管理记录介质中的缺陷的方法和设备及使用该方法获得的缺陷被管理的记录介质技术

技术编号:3057593 阅读:140 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种管理记录介质缺陷的方法、设备和计算机可读介质以及一种缺陷被管理的记录介质。所述记录介质包括:备用区,在其中形成有作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区;和临时缺陷管理区,在其中记录有用于指定所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息,其中,关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。因此,即使对所述记录介质的记录介质缺陷管理被异常结束,也可恢复缺陷信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于记录介质的缺陷管理,更具体地讲,涉及一种即使当异常终止记录介质的缺陷管理时也执行记录介质的缺陷管理的方法、设备和计算机可读介质,以及一种使用该方法、设备和计算机可读介质获得的缺陷被管理的记录介质。
技术介绍
缺陷管理包括在用户数据区新的部分对存储在记录介质的用户数据区的缺陷区中的数据进行重写的过程,从而补偿由缺陷区导致的数据丢失。通常,使用线性替换或滑移替换来执行缺陷管理。在线性替换中,存储在用户数据区的缺陷区中的数据被记录在没有缺陷的备用数据区中。在滑移替换中,用户数据区的缺陷区被跳过,没有缺陷的用户数据区的下一个可用区被使用。然而,线性替换和滑移替换二者都仅适用于在其上可重复写数据并且可使用随机访问方法执行记录的比如DVD-RAW/RW盘的记录介质。难以在仅允许记录一次的一次写入记录介质上执行线性替换和滑移替换。通常,通过在记录介质上记录数据并然后确认数据是否被正确地写在该记录介质上来检测记录介质中缺陷的存在。然而,一旦数据被写在一次写入记录介质上,则此后无法在该一次写入记录介质上再写新数据并管理缺陷。管理在其上写入的数据不能被擦除或重写的一次写入记录介质上的缺陷的其它方法、设备和计算机可读介质包括可能包含再现和/或记录介质驱动器的使用以生成被缺陷管理的一次写入记录介质的方法、设备和介质。然而,由于不可避免的事件,例如,当由于电源故障导致供应给再现和/或记录介质驱动器的电源中断时,由再现和/或记录介质驱动器执行的缺陷管理可被异常停止。因此,在此研究并描述了不管这些中断而产生所得的被缺陷管理的记录介质的设备、方法和计算机可读介质。专
技术实现思路
本专利技术提供一种对至少由于比如电源故障的不可避免的事件导致异常终止缺陷管理的记录介质执行缺陷管理的方法、设备以及计算机可读介质,和一种执行用于以上补偿的缺陷被管理的一次写入盘。本专利技术的另外方面和/或优点将在下面的描述中被部分地阐述,并且部分地根据描述将变得清楚,或者可以通过实施本专利技术而被了解。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种记录介质,包括备用区,其存储作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区;和临时缺陷管理区,其存储用于识别所述缺陷区和所述替换区的临时管理信息,其中,关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。关于缺陷区的位置信息和状态信息可以在对替换区中记录的数据进行纠错码(ECC)编码期间被ECC编码。另外,ECC编码的数据以及所述位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种管理记录介质中的缺陷的方法,包括将用于所述记录介质的缺陷区的替换区记录在备用区中;和将用于识别所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息记录在所述记录介质的临时缺陷管理区中,其中,关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。该方法还可包括记录临时管理信息,所述临时管理信息是在最终确定所述记录介质期间最后被记录在缺陷管理区(DMA)中的临时缺陷管理区中。最后被记录的临时管理信息可被记录在所述记录介质的导入区和导出区中的至少一个中的缺陷管理区中。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种设备,包括记录/读取单元,其将数据记录到记录介质和/或从记录介质记录数据;和控制器,其控制将用于所述记录介质的缺陷区的替换区的数据记录到所述记录介质的备用区中,并且控制所述记录/读取单元将用于识别缺陷区和替换区的临时管理信息记录在临时缺陷管理区中,并且控制所述记录/读取单元将关于所述缺陷区的位置信息的状态信息记录在所述替换区中。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种管理记录介质中的缺陷的方法,包括确定记录介质的缺陷管理是否被成功地完成;当确定所述记录介质的缺陷管理没有被成功完成时,从用于所述记录介质的缺陷区的所述记录介质的替换区读取最后记录的缺陷信息,并且产生新的缺陷信息;和基于所产生的缺陷信息更新所述记录介质的缺陷管理区中的缺陷管理信息。确定记录介质的缺陷管理是否被成功地完成可通过检查关于所述记录介质的一致性标志而被确定。所述产生新的缺陷信息的步骤还可包括从所述替换区读取关于所述缺陷区的位置信息。所述产生新的缺陷信息的步骤还可包括基于先前的缺陷信息和读取的缺陷信息产生新的缺陷信息。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种管理记录介质中的缺陷的方法,包括确定先前是否成功地完成记录介质的缺陷管理;扫描以备用位映射(SBM)识别的据称不包含记录数据的记录介质的部分,并且验证所述部分是否不包含记录的数据;和基于所述记录介质的所述部分的验证来更新备用位映射,以准确地反映所述记录介质的记录状态。SBM的更新还可包括将更新的SBM作为临时管理信息记录在所述记录介质上的临时缺陷管理区中。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种设备,包括记录/读取单元,其从将数据记录到记录介质记录和/或从记录介质记录数据;和控制器,其确定记录介质的缺陷管理先前是否被成功地完成,当所述记录介质的缺陷管理被确定先前没有被成功地完成时,控制记录/读取单元记录来自替换区的最后记录的缺陷信息并且产生新的缺陷信息,并且控制所述记录/读取单元基于产生的缺陷信息更新所述记录介质的缺陷管理区(DMA)。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种设备,包括拾取器,其将数据记录到记录介质和/或从记录介质记录数据;控制器,其控制所述拾取器记录和/或读取数据以确定记录介质的缺陷管理先前是否被成功地完成,扫描以在所述记录介质上的最后记录的备用位映射(SBM)识别的据称没有包含记录数据的记录介质的部分,以验证当所述记录介质的缺陷管理被确定先前没有被成功地完成时数据是否被记录在该部分中,并且基于对所述记录介质的所述部分的验证来更新备用位映射,以准确地反映所述记录介质的记录状态。所述控制器可控制将更新的SBM作为临时管理信息记录在所述记录介质的临时缺陷管理区中。为了实现上述和/或其它方面和优点,本专利技术实施例提供一种包括用于控制再现和/或记录设备执行上述方法中的任何一种的计算机可读代码的计算机可读介质。附图说明通过结合附图,从实施例的下面描述中,本专利技术上述和/或其它方面及优点将会变得更易于理解,其中图1A和1B示出根据本专利技术再现和/或记录的实施例的具有临时缺陷管理区(TDMA)和缺陷管理区的一次写入记录介质的数据结构;图2示出根据本专利技术实施例的用于执行记录介质的缺陷管理的设备的方框图;和图3是根据本专利技术实施例的包括图2的再现和/或记录设备的再现和/或记录介质驱动器的方框图;图4示出根据本专利技术实施例的记录介质的数据帧格式;图5示出当由于比如电源故障的不可避免的事件导致的异常终止记录介质的缺陷管理时形成的记录介质中的备用区;图6A-6C示出根据本专利技术另一实施例的用于解释恢复作为一种临时管理信息的备用位映射(SBM)的方法的示图;和图7是示出根据本专利技术另一实施例的记录介质的缺陷管理方法。具体实施例方式现在将详细描述本专利技术的实施例,其示例在附图中示出,其中,相同的标号始终表示相同的部件。下面通过参照附图来描述这些实施例以解释本专利技术。以下,将参照附图描述本专利技术的优选实施例。图1A和1B示出根据本专利技术实本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种记录介质,包括:备用区,其存储作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区;和临时缺陷管理区,其存储用于识别所述缺陷区和所述替换区的临时管理信息,其中,关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2003-5-1 10-2003-0028040;KR 2003-5-15 10-2003-01.一种记录介质,包括备用区,其存储作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区;和临时缺陷管理区,其存储用于识别所述缺陷区和所述替换区的临时管理信息,其中,关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。2.如权利要求1所述的记录介质,其中,每一记录操作都在所述临时缺陷管理区对所述临时管理信息进行更新。3.如权利要求2所述的记录介质,其中,还包括缺陷管理区(DMA),在其中记录在临时缺陷管理区中最后更新的临时管理信息。4.如权利要求3所述的记录介质,其中,所述DMA在所述记录介质的导入区和导出区中的至少一个中。5.如权利要求1所述的记录介质,其中,所述临时缺陷管理区在导入区和导出区中的至少一个中。6.如权利要求1所述的记录介质,其中,在对记录在所述替换区中的数据进行纠错码(ECC)编码期间,对所述关于所述缺陷区的位置信息和状态信息进行ECC编码。7.如权利要求1所述的记录介质,其中,ECC编码的数据以及所述位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。8.一种管理记录介质中的缺陷的方法,包括将用于所述记录介质的缺陷区的替换区记录在备用区中;和将用于识别所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息记录在所述记录介质的临时缺陷管理区中,其中,关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。9.如权利要求8所述的方法,其中,所述临时管理信息被记录在所述记录介质的导入区和导出区中的至少一个中的临时缺陷管理区中。10.如权利要求8所述的方法,还包括在最终确定所述记录介质期间将最后被记录在所述临时缺陷管理区中的临时管理信息记录在缺陷管理区(DMA)中。11.如权利要求10所述的方法,其中,最后被记录的临时管理信息被记录在所述记录介质的导入区和导出区中的至少一个中的DMA中。12.如权利要求8所述的方法,其中,所述位置信息和状态信息与将被记录在所述替换区中的数据的ECC一起被ECC编码。13.如权利要求8所述的方法,其中,所述位置信息和状态信息和ECC编码的数据被记录在所述替换区中。14.如权利要求8所述的方法,其中,每当执行所述替换区的记录或多个替换区的记录时,所述临时缺陷管理信息的记录被执行。15.如权利要求8所述的方法,其中,所述替换区的记录或多个替换区的记录表示记录操作,并且每一记录操作都执行所述临时缺陷管理信息的记录。16.一种设备,包括记录/读取单元,其将数据记录到记录介质和/或从记录介质记录数据;和控制器,其控制将用于所述记录介质的缺陷区的替换区的数据记录到所述记录介质的备用区中,并且控制所述记录/读取单元将用于识别缺陷区和替换区的临时管理信息记录在临时缺陷管理区中,并且控制所述记录/读取单元将关于所述缺陷区的位置信息的状态信息记录在所述替换区中。17.如权利要求16所述的设备,其中,所述控制器控制所述记录/读取单元将所述临时管理信息记录在所述记录介质的导入区和导出区的至少一个中形成的临时缺陷管理区中。18.如权利要求16所述的设备,其中,所述控制器控制所述记录/读取单元在最终确定记录介质期间将最后记录在所述临时缺陷管理区中的临时管理信息记录在缺陷管理区(DMA)中。19.如权利要求16所述的设备,其中,所述控制器控制所述记录/读取单元将最终记录在临时缺陷管理区中的临时管理信息记录在所述导入区和所述导出区的至少一个中的缺陷管理区(DMA)中。20.如权利要求16所述的设备,其中,所述控制器控制所述记录/读取单元对所述位置...

【专利技术属性】
技术研发人员:黃盛凞高祯完李坰根
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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