【技术实现步骤摘要】
基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样
[0001]本公开大体上涉及存储器子系统,且更具体地说,涉及基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样。
技术介绍
[0002]存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可以是例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说,主机系统可利用存储器子系统以将数据存储在存储器装置处且从存储器装置检索数据。
技术实现思路
[0003]在一个方面中,本公开涉及一种方法,其包括:对存储器装置的数据单元进行第一编程擦除循环(PEC),其中进行所述第一PEC包括扫描所述数据单元的多个页中的第一组页以确定与所述第一组页相关联的第一错误率;对所述存储器装置的所述数据单元进行第二PEC,其中进行所述第二PEC包括扫描所述数据单元的所述多个页中的第二组页以确定与所述第二组页相关联的第二错误率;基于所述第一错误率和所述第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式;比较所述数据单元的所述错误率变化的第一型式与错误率变化的预定第二型式,其 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种方法,其包括:对存储器装置的数据单元进行第一编程擦除循环PEC,其中进行所述第一PEC包括扫描所述数据单元的多个页中的第一组页以确定与所述第一组页相关联的第一错误率;对所述存储器装置的所述数据单元进行第二PEC,其中进行所述第二PEC包括扫描所述数据单元的所述多个页中的第二组页以确定与所述第二组页相关联的第二错误率;基于所述第一错误率以及所述第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式;比较所述数据单元的所述错误率变化的第一型式与错误率变化的预定第二型式,其中所述错误率变化的预定第二型式指示缺陷;以及响应于确定所述错误率变化的第一型式对应于所述错误率变化的预定第二型式,进行与关于所述数据单元的缺陷修复有关的动作。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一组页包括在所述数据单元内在第一位置处开始的以均匀间隔定位的页的子组。3.根据权利要求2所述的方法,其中所述第二组页包括在第二位置处开始的以所述均匀间隔定位的页的第二子组,其中所述第二位置从所述第一位置移位一偏移。4.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括:基于所述错误率变化的第一型式来更新用于定位所述数据单元的所述第一组页以及所述第二组页中的页的所述均匀间隔。5.根据权利要求1所述的方法,其中所述错误率变化的预定第二型式是从与具有一或多个缺陷的一或多个数据单元相关联的历史数据导出的。6.根据权利要求1所述的方法,其中与缺陷修复有关的所述动作包括以下中的至少一个:使所述数据单元引退或以比扫描所述存储器装置的其它数据单元的速率更高的速率扫描所述数据单元。7.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:在所述存储器装置处接收编程擦除请求以对多个对应数据单元进行多个编程擦除循环;以及在对所述多个对应数据单元进行所述多个所述编程擦除循环后,扫描所述多个对应数据单元的子组,其中所述子组是基于预定标准确定的。8.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:响应于确定所述错误率变化的第一型式不对应于所述错误率变化的预定第二型式:将所述第一错误率以及所述第二错误率存储在存储位置处;以及释放与所述第一组页相关联的第一组奇偶校验数据以及与所述第二组页相关联的第二组奇偶校验数据。9.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述错误率变化的第一型式进一步包括:从存储位置检索与所述数据单元的所述多个页中的第三组页相关联的第三错误率;以及基于所述第一错误率、所述第二错误率以及所述第三错误率来确定所述错误率变化的第一型式。10.一种系统,其包括:
存储器装置;以及处理装置,其以操作方式与所述存储器装置耦合以进行包括以下的操作:扫描所述存储器装置的数据单元的多个页中的一组页以确定与所述一组页相关联的第一错误率;从存储位置检索与所述数据单元相关联的第二错误率;基于所述第一错误率以及所述第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式;比较所述错误率变化的第一型式与错误率变化的预定...
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