决定烧录辅助光束合成信号值的方法技术

技术编号:3058899 阅读:241 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种决定烧录辅助光束合成信号值的方法。首先,于第j个读取阶段时得到一第j个读取SBAD值。接着,于第j个烧录阶段时,根据第j-1个烧录SBAD增益值决定出第j个烧录SBAD值。然后,根据第j个烧录SBAD值及第j个读取SBAD值,得到第j个SBAD倍数值。接着,根据第j个SBAD倍数值将第j-1个烧录SBAD增益值改换为第j个烧录SBAD增益值。然后,于第j+1个烧录阶段时,根据第j个烧录SBAD增益值调整第j+1个烧录SBAD值的准位。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种产生烧录辅助光束合成信号(sub-beam addsignal,SBAD)值的方法,且特别是有关于一种用以缩短读取SBAD值及烧录SBAD值的准位差值的。
技术介绍
在科技发展日新月异的现今时代中,随着图片、音乐、电影及计算机软件的应用普及,使得具备高储存容量的盘片,如CD、CD-R、CD-RW、DVD、DVD-R及DVD-RW等盘片,成为现代人日常生活中重要的软件载具。此外,用以读取盘片的光驱和用以读取及烧录盘片的光盘烧录机也因此成为个人计算机的基本配备之一。如图1A所示,在传统的光盘烧录机格式化盘片70的方式中,光盘烧录机会将盘片70格式化成导入(lead-in)区71、数据烧录区72及导出(lead-out)区73,数据烧录区72具有数条用以储存数据的轨迹(track),每一条轨迹上具有复数个烧录区块(blocks)。但是,当数据烧录区72的部分的轨迹上具有刮痕(scratches)或指纹(fingerprints)等缺陷(defect)时,上述的光盘烧录机格式化盘片70的方式并没有办法检测出盘片70上的任何缺陷,容易产生光盘烧录机将数据烧录于缺陷所在的烧录区块上的现象,造成数据烧录不完整的状况,影响烧录的品质。为了避免将资料烧录于坏轨迹上,于是业者便提出一种被称为「MountRaininer」的光盘烧录机格式化盘片的方式。当光盘烧录机以MountRaininer的方式格式化盘片时,光盘烧录机会先检测盘片是否有缺陷存在。在检测缺陷的过程中,光盘烧录机的光学读取头会打出一具有三或五光束的激光至盘片上。在此以五光束为例,五光束包括一主要光束(main-beam)及四辅助光束(sub-beam),二辅助光束及另外二辅助光束是对称地位于主要光束的两旁外。此五光束是用以照射盘片,并于盘片上对应地形成主光点(main spot)及四辅助光点(sub spot)。光学读取头接收盘片将四辅助光束所反射后的光束,并据以感光而产生对应的辅助光束合成信号(sub-beam add signal,SBAD)。如图1B~1C所示,光盘烧录机具有一缺陷判断门坎范围,如-200毫伏特(mv)~400(mv),用以与SBAD的波形比较而决定出激光所打在盘片上的位置是否具有缺陷。当盘片上有刮痕或指纹等缺陷时,光盘烧录机将会产生一下凸的SBAD 75或一上凸的SBAD 76,下凸的SBAD 75或上凸的SBAD 76的每一点对应于一SBAD值。在图1B中,下凸的SBAD 75具有一最低点A,其为最低SBAD值,这最低SBAD值小于-200(mv)。在图1C中,上凸的SBAD 76具有一最高点B,其为最高SBAD值,这最高SBAD值大于400(mv)。因此,光盘烧录机将判断SBAD值是否落入缺陷判断门坎范围内,而决定出激光于盘片上的位置是否具有缺陷,且含有缺陷的烧录区块将被视为坏烧录区块(bad block)。如图1D所示,当光盘烧录机完成盘片80的缺陷检测后,光盘烧录机会将盘片80格式化为一导入区81、一数据烧录区82、一资料烧录取代区(replacement area)83及一导出区84。光盘烧录机是于导入区81中建立一主要缺陷表(main defect table)85,且于导出区84中备份此缺陷表85,以记录盘片80的坏烧录区块86的位置,如时间点或地址。当光盘烧录机欲将数据烧录于缺陷所在的坏烧录区块86上时,根据主要缺陷表85的记载,光盘烧录机将不会如传统的方式一样把数据烧录于坏烧录区块86上。于是,光盘烧录机将数据烧录于数据烧录取代区83中,并记录此数据于数据烧录取代区83的烧录位置。如此一来,可以维持数据的完整性及信赖度。在光盘烧录机以Mount Rainier的方式将数据烧录于盘片的过程中,光盘烧录机是采用连续烧录(sequential write)方式,将数据分成N个数据封包(packet)。光盘烧录机是于一个读取阶段紧接着一个烧录阶段的N个读取阶段及N个烧录阶段中,将N个资料封包烧录于盘片中。光盘烧录机是于N个读取阶段以一读取激光读取盘片,以待机的状态进行聚焦伺服控制及锁轨伺服控制,等待下一步的烧录动作。光盘烧录机是于N个烧录阶段以一烧录激光将N个数据封包烧录于盘片中。当光盘烧录机于第i个读取阶段读取盘片后,光盘烧录机将会紧接地由第i个读取阶段切换至第i个烧录阶段,并将第i个资料封包烧录于盘片中,i为1~N,如此的烧录方式亦可被称为封包烧录(packet write)方式。此外,在光盘烧录机分别处于读取状态及烧录状态时,光学读取头还是会接收盘片将四辅助光束所反射的光束,并分别据以产生读取SBAD值及烧录SBAD值。如图1E所示,在光盘烧录机由每一读取阶段切换至紧接在后的一烧录阶段时,由于烧录激光的功率大于读取激光的功率,以及盘片于高倍速下会产生抖动的现象,导致SBAD准位(SBAD level)会往上跳400(mV)以上,产生烧录SBAD值大于读取SBAD值的现象。例如,烧录SBAD值及读取SBAD分别为2.2(V)及1.7(V)。当光盘烧录机以烧录SBAD值和缺陷判断门坎范围比较时,烧录SBAD值将会落于缺陷判断门坎范围的外,导致光驱误判盘片上有缺陷,产生缺陷误判的现象。因此,光盘烧录机会再将每一数据封包烧录于盘片的数据烧录取代区中。由于数据烧录取代区的容量很小,导致数据烧录取代区很快地被占满,造成光盘烧录机烧录失败的现象。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的就是在提供一种决定烧录辅助光束合成信号(sub-beam add signal,SBAD)值的方法。其根据烧录SBAD值及读取SBAD值的差值而动态调整烧录SBAD增益值的设计,可以有效地消除光盘烧录机于读取阶段切换至烧录阶段时SBAD值的准位跳跃情形,避免产生缺陷误检测的现象。另外,本专利技术可以将缺陷判断门坎范围设得更严谨且更小,如-50(mV)~50(mV),以有效地检测出指纹。根据本专利技术的目的,提出一种,用于一光盘烧录机在N个读取阶段及N个烧录阶段将N个资料封包烧录于一盘片上时。N个读取阶段为一第1~N个读取阶段,N个烧录阶段为一第1~N个烧录阶段,N个资料封包为一第1~N个资料封包。光盘烧录机是于第i个读取阶段读取盘片,并紧接于第i个烧录阶段将第i个资料封包烧录于盘片中,i为1~N,光盘烧录机具有一预设烧录SBAD增益值。首先,于第1个读取阶段时读取盘片,并得到一第1个读取SBAD值。接着,于第1个烧录阶段时将第1个资料封包烧录于盘片中,并根据预设烧录SBAD增益值得到一第1个烧录SBAD值。然后,根据第1个烧录SBAD值及第1个读取SBAD值,得到一第1个SBAD倍数值。接着,根据第1个SBAD倍数值将预设烧录SBAD增益值改换为一第1个烧录SBAD增益值。然后,于第j个读取阶段时读取盘片,并得到一第j个读取SBAD值,j为2~N-1。接着,于第j个烧录阶段时将第j个资料封包烧录于盘片中,并根据第j-1个烧录SBAD增益值决定出一第j个烧录SBAD值。然后,根据第j个烧录SBAD值及第j个读取SBAD值,得到一第j个SBAD倍数值。接着,根据第j个SBAD倍数值将第j-1个烧录SBAD增益值改换为一第j个烧录SBA本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种决定烧录辅助光束合成信号值的方法,用于一光盘烧录机在N个读取阶段及N个烧录阶段将N个资料封包烧录于一盘片上时,该N个读取阶段为一第1~N个读取阶段,该N个烧录阶段为一第1~N个烧录阶段,该N个资料封包为一第1~N个数据封包,该光盘烧录机是于该第i个读取阶段读取该盘片,并紧接于该第i个烧录阶段将该第i个资料封包烧录于该盘片中,i为1~N,该光盘烧录机具有一预设烧录SBAD增益值,其特征在于该方法包括:于该第1个读取阶段时读取该盘片,并得到一第1个读取SBAD值; 于该第1个烧录阶段时将该第1个资料封包烧录于该盘片中,并根据该预设烧录SBAD增益值得到一第1个烧录SBAD值; 根据该第1个烧录SBAD值及该第1个读取SBAD值,得到一第1个SBAD倍数值; 根据该第1个SBAD倍数 值将该预设烧录SBAD增益值改换为一第1个烧录SBAD增益值;于该第j个读取阶段时读取该盘片,并得到一第j个读取SBAD值,j为2~N-1;于该第j个烧录阶段时将该第j个资料封包烧录于该盘片中,并根据该第j-1个烧录SBAD 增益值调整一第j个烧录SBAD值的准位;根据该第j个烧录SBAD值及该第j个读取SBAD值,得到一第j个SBAD倍数值;根据该第j个SBAD倍数值将该第j-1个烧录SBAD增益值改换为一第j个烧录SBAD增益值;于该 第j+1个读取阶段时读取该盘片,并得到一第j+1个读取SBAD值;以及于该第j+1个烧录阶段时将该第j+1个资料封包烧录于该盘片中,并根据该第j个烧录SBAD增益值调整一第j+1个烧录SBAD值的准位。...

【技术特征摘要】
1.一种决定烧录辅助光束合成信号值的方法,用于一光盘烧录机在N个读取阶段及N个烧录阶段将N个资料封包烧录于一盘片上时,该N个读取阶段为一第1~N个读取阶段,该N个烧录阶段为一第1~N个烧录阶段,该N个资料封包为一第1~N个数据封包,该光盘烧录机是于该第i个读取阶段读取该盘片,并紧接于该第i个烧录阶段将该第i个资料封包烧录于该盘片中,i为1~N,该光盘烧录机具有一预设烧录SBAD增益值,其特征在于该方法包括于该第1个读取阶段时读取该盘片,并得到一第1个读取SBAD值;于该第1个烧录阶段时将该第1个资料封包烧录于该盘片中,并根据该预设烧录SBAD增益值得到一第1个烧录SBAD值;根据该第1个烧录SBAD值及该第1个读取SBAD值,得到一第1个SBAD倍数值;根据该第1个SBAD倍数值将该预设烧录SBAD增益值改换为一第1个烧录SBAD增益值;于该第j个读取阶段时读取该盘片,并得到一第j个读取SBAD值,j为2~N-1;于该第j个烧录阶段时将该第j个资料封包烧录于该盘片中,并根据该第j-1个烧录SBAD增益值调整一第j个烧录SBAD值的准位;根据该第j个烧录SBAD值及该第j个读取SBAD值,得到一第j个SBAD倍数值;根据该第j个SBAD倍数值将该第j-1个烧录SBAD增益值改换为一第j个烧录SBAD增益值;于该第j+1个读取阶段时读取该盘片,并得到一第j+1个读取SBAD值;以及于该第j+1个烧录阶段时将该第j+1个资料封包烧录于该盘片中,并根据该第j个烧录SBAD增益值调整一第j+1个烧录SBAD值的准位。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于该光盘烧录机具有一SBAD基准值,当该SBAD基准值、该第1个读取SBAD值、该第1个烧录SBAD值及该第1个SBAD倍数值分别为M、N1、X1及Y1时,则Y1=20*log〔(X1-M)/(N1-M)〕的运算值(dB)。3.如权利要求2所述的方法,其特征在于该光盘烧录机具有一预设SBAD倍数值,该方法是于该根据该第1个SBAD倍数值将该预设烧录SBAD增益值改换为该第1个烧录SBAD增益值的步骤中更包括比较该第1个SBAD倍数值及该预设SBAD倍数值,以得到该第1个烧录SBAD增益值;以及将该预设烧录SBAD增益值改换为该第1个烧录SBAD增益值。4.如权利要求1所述的方法,其特征在于该光盘烧录机具有一SBAD基准值,当该SBAD基准值、该第j个读取SBAD值、该第j个烧录SBAD值及该第j个SBAD倍数值分别为M、N2、X2及Y2时,则Y2=20*log〔(X2-M)/(N2-M)〕的运算值(dB)。5.如权利要求4所述的方法,其特征在于该光盘烧录机具有一预设SBAD倍数值,该方法是于该根据该第j个SBAD倍数值将该第j-1个烧录SBAD增益值改换为该第j个烧录SBAD增益值的步骤中更包括比较该第j个SBAD倍数值及该预设SBAD倍数值,以得到该第j个烧录SB...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏道炎潘怡全
申请(专利权)人:建兴电子科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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