盘驱动器和预置凹坑检测方法技术

一个盘驱动器，包括：　　　　一个光学头，用来发出激光束，以照射一个盘状存储介质，从而从盘状存储介质读取或向磁盘存储介质写入数据，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑；　　　　一个推挽信号生成器，用于从光学头检测的反射光信息生成一个推挽信号；　　　　一个预置凹坑检测器，用于比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；以及　　　　一个噪声去除器，用于基于从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于从/自盘状存储介质，如光盘，写入/读取数据的盘驱动器，还涉及检测预置凹坑的方法。
技术介绍
为了在盘上写入数据，需要盘具有形成数据轨道的导向装置。为了满足上述要求，形成了用作预置凹槽的凹槽，并用所形成的凹槽或槽脊(相邻凹槽之间具有高原横截面形状的突出部分)作为数据轨道。为了在数据轨道上指定的位置写入数据，需要在盘上记录地址信息。通常，通过在数据轨道上摆动凹槽或形成预制凹坑来记录地址信息。例如，在基于相位变化记录的可重写的DVD(数字多功能盘)，即DVD-RW，或使用有机染料材料的一次写入盘，即DVD-R中，如图12中所示，在盘上形成摆动凹槽G作为预置格式，在相邻凹槽G之间的槽脊L上形成槽脊预置凹坑LPP。在这种结构中，摆动凹槽所提供的反射光信息用来控制盘的旋转，还用来生成写入数据时使用的主时钟信号。槽脊预置凹坑用来确定各个位的精确的写位置，还用来获得各种盘信息，如预置地址信息。也就是说，使用槽脊预置凹坑LPP来记录表示盘上物理位置的地址。适用于这种盘的盘驱动器通过检测盘上形成的槽脊预置凹坑读取地址，并基于表示盘上位置的所检测的预置凹坑信息，在写入/读取操作中执行各种控制。图13表示槽脊预置凹坑LPP的格式。包括8个摆动的每个轨道的间隔形成一个帧，每个由一个偶数的帧和一个奇数的帧组成的集合总共包括16个摆动，形成一个槽脊预置凹坑信息单位。如图12中所示，通过与摆动同步地在槽脊中形成挖空的部分，来形成槽脊预置凹坑LPP。地址数据的1位由一个槽脊预置凹坑LPP集合表示。图13A举例说明了在偶数帧中形成槽脊预置凹坑信息。在这种情况下，每个偶数帧的前3个摆动形成一个槽脊预置凹坑集合。用b2，b1和b0表示槽脊预置凹坑LPP的出现/不出现。如果(b2，b1，b0)是(1，1，1)，也就是说，当形成3个槽脊预置凹坑时，那些预置凹坑LPP组成的集合作为同步信号。数据位“1”通过在b2和b0形成两个槽脊预置凹坑LPP来表示。也就是说，当(b2，b1，b0)＝(1，0，1)时，数据位是“1”。另一方面，数据位“0”通过在b2形成一个预置凹坑LPP来表示。就是说，当(b2，b1，b0)＝(1，0，0)时，数据位是“0”。图13B举例说明了在奇数帧中形成槽脊预置凹坑信息。在这种情况下，每个奇数帧的前3个摆动形成一个槽脊预置凹坑集合，其中槽脊预置凹坑LPP的出现/不出现用(b2，b1，b0)表示。在奇数帧中形成槽脊预置凹坑信息的情况下，当(b2，b1，b0)＝(1，1，0)时，那些预置凹坑LPP组成的集合表示一个同步信号。与偶数帧中的情况相同，数据位“1”用(b2，b1，b0)＝(1，0，1)表示，数据位“0”用(b2，b1，b0)＝(1，0，0)表示。在图13C中，以表格的形式总结了b2、b1和b0的组合所代表的同步信号和数据位。在每16个摆动的间隔中，槽脊预置凹坑LPP只能以偶数帧或奇数帧来形成。对每16个摆动间隔确定以哪种帧形成槽脊预置凹坑，以便不会在盘上相邻凹槽轨道上形成槽脊预置凹坑LPP。通过检测盘上的光信号，用槽脊预置凹坑LPP表达的信息可以以推挽信号的形式获得。更具体而言，获得的推挽信号是两个信号间的一种差分信号，所述信号对应于沿轨道行方向在盘上扫描的激光点从左手和右手部分反射的光的强度。图14所示为检测槽脊预置凹坑LPP的电路。盘驱动器具有一个包括光电检测器51的光学头，如具有四个光电检测单元A，B，C和D的四分光电检测器，用于检测从盘反射的光。在图14中所示的这个电路中，从光电检测器51的光电检测单元A和光电检测单元C输出的信号由一个加法器56相加在一起，从光电检测单元B和光电检测单元D输出的信号由一个加法器55相加在一起。加法器55和56的输出被提供给推挽信号生成器52。推挽信号生成器52包括一个差动放大器A1以及电阻R11到R14。推挽信号生成器52输出一个推挽信号P/P与((A+C)-(B+D))成正比。在推挽信号P/P中，如图15A中所示，得到与槽脊预置凹坑LPP相对应的相对较大的振幅(SLP1，SLP2和SLP3)。因此，通过检测大的振幅，可以检测到槽脊预置凹坑所表示的信息。为此，参考电压Vth从参考电压源54提供到比较器53，而比较器53比较推挽信号P/P与所提供的参考电压Vth。比较器53输出一个两级信号，表示比较结果。因此，如图15A所示，获得对应于槽脊预置凹坑的检测信号LPPout。对应于该槽脊预置凹坑的此检测信号LPPout的高电平和低电平分别对应于槽脊预置凹坑LPP的b2，b1和b0所表示的“1”和“0”。此外，解码器(未示出)通过检测对应于b2、b1和b0的同步信号和数据位(具有电平“1”和“0”)来提取地址信息。在美国专利第6337838中可以找到检测槽脊预置凹坑LPP的已知方法。然而，如果将信息写入作为记录轨道的凹槽上，则在凹槽上形成的记录标记(相变位)与槽脊预置凹坑LPP干涉。因此，很难正确读取槽脊预置凹坑LPP。更具体而言，记录标记的干涉导致反射系数降低，从而导致对应于槽脊预制凹坑LPP的推挽信号P/P的振幅减少。推挽信号P/P的振幅由于轨道摆动、相邻轨道的串扰以及盘数量的变化会发生改变。在图15A所示的例子中，振幅SLP2小于振幅SLP1和SLP3。振幅SLP2的减少是由于相邻于槽脊预置凹坑LPP出现了记录标记M，在图12中用I表示。从图15A中所示的推挽信号P/P的波形的包络线可以看出，由摆动所致，推挽信号P/P的电平具有周期性的变化。推挽信号P/P还包括由串扰噪声所导致的电平变化。推挽信号P/P的这种电平变化可以导致检测信号LPPout中出现噪声，该检测信号LPPout对应于比较推挽信号P/P和参考电压Vth所检测到的槽脊预置凹坑。图15B用示例说明了包括脉冲分量SLP的推挽信号P/P，所述脉冲分量对应于每16个摆动间隔出现一次的槽脊预置凹坑。在此示例中，对于周期T10，通过比较推挽信号P/P和参考电压Vth，获得正确的槽脊预置凹坑检测LPPout。但是，在周期T11中，推挽信号P/P的电平增加到这样一种程度，不仅对应于槽脊预置凹坑LPP的脉冲分量SLP的电平，而且推挽信号P/P的其他部分的电平，都超过了参考电压Vth。结果，如图15B中所示，槽脊预置凹坑检测信号LPPout包括噪声脉冲N。不正确的槽脊预置凹坑检测导致地址错误率增加。也就是说，正确地读取地址信息变得不可能。这导致在盘上写入和从盘上读取数据的操作性能下降，还导致查找操作性能下降。如果提高参考电压Vth，可以避免这种噪声脉冲。然而，参考电压Vth的提高可能使检测其电平因在附近出现记录标记而降低的槽脊预置凹坑变得不可能，这种情况如图15A中的脉冲分量SLP2所示。相反，如果减少阈值电压Vth，使得对于小振幅脉冲分量，如SLP2，也可以检测到槽脊预置凹坑，则阈值电压Vth的减少带来了错误地将噪声检测为槽脊预置凹坑的可能性。基于上述原因，使用固定的阈值电压(参考电压)Vth，很难正确地检测槽脊预置凹坑。上文中引用的美国专利No.6,337,838公开了一种方法，使用所谓的AGC电路减少推挽信号P/P的振幅中的变化。然而，美国专利No.6,337,838并没有公开正确地设置生成槽脊本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：佐野达史，番场光幸，三好俊匡，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：