【技术实现步骤摘要】
一种IC成品小批量测试设备及其测试方法
[0001]本专利技术涉及一种测试设备及其测试方法，特别是一种IC成品小批量测试设备及其测试方法，属于半导体测试设备领域。
技术介绍
[0002]在半导体后道封装测试工序生产过程中，有许多不同品种的小批量产品需要测试。目前通常的做法主要有人工测试和产品线针对性改造两种方式。人工测试是依靠人工抓取需要测试的芯片然后将待测芯片放置到测试基座内进行测试，由于IC芯片部分型号芯片体积小，长度小于5mm，且厚度很薄，人工在进行抓取的时候十分不便，导致测试的效率十分低下。另外，由于人手上很容易携带静电，操作之前还需要进行静电消除，如果静电并未消除则抓取芯片容易直接导致芯片被静电击穿失效，造成经济损失。而且人手在抓取过程中，操作不当很容易引起芯片的引脚变形等问题，造成测试失败。产品线改造方式则是需要对原先的产品线进行改造，直接将测试设备整合在原有产品生产线上，现场改造困难大且成本较高，一条生产线就需要改造增加一套测试设备，大大增加了总体的生产成本。
技术实现思路
[0003]本专利技...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：包含机架以及设置在机架上的柔性振动盘、第一芯片吸取定位相机、四轴机械手、芯片安装定位相机、芯片测试座和第二芯片吸取定位相机，第一芯片吸取定位相机设置在柔性振动盘上方采集柔性振动盘上的芯片正反、位置和方向信息，芯片安装定位相机设置在柔性振动盘和芯片测试座之间用于采集吸取的芯片的安装位置和方向，四轴机械手端部设置有芯片吸盘用于吸取芯片，第二芯片吸取定位相机设置在四轴机械手端部用于精准获取被吸取芯片的位置和方向。2.根据权利要求1所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：还包含料盒，料盒包含料盒平台、合格品盒和不合格品盒，料盒平台固定在机架上侧面上，料盒平台的上侧面上设置有两个与合格品盒和不合格品盒匹配的凹槽，合格品盒和不合格品盒分别卡设在料盒平台的两个凹槽内。3.根据权利要求2所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述凹槽的边沿设置有向凹槽内部倾斜的导向面。4.根据权利要求1所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述四轴机械手包含底座、第一旋转马达、摆臂、壳体、第二旋转马达、第三旋转马达和升降杆，底座固定在机架上侧，第一旋转马达固定在底座上侧，摆臂水平设置并且摆臂的一端设置在第一旋转马达上由第一旋转马达驱动，摆臂的另一端设置在第二旋转马达上由第二旋转马达驱动，第二旋转马达和升降杆设置在壳体内，第三旋转马达固定在升降杆下端由升降杆驱动沿竖直方向升降，芯片吸嘴设置在第三旋转马达上由第三旋转马达驱动并且吸嘴处设置有压力传感器。5.根据权利要求4所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述第二芯片吸取定位相机固定在壳体上。6.根据权利要求1所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述柔性振动盘包含料斗和震动盘体，料斗倾斜设置并且料斗下端下料口位于震动盘体上侧，料斗的下端下料口设置有自动阀板。7.根据权利要求6所述的一种IC成品小批量测试设备，其特征在于：所述震动盘体的两侧上方分别设置有一个光源，光源固定在光源支架上，光源支架...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱冬成，
申请(专利权)人：南通斯康泰智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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