盘区域检测方法和设备技术

一种盘区域类型检测的方法和设备，盘区域类型检测方法包括：检测在副推挽（ＳＰＰ）１信号和ＳＰＰ２信号之间的差值；和基于检测的差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。根据所述方法和设备，盘的用户数据区域和存储介质相关的信息区域可被容易地区别，允许适当地执行锁相环（ＰＬＬ）控制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种盘，更特别地，涉及一种盘区域类型检测方法和设备。
技术介绍
如光盘的光信息存储介质被广泛地使用，与可记录和再现信息的光学拾取设备关联而不用物理接触。压缩盘(CD)和数字多用盘(DVD)是两种类型的光盘，每种都有不同的记录容量。光盘还可被分为只读盘和可记录盘。前者的示例是650MB CD和4.7GB DVD-ROM。后者的示例是650MB CD-可读(R)和CD-可写(RW)，和4.7GB DVD+R/RW、DVD-RAM和DVD-R/RW。并且，具有23GB或更高的记录容量的高密度光盘(HD-DVD)还在开发中。普通的光信息存储介质使用通过以凹坑或者凹槽抖动的形式来记录数据的方法。这里，凹槽是在制造期间通过雕刻基底形成的孔，并且凹槽信号作为抖动的值被检测。所述凹槽抖动是以波的形式在底部形成的凹槽，并且凹槽抖动信号作为推挽信号被检测。图1示出根据传统技术的光信息存储介质的示例。参照图1，传统高密度可写光记录信息存储介质包括在其中记录用户数据的用户数据区域120，在用户区域里面的导入区域110，和在用户数据区域外面的导出区域130。存储介质相关信息区域111占用了全部或者部分导入区域110，并且仅存储如存储介质的相关信息的用于再现的数据。所述用于再现的数据由高频抖动(high frequency wobble)形成。覆盖了部分导入区域110、用户数据区域120、和导出区域130的可记录区域由相对的低频抖动形成，并且在所述槽中用户数据可被记录。因此，由于用户数据区域的抖动形式与存储介质相关的信息区域的抖动形式不同，所以PLL条件在存储的数据可被读取之前必须被改变。因此，需要通过确定激光束投射向用户数据区域还是投射向存储介质相关的信息区域来改变PLL条件。同时，根据传统的技术的推挽信号产生方法现在将被简要地解释。图2A至2C示出根据传统技术的推挽信号产生方法。在DPP方法中，衍射单元与来自激光光源的光束对准成一行，并且在光盘中由第九级衍射的光(主光束)和第一级衍射的光(副光束)的三个光束形成三个光斑。来自每一光斑的反射光被相应的光电检测机接收，并且由主光束形成的主要光斑被用于记录或读取信号，而由副光束形成的副光斑被用于检测轨道误差。在DPP方法中，通过使用主光斑和两个副光斑，产生寻轨误差信号。参照图2B，主要光电检测器23从主要光斑接收光。光电检测器23在垂直和水平方向被分成了四部分。参照图2A和2C，两副光电检测器21和25的每个从副光斑接收光并且每一光电检测器21和25在水平方向被分成两部分。当光电检测器的输出信号由A、B、C、D、E、F、G、和H表示时，寻轨误差信号分别由如下方程获得MPP＝(B+C)-(A+D)SPP1＝E-FSPP2＝G-HDPP＝MPP-k(SPP1+SPP2)这里，主推挽(MPP)信号是由在主光电检测器中产生的信号的对角差，副推挽(SPP)1和SPP2是由分别在副光电检测器产生的信号的差。此外，k表示系数，DPP表示由DPP方法产生的寻轨误差信号。参照图2A，第一减法器22执行由在第一副光电检测器21产生的E和F信号的减法，以产生SPP1信号，并且第三减法器26执行在第二副光电检测器25产生的G和H信号的减法，以产生SPP2信号。同时，第二减法器24使用在主要光电检测器23产生的A、B、C、和D信号来产生由MPP＝(B+C)-(A+D)给出的MPP信号。
技术实现思路
根据本专利技术的一方面，提供一种能够对盘区域类型进行简单识别的盘区域类型检测方法和设备。根据本专利技术的另一方面，提供了一种盘区域类型检测方法，该方法包括基于从盘反射的信号检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和基于所述差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。根据本专利技术的另一方面，差值的检测可包括检测(SPP1-SPP2)的峰峰值。此时，确定区域类型可包括如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超过预定的阈值，则确定所述区域是存储介质相关的信息区域。根据本专利技术的另一方面，差值的检测可包括检测在SPP1和SPP2之间的相位差。此时检测区域类型还可包括如果相位差被作为直流(DC)输出，则确定所述区域是存储介质相关的信息区域。根据本专利技术的另一方面，所述方法还可包括基于确定结果向锁相环(PLL)输出PLL的条件。根据本专利技术的另一方面，提供了一种用于检测盘的区域的类型的盘区域类型检测设备，该设备包括差值信号检测单元，用于基于从盘反射的信号来检测在SPP1信号和SPP2信号之间的差值；和区域确定单元，用于基于检测的差值来确定盘上的区域是存储介质相关的信息区域还是用户数据区域。本专利技术的另外方面和/或优点将在如下的描述中被部分地阐述，部分地，从描述中将变得明显，或可通过本专利技术的实施被理解。附图说明通过结合附图进行的对实施例的如下的描述，本专利技术的这些和/或其他方面和优点将变得清楚和易于理解，其中图1示出根据传统技术的光信息存储介质的示例；图2A至2C示出根据传统技术的推挽信号产生方法；图3A和3B示出根据本专利技术的实施例的子光束的相位关系以解释确定存储介质相关的信息区域的概念；图4是根据本专利技术的实施例的包括区域检测单元的光记录和/或再现设备的结构的示图；图5示出在图4中所示的区域检测单元的实施例；图6示出在图4中所示的区域检测单元的另一实施例；图7A和7B显示在偏轨(off-track)状态下对用户数据区域和存储介质相关的信息区域的(SPP1-SPP2)信号的比较的图表；图8A至8D显示在R-tilt变化情况下的比较(SPP1-SPP2)信号的图；图9A至9D显示在T-tilt变化情况下的比较(SPP1-SPP2)信号的图；和图10A和10B示出在偏轨状态下用户数据区域和存储介质相关的信息区域的相位差信号的图。具体实施例方式现在，将详细地参照本专利技术的实施例和附图中所示的实例，其中相同的标号指的是表示相同的部件。实施例被描述如下以通过参照附图解释本专利技术。参照图3A，可以看出在用户数据区域的SPP1和SPP2精确地对应，而在图3B中，在存储介质相关的信息区域中在SPP1和SPP2之间则有相位差。因此，本专利技术的实施例基于通过检测子光束SPP1和SPP2的相位差可将用户数据区域与存储介质相关的信息区域进行区别的事实。图4是根据本专利技术的实施例的包括区域检测单元的光记录和/或再现设备的结构的示图。本专利技术所使用的光记录和/或再现设备包括光盘410、拾取器(pickup)420、RF和伺服误差产生单元440、伺服控制单元450、聚焦伺服驱动单元460、寻轨伺服驱动单元470、滑动伺服驱动单元480、滑动发动机430、和PLL 490。拾取器420包括包括激光二极管的光系统、光检测器、多个透镜、和聚焦/寻轨驱动器。根据伺服控制单元450的寻轨和聚焦，光束被会聚到物镜上，并且拾取器420指引光束到光盘410的轨道上。并且，为了检测聚焦误差信号和寻轨误差信号，从光盘410的记录表面上反射的光被再次会聚到物镜上并且被指引到光检测器上。光电检测器包括多个光电检测装置，并且将与由每一光电检测装置获得的光数量成比例的电信号输出到RF和伺服误差产生单元440。RF和伺服误差产生单元440从在光电检测器的每一光电检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种盘区域类型检测方法包括：基于从盘反射的信号检测在副推挽（ＳＰＰ）１信号和ＳＰＰ２信号之间的差值；和基于所述差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。

【技术特征摘要】
KR 2004-9-2 10-2004-00699981.一种盘区域类型检测方法包括基于从盘反射的信号检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和基于所述差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。2.根据权利要求1所述的方法，其中，检测差值包括检测(SPP1-SPP2)的峰峰值。3.根据权利要求2所述的方法，其中，确定盘区域类型包括如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超过预定的阈值，则确定盘的区域是存储介质相关的信息区域。4.根据权利要求1所述的方法，其中，检测差值包括检测在SPP1和SPP2之间的相位差。5.根据权利要求4所述的方法，其中，确定区域类型还包括如果相位差被输出直流(DC)，则确定盘的区域是存储介质相关的信息区域。6.根据权利要求1所述的方法，还包括基于所述区域是存储介质相关的信息区域还是用户数据区域的确定来向锁相环(PLL)输出PLL条件。7.一种检测盘区域的类型的盘区域类型检测设备，包括差值信号检测单元，用于基于从盘反射的信号来检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和区域确定单元，用于基于检测的差值来确定盘上的区域是存储介质相关的信息区域还是用户数据区域。8.根据权利要求7所述的设备，其中，差值信号检测单元检测(SPP1-SPP2)的峰峰值。9.根据权利要求8所述的设备，其中，如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超过预定的阈值，则区域确定单元确定该区域是存储介质相关的信息区域。10.根据权利要求7所述的设备，其中，差值信号检测单元检测SPP1和SPP2之间的相位差。11.根据权利要求10所述的设备，其中，如果相位差输出直流(DC)，则区域确...

【专利技术属性】
技术研发人员：马炳寅，金宽俊，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]