光学记录介质及其制造方法以及数据记录和读取方法技术

根据本发明专利技术的一种光学记录介质（１０），包括：其上形成有凹槽（１１ａ）的支撑基板（１１）、透光层（１２），在支撑基板（１１）与透光层（１２）之间设置的贵金属氧化物层（２３），其中，凹槽（１１ａ）的深度设定为大于λ／８ｎ但小于等于６０ｎｍ，此处，ｎ是透光层（１２）对波长为λ的光的折射率。因此，通过将激光束照射在贵金属氧化物层（２３）上，在进行超分辨率记录和超分辨率读取时，可获得良好的信号特性，尤其是有足够幅值的推挽信号。此外，因为凹槽的深度设定为６０ｎｍ或更小，在生产用于制造基板的模片时不会出现较大的困难。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光学记录介质及其制造方法，以及，更具体地，涉及一类通过放出气体形成记录标记的光学记录介质及其制造方法。此外，本专利技术涉及用于光学记录介质的数据记录方法和数据读取方法，以及，更具体地，涉及用于一类通过放出气体形成记录标记的光学记录介质的数据记录方法和数据读取方法。
技术介绍
近年来，作为用于记录高容量数字数据的记录介质，广泛使用以CD(Compact Disc)和DVD(Digital Versatile Disc)为代表的光学记录介质。CD中既不能添加数据也不能重写数据的一类(CD-ROM)具有这样一种结构，使得反射层和保护层叠放在厚度为大约1.2mm的透光基板上。然后，通过将波长约780nm的激光束从透光基板侧照射在反射层上，可以进行数据的读出。另一方面，CD中数据可记录的一类(CD-R)或者数据可重写的一类(CD-RW)具有这样一种结构，使得在透光基板和反射层之间增加记录层。然后，通过将波长约780nm的激光束从透光基板侧照射在记录层上，可进行数据的记录和读出。在CD中，使用数值孔径约0.45的物镜会聚激光束，使得反射层或者记录层上激光束的光束点直径可缩小本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学记录介质，包括：其上形成有凹槽的基板；设置在所述基板上的贵金属氧化物层；第一电介质层，当从所述贵金属氧化物层观看，该第一电介质层设置在光入射平面侧；以及第二电介质层，当从所述贵金属氧化物层观看，该第二 电介质层设置在所述光入射平面的相对侧；其中，通过将波长为λ的激光束沿着所述凹槽照射在所述贵金属氧化物层上，所述光学记录介质能记录数据，以及所述凹槽的深度设定为大于λ／８ｎ但小于等于６０ｎｍ，此处，ｎ是所述激光束的光路对波长为 λ的光的折射率。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2003-9-4 312104/20031.一种光学记录介质，包括其上形成有凹槽的基板；设置在所述基板上的贵金属氧化物层；第一电介质层，当从所述贵金属氧化物层观看，该第一电介质层设置在光入射平面侧；以及第二电介质层，当从所述贵金属氧化物层观看，该第二电介质层设置在所述光入射平面的相对侧；其中，通过将波长为λ的激光束沿着所述凹槽照射在所述贵金属氧化物层上，所述光学记录介质能记录数据，以及所述凹槽的深度设定为大于λ/8n但小于等于60nm，此处，n是所述激光束的光路对波长为λ的光的折射率。2.根据权利要求1所述的光学记录介质，其中，所述凹槽的深度设定为大于等于λ/7n但小于等于50nm。3.根据权利要求1所述的光学记录介质，进一步包括当从第二电介质层观看，在所述光入射平面的相对侧，按次序布置的光吸收层和第三电介质层。4.根据权利要求3所述的光学记录介质，进一步包括设置在所述基板和所述第三电介质层之间的反射层。5.根据权利要求1所述的光学记录介质，其中，在所述贵金属氧化物层中包含铂氧化物(PtOx)。6.根据权利要求1至权利要求5中任一项权利要求所述的光学记录介质，进一步包括透光层，当从所述第一电介质层观看，该透光层设置在所述基板的相对侧上，作为所述激光束的所述光路；以及其中，所述基板的厚度设定为大于等于0.6mm但...

【专利技术属性】
技术研发人员：菊川隆，福泽成敏，小林龙弘，
申请(专利权)人：TDK株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]