一种电解电容老化测试方法技术

本发明专利技术公开了一种电解电容老化测试方法，包含以下步骤：A、制作进料老化插板；将电容置入老化插板上；B、机械手或人工将插板导入老化烘箱；C、老化处理；D、将老化好的插板用机械手或人工置入测试机上，进入未充电测试；E、将插板上的电容下架至测试机进料；F、容量损耗测试；G、置入测试充电排架进行充电；H、进入漏电流测试；I叠加交流测试，过电压，过电流测试以及电压波动图形记录和评定等其他测试。本发明专利技术能够增加电容检测的效率，并且降低测试不准的概率，同时还有检测过程记录保存、控制、判定功能。能。能。

【技术实现步骤摘要】
一种电解电容老化测试方法


[0001]本专利技术涉及电子元件测试
，具体是一种电解电容老化测试方法。

技术介绍

[0002]现有的电解电容全自动老化测试机，老化的缺点是由于老化时间长，在一体机上，造成设备成本、维修、耗电、效率浪费等问题，手工老化也存在人工效率差，老化返工率高等问题。
[0003]现有的电解电容全自动测试机为了增加测试速度和适合单个工位移动，一般采用间隙性充电，并且存在测试工位由于快速移动而引起测试时间过短，无法判定存在内爆及其他隐患的产品，并且间隙性充电的漏电流测试也是同国家标准测试方法存在区别。
[0004]传统的老化机存在维修困难，测试效率低，测试不标准，更换不同脚型测试产品耗时多，无法测试内爆等隐患产品等缺点。
[0005]传统的老化测试方法及相关设备老化部分：1、进料插板(将电容置入老化排架上)
→
2、进入隧道或等烘箱中老化
→
出料(接测试机)，进料同烘箱是一体的，排架在烘箱内是移动的。
[0006]传统的全自动测试机的测试方法：进料
→
将电容置入夹具上，夹具开始移动
→
容量损耗测试
→
未充电测试
→
充电
→
漏电1测试
→
漏电2测试，如图2的类似移动工位，圆圈可以代表工位或已进入工位的电容，箭头
→
代表整体链条移动方向，工位一般有120-200个之间，图2是简化示意图。
[0007]工位由链条带动移动，工位固定在链条上。

技术实现思路

[0008]本专利技术的目的在于提供一种电解电容老化测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0009]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0010]一种电解电容老化测试方法，包含以下步骤：
[0011]A、制作进料老化插板；将电容置入老化插板上；
[0012]B、机械手或人工将插板导入老化烘箱；
[0013]C、老化处理；
[0014]D、将老化好的插板用机械手或人工置入测试机上，进入未充电测试；
[0015]E、将插板上的电容下架至测试机进料；
[0016]F、容量损耗测试；
[0017]G、置入测试充电排架进行充电；
[0018]H、进入漏电流测试。
[0019]I，叠加交流测试，过电压过电流测试以及电压波动图形记录和判定；
[0020]作为本专利技术的进一步技术方案：所述自助进料插板为条形插板，条形插板上可以
设计多个不同类型的电容插槽，可以在同一板上，也可以不在一个板上。
[0021]作为本专利技术的进一步技术方案：所述老化过程中，每个插板单元均有电压电流采集。
[0022]作为本专利技术的进一步技术方案：所述步骤C包括三步，常温老化、高温老化和二次常温老化。
[0023]作为本专利技术的进一步技术方案：采集的电压电流可以通过上微机下微机储存判定，并且可以控制并自动调整电解电容的充电电压电流；
[0024]作为本专利技术的进一步技术方案：叠加交流测试、过电压过电流测试及电压波动图形记录和判定，也是一支排架上的电容同时测试。
[0025]作为本专利技术的进一步技术方案：所述步骤G中的充电也可以采用倍压线路充电模式。
[0026]作为本专利技术的进一步技术方案：只要更换测试机上的排架，选择不同的排架，就可以测试多种不同引出角型的电容。
[0027]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术能够增加电容老化检测的效率，并且降低测试不准的概率，剔除隐性不良品，同时还有检测过程记录保存、控制、判定功能。
附图说明
[0028]图1为老化进料插板示意图。
[0029]图2为现有钮角；韩片电容自动测试机的简化移动原理图。
[0030]图3为电压测试原理图。
[0031]图4为电容在设备上的第一种实施例移动原理图。
[0032]图5为电容在设备上的第二种实施例移动原理图。
[0033]图1中：1-插板、2-电容。
具体实施方式
[0034]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]请参阅图1，实施例1：一种电解电容老化测试方法，包含以下步骤：
[0036]首先制作一种多工位的电容插板，平面如图1所示，可以根据不同脚型的电容设计不同的插口和接触方法，工位数量≥3，本案以10个为例。
[0037]同全自动老化测试机前道进料一样，设计自动进料插板机。
[0038]设计带每支插板固定、充电、检测功能的智能老化烘箱。同全自动老化机不同在于电容在烘箱内是静止的。但是老化排架是后工序测试机上一体设计的，包过排架正负电极设计，这与手工老化最大的区别之一。
[0039]设计自动下架检测的全自动测试机，与传统的电容测试机不同，充电是一排排充电，漏电流是一排一排测试。充电插板可以同电容老化插板，电容在设备上的移动图可以按图4示范例。
[0040]与传统的全自动老化测试机不同，老化部分进料插板与老化烘箱是互相完全独立的，并且可能不是1:1的关系，举例：有可能一台进料机配三台老化烘箱。
[0041]与传统的全自动老化测试机不同，老化部分老化烘箱中，老化排架是固定不动的，与手工老化不同，排架是可以设计设备自动上料和自动下料排料的。
[0042]与传统的全自动老化测试机不同，老化时所有排架的电压电流是有检测过程记录保存、控制、判定。
[0043]与传统的全自动老化测试机不同，烘箱与测试机是互相完全独立的，但是老化排架下架机构与测试机为一体的。
[0044]老化排架也可以转换成测试机的充电排架。
[0045]本专利技术的全自动测试机的测试方法：如图4
[0046]进料
→
容量损耗测试
→
进入充电排架
→
充电
→
一支排架电容多次漏电测试
→
其他测试
→
下架
[0047]排架上电容数n≥3，本案代表例为10，充电区域允许排架数m≥2，本案图4代表例设定为4支板。
[0048]②
整支充电排架只能整体移动。
[0049]②
单支充电排架可以简单地整体更换。可以适合不同引出角形电容测试
[0050]③
单支充电排架的电极一般在充电排架的两端。
[0051]传统的全自动测试机的速度取决于每个电容的充电时间和充电速度、测试速度，移动速度太快，会引起充电不良，而改良后的全自动测试机只取决于进料和出料的时间，由于整排充电所以有足够的时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电解电容老化测试方法，其特征在于，包含以下步骤：A、制作进料老化插板；将电容置入老化插板上；B、机械手或人工将插板导入老化烘箱；C、老化处理；D、将老化好的插板用机械手或人工置入测试机上，进入未充电测试；E、将插板上的电容下架至测试机进料；F、容量损耗测试；G、置入测试充电排架进行充电；H、进入漏电流测试；I、叠加交流测试，过电压过电流测试以及电压波动图形记录和判定。2.根据权利要求1所述的一种电解电容老化测试方法，其特征在于，所述自助进料插板为条形插板，条形插板上设有多个不同类型的电容插槽。3.根据权利要求1所述的一种电解电容老化测试方法，其特征在于，所述老化过程中，每个插板单元均有电压电流采集。4.根据权利要求1所述的一种电解电容...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱键雄，
申请(专利权)人：深圳市必事达电子有限公司，
类型：发明
国别省市：