光记录载体的岸台预制凹坑信息检测方法技术

本发明专利技术是关于光记录载体的岸台预制凹坑信息检测方法，包括：步骤一，具备有岸和沟式轨道，并且其中的一个轨道上可记录数据，而另外一个轨道上则可以预选压制凹坑记录上述数据记录轨道位置信息的光记录载体中，用主光束和一个以上的副光束跟踪上述轨道；步骤二，过滤从上述光记录载体中反射出来的主光束次信号，以此检测出抖动信号；步骤三，从上述光记录载体的预先压制区域反射出来的副光束中，获取上述位置信息。本发明专利技术通过副光束轻易地检测出岸台预制凹坑（ＬＰＰ）信息，而且不受沟区域凹坑的干扰。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于光记录载体，尤其是指能够更加准确地检测出光记录载体中形成于岸(land)上的凹坑(pit)-岸台预制凹坑(Land prepit以下简称为LPP)的一种。(2)
技术介绍
通常所说的可擦写的光记录载体有，可擦写光盘(Rewritable CompactDiscCD-RW)和可重录数字多用光盘(Rewritable Digital Versatile DiscDVD-RW、DVD-RAM、DVD-R)等。在这里，DVD-RAM和DVD-RW/R之间的差异点在于，DVD-RAM中岸和沟部分都能记录数据，而DVD-RW/R中只能在沟部分记录数据。就是说，DVD-RW/R中在岸式轨道上通过预先压制凹坑(pre-pit)记录相关沟式轨道的位置信息，以此取代原本显示位置信息的DVD-RAM首标；另外，岸式轨道不记录数据。这时，位于岸式轨道上的位置信息就是LPP信息。就是说，岸式轨道上以凹坑形态事先记录有沟式轨道的物理性地址信息。另外，上述位置信息可以沿着轨道界线面，以抖动(wobbling)形状进行记录。在这里，所谓抖动就是指，通过一定时钟的调频，将填加到光盘上的信息，例如相应位置的信息、关于光盘旋转速度的信息等，提供给激光二极管功率装置中，并根据相应激光的光束变化，将控制信号记录到轨道界线面上的过程。因此，现有技术中，为了检测出适用于DVD-RW/R等光盘上的LPP信号，利用主光束(main-beam)检测出上述抖动信号以及LPP信息。图1显示的是现有技术中，只利用主光束检测抖动信号以及LPP信息的方法。如图1一样，轨道被分为岸和沟区域，而上述轨道的沟区域以凹坑2形态记录有用户数据。主光束1以包括上述岸式轨道一部分的形状跟踪(trace)沟区域，不但可以提取到记录在沟式轨道上的数据，还可以检测出岸区域上的LPP(LPP.1、2、3)信息3、4、5。为了检测出上述LPP信息，要使用推挽PP(push-pull)方式；在这里，所谓推挽方式PP就是将光盘上的反射光根据光拾取器内的光检测器结构(未图示)分割成2部分或者分割成4部分，并比较/检测被分割每个部分反射光强度的方式。下面以光拾取器内2分割光检测器为例，进行详细说明。凹坑2部分照射主光束1就会发生折射；如果处于准确的锁定状态，就会以光轴为中心，左右折射光会对称。用光拾取器内的2分割光检测器对该反射光进行检测(图中I1、I2信号是由光拾取器内的2分割光检测器检测出来的信号)，其输出差值为0。就是说，推挽信号为0。但是，如果光点在凹坑2上向左侧偏离，就会减低入射到凹坑2左侧的激光折射效果，并且由于不对称的折射光，就会检测出左侧反射光增加的推挽信号。如果向右侧偏离，就会检测出右侧反射光增加的推挽信号。而且，通过预先压制记录沟式轨道位置信息的岸台预制凹坑(LPP)区域，由于是非记录区域，因此其反射率比较高。因此，上述推挽信号在LPP区域的追踪过程中，上下变化比较大。图2是显示LPP区域推挽信号的图面，同时还显示了抖动(WBL)信号。如图2所示，在LPP区域中上述推挽信号变化比较大，通过适当的过滤措施，对a区域进行分割(slice)，并检测出LPP.1、2、3(即，图中部件符号3、4、5)。上述方法中，主光束不仅仅准确地照射沟式轨道，同时还照射岸式轨道的一部分，因此也可以检测出岸式轨道中的LPP信息。如果是未记录光盘时，由于沟式轨道中尚未形成凹坑，因此比较容易地检测出LPP信息；但，如果是已记录光盘，由于沟式轨道上已经形成有凹坑，生成的凹坑直接影响到主光束上，并干扰LPP信息的检测。这样，就可能引起LPP信息检测不准确的问题。(3)
技术实现思路
本专利技术的目的就是要解决上述问题，提供一种光记录载体的岸台预制凹坑(以下简称LPP)信息检测方法，本专利技术与只利用主光束的现有技术不同，它还利用了副光束(side beam)检测LPP信息，由于上述结构，可以减少可记录数据的沟区域中生成的凹坑造成的高频率干扰，使LPP检测更加容易。为了达到上述目的，本专利技术的包括以下几个步骤步骤一，具备有岸和沟式轨道，并且其中的一个轨道上可记录数据，而另外一个轨道上则可以预选压制凹坑记录上述数据记录轨道位置信息的光记录载体中，用主光束和一个以上的副光束跟踪上述轨道；步骤二，过滤从上述光记录载体中反射出来的主光束次信号，以此检测出抖动信号；步骤三，从上述光记录载体的预先压制凹坑的区域反射出来的副光束中，获取上述位置信息。上述主光束和副光束的跟踪步骤中，上述主光束跟踪用户数据区域，而上述副光束则跟踪预先压制凹坑的区域。通过上述副光束检测位置信息的步骤还分以下几个步骤步骤一，上述副光束跟踪预先压制凹坑的区域时，将对应于发射光的电信号进行增幅；步骤二，过滤上述已增幅信号。本专利技术的效果正如前面所讲述的，本专利技术的光记录载体的岸台预制凹坑(LPP)信息检测方法除了现有技术中的主光束之外，还利用了副光束，因此可以减少记录光盘沟式区域中因凹坑造成的高频率干扰，使LPP检测更加容易。为进一步说明本专利技术的上述目的、结构特点和效果，以下将结合附图对本专利技术进行详细的描述。(4)附图说明图1是现有技术中，只利用主光束获取抖动信号以及LPP信息的构造显示图。图2是现有技术中，只利用主光束获取到的抖动信号以及LPP信息的显示图。图3是本专利技术中，利用主光束和副光束获取抖动信号以及LPP信息的构造显示图。图4是本专利技术的模块图。图5是根据本专利技术获取的信号波形显示图a显示的是从副光束E获取的信号波形显示图；b是从主光束获取的抖动信号显示图；c是从副光束F中获取的信号波形显示图。附图中主要部分的符号说明1主光束 2凹坑3LPP.14LPP.25LPP.36副光束E7副光束F(5)具体实施方式下面参照附图，对本专利技术的实施例的构成以及作用进行详细说明。图3是本专利技术中，包括副光束在内的LPP信息检测方法的显示图面。如图3所示，不仅有现有的主光束1，而且还有跟踪岸区域的副光束E6、副光束F7。上述副光束有2道，如图一样，副光束E6以主光束为基准照射轨道的外周，而副光束F7则照射轨道的内周。图面中的I1、I2信号是由光拾取器内的2分割光检测器检测出来的信号；I1代表主光束1的径向外侧检测信号，I2则代表径向内侧检测信号。上述副光束E、F6、7在跟踪岸区域的同时，还检测LPP信息。就是说，由于上述LPP是已凹坑化的区域，当上述副光束E、F6、7跟踪岸区域时，就会过滤上述副光束E、F6、7的反射光，并从中检测出LPP信息。图4是本专利技术的模块图。如图所示，利用主光束I1和I2检测抖动信号，利用副光束F7中的F信号检测LPP信息。上述F信号是从副光束F7中检测出来的现沟式轨道的地址信息。更加详细地说明如下。地址信息以及关于光盘旋转速度的信息沿着界线面，承载在以抖动(wobbling)形状被记录的抖动信号中。因此，将推挽信号进行通带过滤，提取抖动信号；然后通过检波该抖动信号相位的过程，恢复地址信息。这时，正如前面所讲述的，I1信号代表着主光束的径向方向外侧检测信号，I2则代表着径向方向内侧检测信号，因此，可以利用I1和I2信号差(I1-I2)生成推挽信号401；上述推挽信号401通过抖动(WBL)过滤(WBLfilter)402，通过本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录载体的岸台预制凹坑信息检测方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一，具备有岸和沟式轨道，并且其中的一个轨道上可记录数据，而另外一个轨道上则可以预选压制凹坑记录所述的数据记录轨道位置信息的光记录载体中，用主光束和一个以上的副光束 跟踪所述的轨道；步骤二，过滤从所述的光记录载体中反射出来的主光束次信号，以此检测出抖动信号；步骤三，从所述的光记录载体的预先压制凹坑的区域反射出来的副光束中，获取所述的位置信息。

【技术特征摘要】
1.一种光记录载体的岸台预制凹坑信息检测方法，其特征在于包括以下步骤步骤一，具备有岸和沟式轨道，并且其中的一个轨道上可记录数据，而另外一个轨道上则可以预选压制凹坑记录所述的数据记录轨道位置信息的光记录载体中，用主光束和一个以上的副光束跟踪所述的轨道；步骤二，过滤从所述的光记录载体中反射出来的主光束次信号，以此检测出抖动信号；步骤三，从所述的光记录载体的预先压制凹坑的区域反射出来的副光束中，获取所述的位置信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜相求，
申请(专利权)人：上海乐金广电电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]