磁盘装置的检查方法和装置制造方法及图纸

一种磁盘装置的控制装置、方法、记录媒体及检查方法和装置，其特征在于，用噪声测定部分（１１０）测定叠加在位置检测部分（１０３）检测到位置上的噪声大小，用增益确定部（１１１）确定对应所测定噪声大小的推定位置增益。推定器（１０６）通过将逻辑算出的模型位置和将检测位置与模型位置的差与推定位置增益相乘的结果相加，高精度算出推定位置。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及磁盘装置，具体而言，本专利技术涉及磁盘装置的检查方法和装置。
技术介绍
在用作外部存储装置的磁盘装置中，采用在记录媒体上写入伺服信息的方法控制磁头位置。该方法的一种是扇区伺服方法。该方法根据设置在磁道数据区起始部的伺服扇区的位置信息使磁头寻迹任意磁道。伺服扇区的基本结构，由检测伺服扇区用的同步部分、写有磁道的磁道号的磁道号部分、和写有寻迹用脉冲串的脉冲串部分构成。磁头的寻迹利用磁头检测脉冲串信号来实现。因而，寻迹精度取决于脉冲串信号的检测精度。也即，磁头、磁记录媒体产生的磁噪声给寻迹精度带来恶劣影响。因此，分离叠加在脉冲串信号上的噪声以获得正确的寻迹位置信息将成为课题。
技术实现思路
本专利技术的目的着眼于解决上述课题。本专利技术磁盘装置的检查装置，把磁头位置控制用脉冲串信号的振幅值相加，算出相加后振幅值的平均值和分散值或标准偏差值，利用该分散值或标准偏差值检查磁盘装置。本专利技术磁盘装置的检查方法，包含把磁头位置控制用脉冲串信号的振幅值相加的步骤，和算出相加后振幅值的平均值和分散值或标准偏差值的步骤；并利用算出的分散值或标准偏差值检查磁盘装置。附图说明图1为本专利技术实施形态1中磁盘装置的基本框图。图2为本专利技术实施形态1中推定器的基本框图。图3为本专利技术实施形态2中盘片装置的控制装置的基本框图。图4A-4C为本专利技术伺服扇区的格式说明图。图5为磁头相对伺服扇区部分的位置和与再现的再现脉冲串信号关系的说明图。图6为本专利技术实施形态1中噪声测定及噪声修正的流程图。图7为本专利技术实施形态2中盘片装置的控制信号算出的基本流程图。图8为本专利技术实施形态2中盘片装置的状态推定的流程图。图9为本专利技术实施形态3中磁盘装置的检查工序的流程图。具体实施例方式(实施形态1)参照图1、图2、图4A-4C说明本专利技术实施形态1。图1中，磁盘101由主轴电动机(未图示)使其旋转。如图4A所示，在磁盘101的记录媒体部分400存在许多同心圆状的磁道。各磁道附有磁道号。具体而言，最外周磁道401的号为“0”，最大的号附给最内周磁道402。如图4B所示，各磁道中数据扇区(DATA)与伺服扇区(SW)交替构成。如图4C所示，伺服扇区由以下部分构成。(1)记录同步信号的同步部分401(2)记录磁道号的磁道号部分402(3)记录伺服扇区号的楔形(wedge)号部分403(4)检测磁头90的磁道宽度方向位置用的脉冲串部分404、405、406、407在各脉冲串部分404-407记录着频率不同的A脉冲串信号，B脉冲串信号，C脉冲串信号，和D脉冲串信号。位置检测器103由以下电路(未图示)构成。(1)对磁头90来的再现信号放大的磁头放大器(2)将放大后的再现信号控制在一定振幅的AGC放大器(3)将AGC放大器的输出信号变换为数字信号的2值化电路(4)根据2值化电路的输出信号检测伺服扇区的伺服扇区检测电路 (5)产生定时检测伺服扇区中磁道号部分402、脉冲串部分404-407的检测定时生成电路(6)利用2值化后的信号检测磁道号和楔形号的磁道信息检测电路(7)检测放大后A、B、C、D脉冲串信号的振幅并将检测到的信号VA、VB、VC、VD经A/D变换后输出的位置信号生成电路。而且，该位置信号生成电路利用变换为数字信号的脉冲串信号还输出磁头的磁道宽度方向的位置信息(POS)。噪声测定部分110在控制使得例如VA和VB的电平相等状态下，测定VA和VB，并将该测定值相加。对每个伺服扇区都进行如此处理。然后进行统计处理，算出相加后的平均值，和作为噪声大小的分散值。增益确定部分111确定噪声测定部分110算出的噪声分散值对应的推定位置增益(LC1)117，推定速度增益(LC2)118，推定偏差增益(LC3)。下面说明图2所示推定器106。减法器210从磁头位置(POS)减去模型(model)位置(XEP1)，算出推定误差(ESTERR)220。乘法器227将推定位置增益(LC1)乘以推定误差(ESTERR)。加法器237通过将该乘法结果与模型位置(XEP1)相加，算出推定位置(XE1)。乘法器228将推定位置增益(LC2)乘以推定误差(ESTERR)。加法器238通过将该乘法结果与模型速度(XEP2)相加，算出推定速度(XE2)。乘法器229将推定偏差增益(LC3)乘以推定误差(ESTERR)。加法器239通过将该乘法结果与模型偏差(XEP3)相加，算出推定偏差(XE3)。以下，对模型位置(XEP1)、模型速度(XEP2)、模型偏差(XEP3)及推定位置增益(LC1)、推定速度增益(LC2)、推定偏差增益(LC3)的计算进行具体说明。首先，说明求推定位置和推定速度的情况。利用下式(1)求模型位置XEP1、模型速度XEP2。d(XEP)dt＝F*XEP+G*U (1)这里，XEP=XEP1XEP2,]]>F=0100,]]>G=0Kp,]]>Kp为常数在采样系统中，如果用离散时间系统的方程式表示式(1)，则构成式(2)。XEP(k+1)＝PHI*XEP(k)+GAMMA*U(K) (2)用式(2)中的PHI、GAMMA，从下面式(3)可求得推定位置增益(LC1)和推定速度增益(LC2)。 这里，LC=LC1LC2]]>式(3)中，R是噪声测定部分110预测到的噪声分散值矩阵，Q是叠加在控制输入U上的噪声分散值矩阵。用上面求得的XEP1、XEP2、LC1及LC2和POS算出推定位置、推定速度。但是，如果用上述方法算出推定位置、推定速度，则因模型与实际的执行装置间产生的模型误差或干扰的影响，算出的值会产生偏差。下面说明考虑到该偏差的算法。说明求模型位置(XEP1)、模型速度(XEP2)、模型偏差(XEP3)的情况。推定位置、推定速度、推定偏差分别设定为XE1、XE2、XE3，则此时利用式(4)求得XEP1、XEP2、XEP3。d(XEP)dt＝F*XE+G*U (4)这里，XEP=XEP1XEP2XEP3,]]>F=01000Kp000,]]>G0Kp0,]]>Kp为常数XEXE1XE2XE3]]>在采样控制系统中，用离散时间系统的方程表示式(4)，则构成式(5)。XEP(k+1)＝PHI*XE(k)+GAMMA*U(k) (5)此时，将导出的PHI、GAMMA用于下式(6)中算出XEP1、XEP2、及XEP3。用下式(6)表示的算法算出推定位置XE1，模型位置XEP1，推定速度XE2，模型速度XEP2，推定偏差XE3，模型偏差XEP3。 推定偏差增益Lc3的初始值根据控制响应的速度确定。之后，根据测定的噪声大小设定在初始值的0.5倍至1.5倍的范围内。LC1、LC2用式(3)求得。下面，具体说明噪声测定部分110中的噪声测定。图5示出磁头相对伺服扇区的位置与此时再现的再现脉冲串信号间关系。如图5所示，脉冲串部分500、501、502、503相对于磁道520、521、522配置在图5所示位置中。磁道520、521、522的磁道宽度为TW。脉冲串部分500、501、502、503分别记录有A脉冲串信号、B脉冲串信号、C脉冲串信号、D脉冲串信号。磁头90根据磁道中磁道宽度方向位置再现脉冲串信号。磁头90再现的脉冲串本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁盘装置的检查装置，所述磁盘装置包含磁盘和执行装置，所述磁盘在圆周方向分割成多个数据区之间设有记录磁道号和多个脉冲串信号的伺服扇区，所述执行装置驱动磁头在所述磁盘上记录再现数据，其特征在于，所述检查装置把所述磁头位置控制用脉冲串 信号的振幅值相加，算出相加后振幅值的平均值和分散值或标准偏差值，利用该分散值或标准偏差值检查磁盘装置。

【技术特征摘要】
JP 2000-10-3 303355/001.一种磁盘装置的检查装置，所述磁盘装置包含磁盘和执行装置，所述磁盘在圆周方向分割成多个数据区之间设有记录磁道号和多个脉冲串信号的伺服扇区，所述执行装置驱动磁头在所述磁盘上记录再现数据，其特征在于，所述检查装置把所述磁头位置控制用脉冲串信号的振幅值相加，算出相加后振幅值的平均值和分散值或标准偏差值，利用该分散值或标准偏差值检查磁盘装置。2.如权利要求1所述的磁盘装置的检查装置，其特征在于，用磁头位置检...

【专利技术属性】
技术研发人员：高冈哲朗，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]