【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及盘缺陷管理，更具体地讲，涉及一种在其中形成临时缺陷管理信息区域和临时管理区域的盘，以及一种用于管理在这种盘中的缺陷的方法和设备。
技术介绍
执行缺陷管理以使得用户将在其中产生缺陷的用户数据区域的一部分的用户数据重写在盘的用户数据区域的新的部分中，从而补偿由缺陷导致的数据丢失。通常，使用线性替换或滑动替换(slipping replacement)方法来执行缺陷管理。在线性替换方法中，在其中产生缺陷的用户数据区域由没有缺陷的备用数据区域替换。在滑动替换方法中，具有缺陷的用户数据区域被滑动以使用没有缺陷的下一个用户数据区域。线性替换和滑动替换方法都仅仅可应用到数据可以被重复地记录其上并且可以使用随机访问方法来执行记录的盘，如DVD-RAM/RW。换言之，传统的线性替换和滑动替换方法不可以被应用到在其上记录仅仅被允许一次的一次写入(write-once)盘。通常，通过将数据记录在盘上并且确认数据是否可以被记录在盘上来检查盘中的缺陷的存在。然而，一旦数据被记录在一次写入盘上，则不可能在其中重写新的数据并管理缺陷。与此同时，在CD-R和DVD-R的开发以后，具有几十GB的记录容量的高密度一次写入盘已经被引入。由于这种类型的盘不贵并且允许实现快速记录操作的随机访问，所以其可以使用作为备份盘。然而，对一次写入盘不可以进行缺陷管理。因此，由于对一次写入盘的缺陷管理不可以被执行，所以当在备份操作期间检测到缺陷区域(即，其中产生缺陷的区域)时，备份操作被中止。通常，当系统不是被频繁地使用时，备份操作才被执行。因此，备份操作经常在当系统管理员不操作该系统时的夜...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种使用在记录和/或再现设备的盘，该盘包括缺陷管理区域，在盘的引入区域、引出区域、和外部区域中的至少一个中，并且其中可记录缺陷管理信息；数据区域，在其中记录数据；临时缺陷信息区域，在数据区域中，并且包括关于在数据区域中记录的数据的临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，在引入区域和引出区域中的至少一个中，并且被记录和/或再现设备使用以访问临时缺陷信息。2.如权利要求1所述的盘，其中，在记录操作中数据被记录在数据区域的相应部分中，并且每个部分包括用于相应记录操作的临时缺陷信息区域。3.如权利要求1所述的盘，其中，在临时缺陷信息区域中的临时缺陷信息包括关于在根据当前记录操作记录的数据中的缺陷的第一信息；和关于在根据先前记录操作记录数据中的缺陷的第二信息。4.一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括数据区域，该方法包括将关于在当前记录操作中记录的数据的缺陷信息和关于在先前记录操作中记录的数据的缺陷信息作为第一临时缺陷信息记录在数据区域中；和将第一临时缺陷信息和关于在下一个记录操作中记录的数据的缺陷信息作为第二临时缺陷信息记录在数据区域中。5.如权利要求4所述的方法，还包括在记录作为第一临时缺陷信息以后，将用于管理第一临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第一临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，和在记录作为第二临时缺陷信息以后，将用于管理第二临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第二临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，其中，临时缺陷管理信息区域形成于盘的引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中。6.一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括数据区域，该方法包括将关于根据第一记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、关于根据第二记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、关于根据第n-1记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、和关于根据第n记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为第n临时缺陷信息记录在数据区域中；和将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第n临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，其中，n是整数。7.如权利要求6所述的方法，还包括在盘的定型期间，将最后记录的临时缺陷信息和最后记录的临时缺陷管理信息记录在盘的缺陷管理区域中。8.如权利要求6所述的方法，其中，临时缺陷管理信息区域在盘的引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中。9.如权利要求6所述的方法，其中，记录作为第n临时缺陷信息包括将第一数据记录在预定单元中；校验记录的数据以检测在其中存在缺陷的盘的区域；将用于将包括具有缺陷的区域和包括记录在具有缺陷的区域之后的其它数据的另一个区域的区域指定为缺陷区域的信息存储在存储器中；将第二数据记录在在缺陷区域之后的预定单元中；关于第二数据重复该校验和存储至少一次；和当第n记录操作结束时，从存储器读取该信息，并且将读取的信息记录在数据区域的第n临时缺陷信息区域中。10.如权利要求9所述的方法，其中，记录作为第n临时缺陷信息还包括将用于指定第n临时缺陷信息区域为缺陷区域的信息记录在第n临时缺陷信息区域中。11.一种传递关于盘上的数据的记录和/或再现设备，该盘包括数据区域和引入区域、引出区域中的至少一个，该设备包括记录单元，根据记录操作将数据记录在数据区域中；和控制器，控制记录单元将关于在记录操作期间记录的数据的缺陷信息作为临时缺陷信息记录在盘的数据区域中，和将用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息记录在在引入区域和引出区域中的至少一个中的临时缺陷管理信息区域中。12.如权利要求11所述的记录和/或再现设备，其中，控制器还控制记录单元以将关于根据先前记录操作记录的附加数据的附加缺陷信息累积地记录在临时缺陷信息中。13.一种传递关于盘的数据的记录和/或再现设备，该盘包括数据区域和引入区域和引出区域中的至少一个，该设备包括记录单元，根据第一到第n记录操作将数据记录在数据区域中；和控制器，控制记录单元将关于根据第一到第n记录操作记录在数据区域的数据的缺陷信息作为第n临时缺陷信息记录在数据区域中，和将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，其中，n是整数。14.如权利要求13所述的记录和/或再现设备，还包括读单元，读记录在盘上的数据；和存储器，其中，控制器还控制记录单元以将数据记录在预定单元中，通过使用读单元以读取并校验记录的数据来检测具有盘上的缺陷的区域，将用于指定具有缺陷的区域和在其中数据记录在具有缺陷的区域之后的区域作为缺陷区域的信息存储在存储器中，和当第n记录操作结束时，从存储器读取信息并且控制记录单元以将读取的信息记录在第n临时缺陷信息区域中。15.如权利要求14所述的记录和/或再现设备，其中，控制器还控制记录单元以还将用于指定第n临时缺陷信息区域作为缺陷区域的信息记录在第n临时缺陷信息区域中。16.一种使用在记录和/或再现设备的盘，该盘包括缺陷管理区域，在盘的引入区域和引出区域中的至少一个中，并且包括由记录和/或再现设备使用的缺陷管理信息；盘的数据区域，在其中记录数据；临时缺陷信息区域，在数据区域中，并且包括关于在数据区域中记录的数据的临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，在引入区域和引出区域中的至少一个中，并且包括由记录和/或再现设备使用用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息，其中，缺陷管理区域的缺陷管理信息包括最后记录在临时缺陷信息区域中的最后记录的临时缺陷管理信息、和最后记录在临时缺陷管理信息区域中的最后记录的临时缺陷管理信息。17.如权利要求16所述的盘，其中，在记录操作中，数据被记录在数据区域的相应部分中，并且，每个部分包括用于相应记录操作的临时缺陷信息区域。18.如权利要求16所述的盘，其中，在临时缺陷信息区域中的临时缺陷信息包括关于在根据当前记录操作记录的数据中的缺陷的第一信息，和关于在根据先前记录操作记录的数据中的缺陷的第二信息。19.一种使用在记录和/或再现设备的盘，该盘包括缺陷管理区域，形成在盘的引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中，并且包括由记录和/或再现设备使用的缺陷管理信息；数据区域，在其中记录数据；临时缺陷信息区域，在数据区域中，并且包括关于在数据区域中记录的数据的临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，在引入区域、引出区域和外部区域中，并且包括由记录和/或再现设备使用以访问临时缺陷信息的临时缺陷管理信息，其中，缺陷管理区域的缺陷管理信息包括最后记录在临时缺陷信息区域中的最后记录的临时缺陷信息、和最后记录在临时缺陷管理信息区域中的最后记录的临时缺陷管理信息。20.如权利要求19所述的盘，其中，在记录操作中，数据被记录在数据区域的相应部分中，并且，每个部分包括用于相应记录操作的临时缺陷信息区域。21.如权利要求19所述的盘，在临时缺陷信息区域中的临时缺陷信息包括关于在根据当前记录操作记录的数据中的缺陷的第一信息，和关于在根据先前记录操作记录的数据中的缺陷的第二信息。22.一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括数据区域和引入区域和引出区域中的至少一个，该方法包括将关于对每个记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为临时缺陷信息记录在数据区域中；将用于管理临时缺陷信息的缺陷管理信息作为临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，该临时缺陷管理信息区域在引入区域和引出区域中的至少一个中；和在盘的定型期间，将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在形成于引入区域和引出区域中的至少一个中的缺陷管理区域中。23.一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括数据区域，该方法包括将关于根据第一记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、关于根据第二记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、关于根据第n-1记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、和关于根据第n记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为第n临时缺陷信息记录在数据区域中；将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第n临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，其中，n是整数；在盘的定型期间，将第n临时缺陷信息和第n临时缺陷管理信息记录在缺陷管理区域中。24.如权利要求23所述的方法，其中，临时缺陷管理信息区域在盘的引入区域、引出区域以及引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中。25.如权利要求23所述的方法，其中，记录作为第n临时缺陷信息包括将第一数据记录在预定单元中；校验记录的第一数据以检测具有缺陷的区域；将用于将包括具有缺陷的区域和在其中附加数据被记录在具有缺陷的区域之后的另一个区域的区域指定为缺陷区域的信息存储在存储器中；将第二数据记录在在缺陷区域之后的预定单元中；关于第二数据重复该校验和存储至少一次；和当第n记录操作结束时，从存储器读取该信息，并且将读取的信息记录在数据区域的第n临时缺陷信息区域中。26.如权利要求25所述的方法，其中，记录作为第n临时缺陷信息还包括将用于指定第n临时缺陷信息区域为缺陷区域的信息记录在第n临时缺陷信息区域中。27.一种传递关于盘的数据的记录和/或再现设备，该盘包括数据区域和引入区域和引出区域中的至少一个，该设备包括记录单元，根据记录操作将数据记录在盘的数据区域中；和控制器，控制记录单元将关于根据记录操作记录的数据的缺陷信息作为临时缺陷信息记录在数据区域中，将用于管理临时缺陷信息的缺陷管理信息作为临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，和将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在形成于引入区域和引出区域中的至少一个中的缺陷管理区域中，其中，临时缺陷管理信息区域在盘的引入区域和引出区域中的至少一个中。28.一种传递关于盘的数据的记录和/或再现设备，该盘包括数据区域和引入区域和引出区域中的至少一个，该设备包括记录单元，根据第一到第n记录操作将数据记录在数据区域中；和控制器，控制记录单元将关于根据第一到第n记录操作记录的数据的缺陷信息作为第n临时缺陷信息记录在数据区域中，将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第n临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中，和将最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在缺陷管理区域中，其中，n是整数。29.如权利要求28所述的记录和/或再现设备，还包括读单元，读记录在盘上的数据；和存储器，其中，控制器还控制记录单元以将数据记录在预定单元中，使用读单元通过读取和校验记录的数据来检测具有盘上的缺陷的区域，将用于指定包括具有缺陷的缺陷区域和具有记录在具有缺陷的区域之后的其它数据的另一个区域的缺陷区域作为缺陷区域的信息存储在存储器中，和当第n记录操作结束时，从存储器读取信息并且控制记录单元以将读取的信息记录在第n临时缺陷信息区域中。30.一种使用在记录和/或再现设备的盘，该盘包括缺陷管理区域，形成在盘的引入区域和引出区域中的至少一个中，并且包括由记录和/或再现设备使用的缺陷管理信息；数据区域，包括数据；临时缺陷信息区域，在数据区域中，并且包括关于数据的临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，在引入区域和引出区域中的至少一个中，并且包括由记录和/或再现设备使用用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息，其中，当使用写后校验方法来检测盘缺陷时，临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被再次记录。31.如权利要求30所述的盘，其中，当使用写后校验方法来检测盘缺陷以校验临时缺陷信息和临时缺陷管理信息时，临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被分别再次记录在临时缺陷信息区域中和临时缺陷管理信息区域中。32.如权利要求30所述的盘，其中，在记录操作中，数据被记录在数据区域的相应部分中，并且，每个部分包括用于相应记录操作的临时缺陷信息区域。33.如权利要求30所述的盘，在临时缺陷信息区域中的临时缺陷信息包括关于在根据当前记录操作记录的数据中的缺陷的第一信息，和关于在根据先前记录操作记录的数据中的缺陷的第二信息。34.一种使用在记录和/或再现设备的盘，该盘包括缺陷管理区域，形成在盘的引入区域和引出区域中的至少一个中，并且包括由记录和/或再现设备使用的缺陷管理信息；数据区域，包括数据；临时缺陷信息区域，在数据区域中，并且包括关于在数据区域中的数据的临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，在盘的引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中，并且包括由记录和/或再现设备使用以访问临时缺陷信息的临时缺陷管理信息，其中在盘的定型期间，最后记录在临时缺陷信息区域中的最后记录的临时缺陷信息和最后记录在临时缺陷管理信息区域中的最后记录的临时缺陷管理信息分别被再次记录在缺陷管理区域中，并且当使用写后校验方法来检测盘缺陷时，临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别被再次记录在另一个临时缺陷信息区域和临时缺陷管理信息区域中。35.一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括数据区域和引入区域和引出区域中的至少一个，该方法包括将关于对每个记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为临时缺陷信息记录在数据区域中；将用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息记录在形成在引入区域和引出区域中的至少一个中的临时缺陷管理信息区域中；和对临时缺陷信息和临时缺陷管理信息中的至少一个执行写后校验方法，并且如果使用写后校验方法检测到盘缺陷，则再次记录临时缺陷信息和临时缺陷管理信息。36.如权利要求35所述的方法，其中，该盘包括引入和引出区域，并且该方法还包括将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在在引入区域和引出区域中的缺陷管理区域中。37.如权利要求35所述的方法，其中，执行写后校验方法包括将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息中的至少一个再次记录在临时缺陷信息区域和临时缺陷管理信息区域中。38.一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括数据区域和引入区域和引出区域中的至少一个，该方法包括将关于根据第一记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、关于根据第二记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、关于根据第n-1记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、和关于根据第n记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为第n临时缺陷信息记录在数据区域中；将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第n临时缺陷管理信息记录在盘的临时缺陷管理信息区域中；和对第n临时缺陷信息和第n临时缺陷管理信息中的至少一个执行写后校验方法，并且如果根据写后校验方法检测到盘缺陷，则再次记录第n临时缺陷信息和第n临时缺陷管理信息，其中，n是整数。39.如权利要求38所述的方法，还包括在盘的定型期间，将最后记录的临时缺陷信息和最后记录的临时缺陷管理信息记录在盘的缺陷管理区域中。40.如权利要求38所述的方法，其中，执行写后校验方法包括将第n临时缺陷信息和第n临时缺陷管理信息中...
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