用于确定最优激光功率的方法和装置制造方法及图纸

一种确定记录介质的最优激光功率的方法。该方法包括：检查记录介质上的测试区中的未使用区的一部分是否存在缺陷；以及在测试区的已使用区中执行最优激光功率操作，其中已使用区是用来测试记录介质的最优激光功率的无缺陷区。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种确定入射到记录介质上的激光束的最优功率的方法和装置。
技术介绍
多种存储盘如今可供使用。例如，盘类型如今包括数字多功能盘(DVD)、 蓝光盘(BD)和高密度DVD (HD-DVD)。信息能通过记录/再现装置被写入到和 读取自盘。此外，存储盘大体被分成只读盘和可记录盘。此外，记录/再现装置发出相对高能并改变可记录盘的记录层的材料特性的激 光束，由此信息或数据被记录在光盘上。另外，数据记录/再现装置使用不能够改 变记录层材料特性的相对低能的激光束从光盘再现信息或数据。换句话说，在记录模式下，记录/再现装置以相对高的功率驱动激光二极管 (LD)并在光盘上形成坑道，由此信息或数据被记录在光盘的坑道中。记录/再现 装置将相对低功率的光束发射至盘，并基于从盘反射的光量读取存储在盘上的信息 (即再现装置基于反射光确定盘上的数据是1还是0 二进制数据)。此外，每个盘可能需要不同的激光功率。因此，数据记录/再现装置在盘上搜 索最优激光功率的信息，并使用最优激光功率在盘上记录数据。搜索最优激光功率 的操作一般被称为功率校准或最优率控制(OPC)。此外，可记录盘包括用于OPC处理的测试区。数据记录/再现装置记录测试区 中的测试信号，再现记录的测试信号，并将再现的测试信号与预定基准值比较，由 此确定最优激光功率。然而，由于记录/再现装置的测试区缺陷和/或数据处理量问题，现有技术的记 录/再现装置在高效率地执行OPC处理方面存在困难。另外，当不正确地执行OPC 处理时，数据记录/再现装置无法以最优激光功率记录数据，因此数据不被记录在盘上。另外，即使数据被记录在盘上，数据记录/再现装置也无法准确地再现所记 录的数据
技术实现思路
因此，本专利技术的一个目的是提供一种从本质上规避由于现有技术的局限和缺 点造成的一个或多个问题的确定最优激光功率的方法和装置。本专利技术的另一目的是提供一种即使当盘的测试区存在缺陷也能成功地执行 OPC处理的装置和方法。为了实现根据本专利技术目的的这些目的和其它优点，如本文所体现和广泛说明 的那样，本专利技术一方面提供确定记录介质的最优激光功率的方法。该方法包括检 查记录介质上的测试区中的未使用区的一部分是否存在缺陷；并在测试区的已使用 区中执行最优激光功率操作，其中已使用区是用来测试记录介质的最优激光功率的 无缺陷区。另一方面，本专利技术提供一种确定记录介质的最优激光功率的装置。该装置包 括拾取单元，所述拾取单元被配置成在记录介质上记录数据并从记录介质读取数 据；以及控制器，所述控制器被配置成检査记录介质上的测试区中的未使用区的一 部分是否存在缺陷，并在测试区的已使用区中执行最优激光功率操作。此外，已使 用区是用来测试记录介质的最优激光功率的无缺陷区。在又一方面，本专利技术提供一种用来确定记录介质的最优激光功率的系统。该 系统包括检査记录介质上的测试区中的未使用区的一部分是否存在缺陷的手段； 以及在测试区的已使用区中进行最优激光功率操作的手段，其中已使用区是用来测 试记录介质的最优激光功率的无缺陷区。本专利技术的其它适用范围通过后面给出的详细说明将变得更为明显。然而，应 当理解这些详细说明和具体实例尽管示出了本专利技术的较佳实施例，但它们只是例示 的，因为本专利技术精神和范围内的各种改变和修正对本领域内技术人员而言通过详细 说明将变得更为明显。附图说明包括于此以提供对本专利技术的进一步理解，并被结合在本申请内且构成其一部 分的附图示出本专利技术的实施例，并与说明书一起用来解释本专利技术的原理。在附图中-图i是示出根据本专利技术一个实施例的数据记录/再现设备的方框图；以及图2是根据本专利技术一个实施例的包括测试区的可记录的记录介质的结构图； 图3是根据本专利技术一个实施例的记录在记录介质的管理区中的记录管理数据 的一个实例；图4是示出根据本专利技术一个实施例的使用记录管理数据和测试区的OPC处理 的概念图5是根据本专利技术一个实施例的在测试区中记录管理数据的概念图6是示出图5中所示的在测试区中记录管理数据的方法的流程图7是根据本专利技术另一实施例的在测试区中记录管理数据的概念图8是示出在图7所示测试区中记录管理数据的方法的流程图9是根据本专利技术又一实施例的在测试区中记录管理数据的概念图10示出图9所示的在测试区中记录管理数据的方法的流程图11是根据本专利技术另一实施例的在测试区中记录管理数据的概念图12示出图11所示的在测试区中记录管理数据的方法的流程图13是根据本专利技术又一实施例的在测试区中记录管理数据的概念图14是示出图13所示的在测试区中记录管理数据的方法的流程图15是根据本专利技术另一实施例的在测试区中记录管理数据的概念图16是示出图15所示的在测试区中记录管理数据的方法的流程图；以及图17是根据本专利技术另一实施例的在测试区中记录管理数据的概念图。具体实施例方式下面将详细参考本专利技术的较佳实施例，其具体例子示于附图中。不管在何处， 所有附图中相同的参考标号被用来表示相同或相似的部分。图1是示出根据本专利技术一个实施例的记录/再现数据至/自盘的装置的方框图。 此外，图l所示的记录/再现装置能够记录/再现数据至/自各种不同格式的光盘。另外，数据记录/再现装置也能记录/再现数据至/自特定光盘(例如DVD、 BD或 HD-DVD)或不在盘上记录数据地从光盘再现数据。另外，图1所示的数据记录/再现装置记录或再现数据至/自盘30，接收外部输 入信号，对接收的信号执行信号处理，并将信号处理结果发送给外部显示器(未示 出)，以使用户能在显示器上观看信号处理结果。例如，代表外部输入信号是关联于DMB (数字多媒体广播)的信号和关联于因 特网的信号等。具体地说，因特网指用户能轻易取得访问以使用户能使用数据记录8/再现装置下载特定因特网数据并使用所下载数据的通信网络。数据记录/再现装置 也可在盘上记录外部输入信号。如图1所示，数据记录/再现装置包括拾取单元11、伺服单元14、射频(R/F)单元21、信号处理器13、存储器15和微处理器(也被称为微型计算机)16。此外， 拾取单元ll读取记录在盘30上的原始数据和诸如再现/管理文件信息的管理信息。 伺服单元14根据来自微处理器的信号控制拾取单元11的操作。另外，R/F单元21 —旦接收到电信号则产生用于检测与激光束的聚光背离的 聚光误差信号，产生用于检测与激光束的轨道背离的轨道误差信号，滤波/归一化 电信号，并以基准电平切分经滤波/归一化的结果，以使R/F单元21输出数字RF 信号。信号处理器13从R/F单元21接收数字RF信号，将接收的RF信号恢复为想 要的再现信号值，或将要被记录的信号调制成另一种记录在盘上的信号，以使信号 处理器13发送已恢复或调制的结果。此外，存储器15存储多个用来记录/再现数 据至/自盘的信息。微处理器16控制拾取单元11、信号处理器13、伺服单元14、 存储器15和R/F单元21的整体操作。另外，拾取单元ll、伺服单元14、信号处理器13、存储器15、微处理器16 和R/F单元21此后也称为记录/再现单元。另外，为了再现或回放数据，记录/再 现单元根据控制器12的控制信号从盘30或存储单元19读取数据，并向解码器17 提供读取的数据。换句话说，记录/再现单元用作从盘30读取数据的再现单元(也 被称为播放机本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定记录介质的最优激光功率的方法，所述方法包括：　检查所述记录介质上的测试区中的未使用区的一部分是否存在缺陷；以及　在所述测试区的已使用区中执行最优激光功率操作，所述已使用区是曾被用来测试所述记录介质的最优激光功率的无缺陷区。

【技术特征摘要】
KR 2007-9-14 10-2007-00934751. 一种用于确定记录介质的最优激光功率的方法，所述方法包括检查所述记录介质上的测试区中的未使用区的一部分是否存在缺陷；以及在所述测试区的已使用区中执行最优激光功率操作，所述已使用区是曾被用来测试所述记录介质的最优激光功率的无缺陷区。2. 如权利要求l所述的方法，其特征在于，所述执行步骤包括-擦除所述测试区的已使用区的至少一部分；以及在所述测试区的已使用区的擦除部分中执行所述最优激光功率操作。3. 如权利要求l所述的方法，其特征在于，所述测试区的已使用区的所述部分包括ECC (纠错码)块。4. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述擦除步骤擦除所述测试区的 已使用区的所有部分。5. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括更新所述记录介质上的记录管理区以包括指示最近已在哪里执行最优激光功 率操作的信息以便于在已使用区的下一相邻区里执行下一次最优激光功率操作。6. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述测试区的已使用区的已擦 除部分中执行最优激光功率操作之后，所述方法还包括擦除曾被用来执行最优激光功率操作的部分。7. 如权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括更新所述记录介质上的记录管理区以包括指示要在已擦除部分处执行下一次 最优激光功率操作的信息。8. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括 跳过对包含指示最近已在哪里执行最优激光功率操作的信息的记录管理区的 更新处理。9. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括-更新所述记录介质上的记录管理区以包括指示所述未使用区的缺陷部分所在 位置的信息以便于在所述未使用区的下一相邻部分里执行下一次最优激光功率操 作。10. 如权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括更新所述记录介质上的记录管理区以包括指示要在已擦除部分的起始处执行 下一次最优激光功率操作的信息。11. 一种用于确定记录介质的最优激光功率的装置，所述装置包括 拾取单元，所述拾取单元被配置成在所述记录介质上记录数据，并从所述记录介质读取数据；以及控制器，所述控制器被配置成检查所述记录介质上的测试区中的未使用区的 一部分是否存在缺陷，并在所述测试区的己使用区中执行最优激光功率操作，其中，所述已使用区是曾被用来测试所述记录介质的最优激光功率的无缺陷区。12. 如权利要求ll所述的装置，其特征在于，所述控制器被配置成通过擦除所述测试区的已使用区的至少一部分、并在所述测试区的已使用区的已擦除部分中 执行最优激光功率操作，从而来执行最优激光功率操作。13. 如权利要求ll所述的装置，其特征在于，所述测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：金范镇，
申请(专利权)人：LG电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]