升降杆，底座固定在机架上侧，第一旋转马达固定在底座上侧，摆臂水平设置并且摆臂的一端设置在第一旋转马达上由第一旋转马达驱动，摆臂的另一端设置在第二旋转马达上由第二旋转马达驱动，第二旋转马达和升降杆设置在壳体内，第三旋转马达固定在升降杆下端由升降杆驱动沿竖直方向升降，芯片吸嘴设置在第三旋转马达上由第三旋转马达驱动并且吸嘴处设置有压力传感器。5.根据权利要求4所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述第二芯片吸取定位相机固定在壳体上。6.根据权利要求1所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述柔性振动盘包含料斗和震动盘体，料斗倾斜设置并且料斗下端下料口位于震动盘体上侧，料斗的下端下料口设置有自动阀板。7.根据权利要求6所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述震动盘体的两侧上方分别设置有一个光源，光源固定在光源支架上，光源支架...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱冬成，
申请(专利权)人：南通斯康泰智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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