跟踪误差信号检测装置和再生信号检测装置制造方法及图纸

一种跟踪误差信号检测装置，通过对一个具有内侧和外侧分区板的８分区光电探测器的改进，改善了因增益特性和／或凹槽间深度差异而造成的偏移，各分区板的径向宽度从光电探测器的中心沿±切向不同，因而能够对窄道高密度记录载体进行精确的跟踪控制。以及一种再生信号检测装置，在窄道高密度记录载体的信息再生期间，能够校正因光电探测器内侧和外侧分区板检测信号的相位特性差异造成的信号失真，从而降低串音噪声。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种跟踪误差信号检测装置和一种再生信号检测装置，更具体地说涉及一种用于提高检测跟踪误差信号精确性的跟踪误差信号检测装置，以及一种用于检测串音噪声被极大地降低了的再生信号的再生信号检测装置。
技术介绍
通过接收一光学拾取装置的光源所发射并被一光盘所反射的光而检测跟踪误差的传统的方法包括一种通过差分相位检测法(DPD)检测跟踪误差信号(TES)的方法。 参见图1，照射到只读存储器(ROM)型光盘上的光被反射，并被记录标志如凹槽(P)衍射成第0级最大值和第±1级最大值。当通过光学拾波器被传播回去之后，光电探测器1上接收到的光实际上包括在径向被第±1级最大值重叠的第0级最大值。于是，对于一种具有窄道的高密度光盘，如一种被称作HD-DVD的第二代数字化通用光盘(DVD)，这时，第0级最大值和第±1级最大值是重叠的，而第+1级最大值和第-1级最大值彼此互不重叠。 第0级最大值与第+1级最大值相重叠的部分和第0级最大值与第一1级最大值相重叠的部分的相位信号与仅有第0级最大值部分的相位信号具有不同的特性。因此，对于具有窄道的高密度光盘，如果使用一种常用的DPD法(在该方法中对角分区板A/C和B/D的检测信号被减去)来检测跟踪误差信号时，由于在邻道间存在串音而在跟踪误差信号中产生很大的噪声。 为了检测邻道间因存在串音噪声而被降低的跟踪误差信号，人们已经提出一种方法，该方法采用一个8分区光电探测器20，如图2所示。 该8分区光电探测器20的每一行被分成4部分，各部分相应于盘的径向，每一列被分成2部分，各部分相应于盘的切线方向。这样，它的各个分区便被设置在一个2×4的阵列中。这时，各2-分区板A1/A2、B1/B2、C1/C2和D1/D2分别相应于图1所示的光电探测器20的各分区板A，B，C和D，分区板A2、B2、C2和D2分别位于A1、B1、C1和D1的内侧。 通过按下述方式检测光电探测器20的8个分区检测信号，获得跟踪误差信号。 参见图3，位于对角线方向的外侧分区板A1和C1的检测信号a1和c1的和信号(a1+c1)，以及将位于内侧分区板A2和C2的检测信号a2和c2的和信号(a2+c2)乘以一预定的放大系数k1放大而生成一信号，将这两信号相加，得到的和信号[a1+c1+k1(a2+c2)]被输出到放大器21，并以一预定的放大系数k2被放大。同样地，位于另一对角线方向的外侧分区板B1和D1的检测信号b1和d1的和信号(b1+d1)与将位于内侧分区板B2和D2的检测信号b2和d2的和信号(b2+d2)乘以一预定的放大系数k放大而生成的信号相加。之后，放大器21输出的信号[k2(a1+c1+k1(a2+c2))]以及对角分区板B1、B2、D1和D2输出的运算信号[b1+d1+k(b2+d2)]，被传送到一相位比较器25进行相位比较，然后，生成一跟踪误差信号TES′。 这里，假如k＝k1＝0而k2＝1，则传送到相位比较器25的信号是a1+c1和b1+d1，这时出现这样一种情况，即通过对角线方向设置的外侧分区板的检测信号的和信号得到一相位差。 假如k≠0且k1≠0，则传送到相位比较器25的信号是a2+c2和b2+d2，这时出现这样一种情况，即通过对角线方向设置的内侧分区板的检测信号的和信号而得到相位差。 因为相位差是这样得到的通过有选择性地对内侧分区板A2、B2、C2和D2的检测信号乘以一预定的放大系数而放大，之后，将放大信号和外侧分区板A1、B1、C1和D1的检测信号相加，所以按照上述的跟踪误差信号检测装置能够产生降低了串音噪声的跟踪误差信号。 虽然，传统的跟踪误差信号检测装置在一定程度上降低了串音噪声，但是，当应用于具有窄道且切向相位特性含糊的高密度盘时，其跟踪误差信号的增益是很低的，简而言之，其精确性是很差的。 位于记录道切线方向不同位置的分区板接收到的光束，在一记录标志如凹槽的起始区域和终止区域具有不同的相位特性。假如对角相邻分区板的检测信号象传统的跟踪误差信号检测装置那样被相加的话，则切向相位特性被偏移，因而其跟踪误差信号增益很低，也就是说，精确性很差。 同样，在传统的跟踪误差信号检测装置中，由于使用的是对角相邻分区板的检测信号的和信号，因为凹槽间的深度是各不相同的，和信号之间的相位差是偏移的。因此，假如移动物镜(未示出)，则跟踪误差信号会产生一较大的偏移量。
技术实现思路
有鉴于此，提出了本专利技术。本专利技术的一个专利技术目的是提供一种跟踪误差信号检测装置，通过采用一分区结构改进了的8分区光电探测器，以此来改善因记录道凹槽的深度不同而造成的增益特性改变和/或偏移；以及提供一种降低了串音噪声的再生信号检测装置。 为了达到上述目的，本专利技术的一种跟踪误差信号检测装置包括一个用于接收记录载体反射光/衍射光的光电探测器，还包括一个电路单元，用以对光电探测器的检测信号进行运算以生成一跟踪误差信号。该装置的特征在于，上述光电探测器包括按逆时针方向排列的四个光接收区，其分界线实际上平行于记录载体的径向和切向，四个光接收区的每一区又被一分为二以形成一内侧分区板和一外侧分区板，从光电探测器的中心沿±切向，各自的径向宽度不同，因而，按一个2×4矩阵方式形成了8个内侧和外侧分区板，分区板的列和行的方向分别与记录载体的径向和切向一致。电路单元比较位于相同行的光接收区的相位，并从一相位差信号生成一跟踪误差信号，所述电路单元包括相位比较器，用于将多个输入信号的相位进行比较，并且输出信号；放大器，用于将输入信号进行放大，并且输出所放大的信号。 另一方面，本专利技术提供了一种一种跟踪误差信号检测装置，包括一个光电探测器，用于接收从一记录载体反射/衍射的光，还包括一电路单元，用于对所述光电探测器的检测信号进行运算以产生一跟踪误差信号，其特征在于所述光电探测器包括四个按逆时针方向排列的光接收区，光接收区的分界线实际上平行于记录载体的径向和切向，四个光接收区的每一区又被一分为二而形成一个内侧分区板和一个外侧分区板，其各自的径向宽度从光电探测器的中心沿着±切向各不相同，因而，8个内侧和外侧分区板按2×4矩阵方式排布，所述分区板行和列的方向与记录载体的径向和切向一致；而且，所述电路单元，用于将位于一对角线方向的内侧和/或外侧分区板的检测信号中的和信号至少之一乘以一预定的放大系数进行放大，并将该放大信号与位于另一对角线方向的内侧和/或外侧分区板的检测信号中的和信号至少之一进行相位比较，并根据相位差信号输出一跟踪误差信号，所述电路单元包括相位比较器，用于将多个输入信号的相位进行比较，并且输出信号；放大器，用于将输入信号进行放大，并且输出所放大的信号。 最好内侧分区板的宽度在光电探测器的中心相对较窄，而沿±切线方向相对较宽。 例如，将内侧光接收区与外侧分区板分开的分界线最好是曲线，每一内侧分区板的最大宽度最好大于接收到的第0级衍射光的半径。 同样，为了实现本专利技术的上述专利技术目的，再生信号检测装置可包括一个用于接收记录载体反射光/衍射光的光电探测器，以及一个用于对光电探测器的探测信号进行运算以生成一再生信号的电路单元，该光电探测器包括按逆时针方向排列的四个光接收区，其分界线实际上平行于记录载体的径向和切向，四个光接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种跟踪误差信号检测装置，包括一个光电探测器，用于接收从一记录载体反射／衍射的光，还包括一电路单元，用于对所述光电探测器的检测信号进行运算以产生一跟踪误差信号，其特征在于：所述光电探测器包括四个按逆时针方向排列的光接收区，光接收区的分界线实际上平行于记录载体的径向和切向，四个光接收区的每一区又被一分为二而形成一个内侧分区板和一个外侧分区板，其各自的径向宽度从光电探测器的中心沿着±切向各不相同，因而，８个内侧和外侧分区板按２×４矩阵方式排布，所述分区板行和列的方向与记录载体的径向和切向一致，所述电路单元对位于相同行的光接收区的相位进行比较，并根据相位差信号产生一跟踪误差信号。

【技术特征摘要】
KR 1999-10-30 47750/991.一种跟踪误差信号检测装置，包括一个光电探测器，用于接收从一记录载体反射/衍射的光，还包括一电路单元，用于对所述光电探测器的检测信号进行运算以产生一跟踪误差信号，其特征在于所述光电探测器包括四个按逆时针方向排列的光接收区，光接收区的分界线实际上平行于记录载体的径向和切向，四个光接收区的每一区又被一分为二而形成一个内侧分区板和一个外侧分区板，其各自的径向宽度从光电探测器的中心沿着±切向各不相同，因而，8个内侧和外侧分区板按2×4矩阵方式排布，所述分区板行和列的方向与记录载体的径向和切向一致，所述电路单元，用于对位于相同行的光接收区的相位进行比较，并根据相位差信号产生一跟踪误差信号，所述电路单元包括至少一个加法器，用于对多个输入信号进行相加，并且输出和信号；多个相位比较器，用于将多个输入信号的相位进行比较，并且输出相位差信号。2.根据权利要求1所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述相位比较器包括第一相位比较器，用于对位于一行的一对外侧分区板的检测信号进行相位比较，并输出一相位差信号；第二相位比较器，用于对位于另一行的一对外侧分区板的检测信号进行相位比较，并输出一相位差信号，以及所述加法器包括加法器，用于将第一和第二相位比较器输出的相位差信号相加并输出所述跟踪误差信号。3.根据权利要求1所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述相位比较器包括第一相位比较器，用于对位于一行的一对内侧分区板的检测信号进行相位比较，并输出一相位差信号；第二相位比较器，用于对位于另一行的一对内侧分区板的检测信号进行相位比较，并输出一相位差信号，以及所述加法器包括加法器，用于将第一和第二相位比较器输出的相位差信号相加并输出所述跟踪误差信号。4.根据权利要求1所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述相位比较器包括第一和第二相位比较器，用于分别对位于一行的一对内侧和一对外侧分区板的检测信号进行相位比较，并输出一相位差信号；第三和第四相位比较器，用于分别对位于另一行的一对内侧和一对外侧分区板的检测信号进行相位比较，并输出一相位差信号，以及所述加法器包括第一加法器，用于将第一和第三相位比较器所输出的相位差信号相加并产生一基于外侧分区板检测信号的第一跟踪误差信号；第二加法器，用于将第二和第四相位比较器所输出的相位差信号相加并产生一基于内侧分区板检测信号的第二跟踪误差信号，以及所述电路单元还包括运算放大器，用于将第一和第二加法器输出的第一和第二跟踪误差信号相加，并输出所述跟踪误差信号。5.根据权利要求4所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述运算放大器将从第一和第二加法器输出的第一和第二跟踪误差信号至少其中之一乘以一预定的放大系数进行放大以输出所述跟踪误差信号。6.根据权利要求1所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述电路单元还包括第一运算放大器，用于将位于一行的一个内侧分区板的检测信号乘以一预定的放大系数进行放大，并将该放大信号和同行与该内侧分区板相邻的外侧分区板的检测信号进行相加；第二运算放大器，用于将位于一行的另一个内侧分区板的检测信号乘以一预定的放大系数进行放大，并将该放大信号和同行与该内侧分区板相邻的外侧分区板的检测信号进行相加；第三运算放大器，用于将位于另一行的一个内侧分区板的检测信号乘以一预定的放大系数进行放大，并将该放大信号和同行与该内侧分区板相邻的外侧分区板的检测信号进行相加；第四运算放大器，用于将位于另一行的另一个内侧分区板的检测信号乘以一预定的放大系数进行放大，并将该放大信号和同行与该内侧分区板相邻的外侧分区板的检测信号进行相加，以及所述相位比较器包括第一相位比较器，用于将从第一和第二运算放大器输出的和信号进行相位比较，并输出一相位差信号；第二相位比较器，用于将从第三和第四运算放大器输出的和信号进行相位比较，并输出一相位差信号，以及所述加法器包括加法器，用于将第一和第二相位比较器所输出的相位差信号相加并输出所述跟踪误差信号。7.根据权利要求1至6任一项所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述的内侧分区板这样设置在所述光电探测器的中心其宽度相对较窄，而沿±切向相对较宽。8.根据权利要求7所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述的将内侧分区板与外侧分区板分开的分界线为曲线。9.根据权利要求8所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述的每一内侧分区板的最大宽度大于所接收到的第0级衍射光的半径。10.根据权利要求7所述的跟踪误差信号检测装置，其特征在于，所述的每一内侧分区板的宽度，从所述光电探测器的中心向外沿±切线...

【专利技术属性】
技术研发人员：马炳寅，朴仁植，徐仲彦，郑钟三，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]