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本发明公开了一种IC成品小批量测试设备及其测试方法，包含机架以及设置在机架上的柔性振动盘、第一芯片吸取定位相机、四轴机械手、芯片安装定位相机、芯片测试座和第二芯片吸取定位相机，第一芯片吸取定位相机设置在柔性振动盘上方采集柔性振动盘上的芯片正...
该专利属于南通斯康泰智能装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南通斯康泰智能装备有限公司授权不得商用。

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