探测光头中聚焦误差的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:3074033 阅读:240 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发*[-4]明叙述了在光记录介质反射的返回光束的光路上放置一个棱镜,以探测光头聚焦误差的方法和装置。该棱镜在一个方向上将光束宽度压缩M倍,同时在所述方向上将与该光束聚焦误差相关的发散/会聚角*[4]增加M倍,从而可望将聚焦误差信号增强M+[2]倍、聚焦误差由一具有内外光敏区的分区光探测器探测。该光探测器由内外区光强差产生表示聚焦误差的电信号。光探测器最好以也能提供轨迹误差信号的方式分区。(*该技术在2010年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在光记录介质上读写数据的光头中聚焦误差的探测方法和装置,特别是改进的产生聚焦误差信号的装置,该聚焦误差信号用作伺服系统的输入,其动作可保证光束在表面聚焦。目前在光存储应用中所采用的散焦探测方法包括一个锐边,一个象散透镜或者一个临界角棱镜,这些技术需要对这些光学元件和对缝或分区光探测器做非常精细的校准。已公布的欧洲专利EP0164687提出了一种探测方法,其中从光盘反射的激光束通过一物镜对准一棱镜,该棱镜将光束宽度在一个方向压缩M倍后,并将一椭圆截面光束传输到一锐边型聚焦误差探测系统。根据公式(25),该应用据称可将聚焦误差信号增大M倍。1985年10月15日至17日在美国华盛顿召开的光数据存储专题会议的文摘中有一篇Yamamoto等人的文章(THCC2-1),标题为“光刻尺度的设计构想”文章提出了一个探测与聚焦误差有关的远场光斑尺寸变化的六元件光探测器。需要一种非常灵敏的聚焦误差探测方法,以相对较少的元件使聚焦误差信号明显增强并提供大的光束面积,使得只需在一个方向上对分区光探测器做不甚精确的校准。为了达到这个目的,该专利技术提供了一套通过设置在从光记录介质反射回来本文档来自技高网...

【技术保护点】
适用于在光学记录介质上读和/或写数据光头中的聚焦误差探测装置,其特征在于:产生对应于聚焦误差的电信号的光探测器,和置于经所述介质反射的返回光束光路中的棱镜,用以将光束截面在一个方向上压缩M倍,同时在所述方向上将与所述光束聚焦误差相关 的发散/会聚角增加M倍,因而把聚焦误差信号增强M↑[2]倍。

【技术特征摘要】
US 1989-5-26 357,5661.适用于在光学记录介质上读和/或写数据光头中的聚焦误差探测装置,其特征在于产生对应于聚焦误差的电信号的光探测器,和置于经所述介质反射的返回光束光路中的棱镜,用以将光束截面在一个方向上压缩M倍,同时在所述方向上将与所述光束聚焦误差相关的发散/会聚角增加M倍,因而把聚焦误差信号增强M2倍。2.权利要求1中的装置,其特征在于所述光探测器包含内、外光敏区,并根据所述内、外光敏区光强差产生电信号。3.权利要求2中的装置,其特征在于一个内区处于二个外光敏区之间,使得当在内区探测到的光强等于在二个外区探测到的光强之和时,所产生的聚焦误差信号为零。4.权利要求2中的装置,其特征在于光探测器具有一个条形内光敏区,它处在二个外光敏区之间,而所述各区在垂直于条形的方向上分割成三个上光敏区和三个下光敏区,由此另一个表示轨迹误差的电信号可由所述上、下区光强之差产生。5.权利要求1中的装置,其特征为提供初始平行光束的装置,和一聚焦透镜将所述初始光束对准在介质上,使得反射光束当所述透镜聚焦在介质上时与初始光束重合。6.权利要求5中的装置,其特征为包括伺服装置在内的各装置,能响应返回光束相对于初始光束的发射或会聚所产生的表示聚焦误差的聚焦误差信号,用于调整透镜和介质的相对位置以消除聚焦误差。7.一个用于包含大量轨迹以存储数据的光盘的光头,其特征在于提供平行光束的装置,包含起偏分束器并能使光通过折射成为圆形截面的棱镜装置和包含1/4波片、光束弯头和透镜用以把圆截面光束聚焦在选定轨迹上的装置。所述棱镜装置放在由光盘反射的返回光束的光路中,用以在一个方向上将光束宽度压缩M倍,并且同时在所述方向上将与所述光束聚焦误差相联系的发散/会聚角增加M倍,因而将表示聚焦误差的电信号增强M2倍。8.一个用于包含大量轨迹以存储数据的光盘的光头,其特征在于提供平行光束的装置。一个1/4波片。包含一个把通过1/4波片的光束截面变为圆形的表面,把圆形截面光束内部全反射的第二个表面和做为反射面的第三个表面的棱镜装置。将所述第三表面反射的光束聚焦在光盘上的透镜装置。产生一个相应于所述光束聚焦误差的信号的光探测器。所述棱镜装置放置在由光盘反射的返回光束的光路上,用以...

【专利技术属性】
技术研发人员:安东尼乔治杜威威尔弗雷德林思丹尼尔鲁加尔
申请(专利权)人:国际商业机器公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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