记录/再现方法以及分配光学记录介质的区域的方法技术

一种由设备使用和／或在计算机可读介质上编码的记录方法，包括：选择缺陷管理开模式或缺陷管理关模式，所述缺陷管理开模式或缺陷管理关模式指示在数据被记录在记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质中；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及盘的领域，更具体地说，涉及一种记录/再现方法、一种记录/再现设备、一种光学记录介质和一种已经在其上记录用于所述记录/再现方法的程序的计算机可读记录介质。
技术介绍
近年来，光学记录技术(即，用于在光盘上记录数据的技术)已经取得了显著的进步。随着这些进步，各种类型的光盘记录/再现设备已经被开发。一次写入光盘是一种数据仅可被写入一次的光盘。例如，传统的可记录致密盘(CD-R)和可记录数字多功能盘(DVD-R)是一次写入光盘的形式。一般地，在一次写入光盘中，通过将热量施加于使用激光以形成记录标记的记录层的预定区域，记录层的状态被改变。缺陷管理涉及重写已经被记录在产生缺陷的用户数据区中的用户数据，从而补偿由缺陷的产生引起的数据丢失。传统上，缺陷管理分为使用线性替换方法的缺陷管理和使用滑移替换方法的缺陷管理，在线性替换方法中，产生缺陷的用户数据区的区域被没有产生缺陷的备用区的区域替换。在滑移替换方法中，产生缺陷的区域被滑移过，而没有使用这样的区域，并且没有产生缺陷的下一区域被使用。在线性替换方法的情况下，产生缺陷的用户数据区的块被称为缺陷块，并且在盘的预定区域中设置备用区，所述备用区是用于替换缺陷块的替换块的空间。因为一次写入光盘不能被重写，所以与可重写光盘中的缺陷管理方法不同的缺陷管理方法可被采用。在一次写入光盘的情况下，上述缺陷管理方法可被使用或可不被使用。因此，需要一种基于缺陷管理是否被使用来使用一次写入光盘的方法。
技术实现思路
本专利技术的一方面提供了一种记录/再现方法、一种记录/再现设备、一种光学记录介质和一种已经在其上记录用于所述记录/再现方法的程序的计算机可读记录介质，其中，根据缺陷管理是否被采用，一次写入光盘可被使用。在下面的描述中将部分地阐明本专利技术另外的方面和/或优点，通过描述，其会变得更加明显，或者通过实施本专利技术可以了解。根据本专利技术的一方面，一种在记录介质上记录数据的方法包括在指示是否将对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间选择可选的缺陷管理模式；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对该记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质上；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。根据本专利技术的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤包括将记录介质初始化为缺陷开模式，所述初始化包括将用于替换在记录介质的数据区中产生的缺陷的备用区分配给数据区；以及将临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的临时缺陷管理区中，所述临时缺陷管理信息包括关于分配的备用区的信息和指示缺陷管理开模式的标识符。根据本专利技术的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括以预定的操作为单位将替换块记录在备用区中，所述替换块替换关于在数据区中产生的缺陷的缺陷块；以及以预定的操作为单位在临时缺陷管理区中更新关于缺陷的信息和作为临时缺陷管理信息的对于缺陷管理的缺陷管理信息。根据本专利技术的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括改变备用区的大小，以及在临时缺陷管理区中更新临时缺陷管理信息，所述临时缺陷管理信息包括关于备用区的改变的大小的信息。根据本专利技术的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括将缺陷管理开模式转换为缺陷管理关模式。根据本专利技术的一方面，转换为缺陷管理关模式的步骤包括将记录介质重新初始化为缺陷管理关模式；以及在没有缺陷管理的情况下将数据记录在记录介质中。根据本专利技术的一方面，重新初始化为缺陷管理关模式的步骤包括将指示缺陷管理关模式的标识符记录在临时缺陷管理区中；以及将在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的缺陷管理区中。根据本专利技术的一方面，所述记录方法还包括最终确定记录介质，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质的最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将包括临时缺陷管理区中的最终更新的关于缺陷的信息和缺陷管理信息的临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的缺陷管理区中；以及以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。根据本专利技术的一方面，在缺陷管理关模式下记录数据的步骤包括以预定的操作为单位将数据记录在记录介质中提供的数据区中；以及根据数据的记录，在记录介质中提供的临时缺陷管理区中更新记录管理信息。根据本专利技术的一方面，所述记录方法还包括最终确定记录介质，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质被最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将在临时缺陷管理区中最终更新的记录管理信息记录在记录介质中提供的缺陷管理区中；以及以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。根据本专利技术的另一方面，一种再现记录在记录介质上的数据的方法，所述记录介质包括连续排列的导入区、数据区和导出区，该方法包括从导入区或导出区中提供的临时缺陷管理区读取指示是否对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开/关模式信息，以更新关于在数据区中产生的缺陷的信息和用于每一预定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息；以及基于读取的缺陷管理开/关模式信息来读取在记录数据区中的数据。根据本专利技术的一方面，所述再现方法还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理开模式，那么从临时缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。根据本专利技术的一方面，所述再现方法还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；以及从记录介质中提供的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。根据本专利技术的一方面，所述再现方法还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理关模式，那么从临时缺陷管理区读取最终的记录管理信息。根据本专利技术的一方面，所述再现方法还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；以及从记录介质中提供的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。根据本专利技术的另一方面，一种用于在记录介质上再现和/或记录数据的设备，包括记录/读取单元，其传递关于记录介质的数据；以及控制单元，其将缺陷管理模式选择为缺陷管理开模式和缺陷管理关模式的一种，所述缺陷管理模式指示在记录介质上记录数据的同时是否执行缺陷管理，并且如果缺陷管理开模式被选择，那么控制记录/读取单元在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在记录介质中，并且如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在记录介质中。根据本专利技术的另一方面，一种用于在记录介质上记录数据和/或再现记录在记录介质上的数据的设备，所述记录介质包括连续排列的导入区、数据区和导出区，该设备包括读取单元，其传递关于记录介质的数据；以及控制单元，其控制读取单元从导入区或导出区中提供的临时缺陷管理区读取指示是否对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开/关模式信息，以更新关于在数据区中产生的缺陷的信息和用于每一预定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息，并且基于读取的缺陷管理开/关模式信息来控制读取单元读取记录在数据区中的数据。根据本专利技术的另一方面，一种光学记录介质，包括连续排列的导入区、数据区和导出区；临时缺陷管理区，用于记录关于数据区中产生的缺陷的信息，其中导入区或导出区和临时缺陷管理信息用于缺陷的管理；以及缺陷管理区，用于记录最终的关于缺陷的信本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在记录介质上记录数据的方法，该方法包括：在缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间选择可选的缺陷管理模式，从而选择的模式指示是否将对记录介质执行缺陷管理；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对该记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录 在该记录介质上；和如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质上。

【技术特征摘要】
KR 2003-4-15 10-2003-0023728;KR 2003-4-15 10-2003-1.一种在记录介质上记录数据的方法，该方法包括在缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间选择可选的缺陷管理模式，从而选择的模式指示是否将对记录介质执行缺陷管理；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对该记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质上；和如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质上。2.如权利要求1所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤包括将该记录介质初始化为缺陷管理开模式，其中所述初始化包括将备用区分配给记录介质的数据区，以用于替换在该记录介质的数据区中产生的缺陷；和将临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的临时缺陷管理区中，所述临时缺陷管理信息包括关于分配的备用区的信息和指示缺陷管理开模式的标识符。3.如权利要求2所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括以预定的操作为单位将替换块记录在备用区中，所述替换块替换关于在数据区中产生的缺陷的缺陷块；和以预定的操作为单位在临时缺陷管理区中更新关于缺陷的信息和作为临时缺陷管理信息的对于缺陷管理的缺陷管理信息。4.如权利要求3所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括改变备用区的大小；和更新临时缺陷管理信息以包括关于备用区的改变的大小的信息，并且将更新的临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区中。5.如权利要求3所述的方法，其中，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括将缺陷管理开模式转换为缺陷管理关模式。6.如权利要求5所述的方法，其中，转换为缺陷管理关模式的步骤包括将记录介质重新初始化为缺陷管理关模式；和在记录介质被重新初始化为缺陷管理关模式之后，在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。7.如权利要求6所述的方法，其中，重新初始化为缺陷管理关模式的步骤包括将指示缺陷管理关模式的标识符记录在临时缺陷管理区中；和将在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息记录在记录介质的缺陷管理区中。8.如权利要求3所述的方法，还包括最终确定记录介质。9.如权利要求8所述的方法，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质的最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将临时缺陷管理信息记录在记录介质的缺陷管理区中，所述记录临时缺陷管理信息包括记录最终更新的关于缺陷的信息和临时缺陷管理区的缺陷管理信息；和以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。10.如权利要求1所述的方法，其中，在缺陷管理关模式下记录数据的步骤包括以预定的操作为单位将数据记录在记录介质的数据区中；和根据数据的记录，在记录介质的临时缺陷管理区中更新记录管理信息。11.如权利要求10所述的方法，还包括最终确定记录介质。12.如权利要求11所述的方法，其中，最终确定记录介质的步骤包括将指示记录介质被最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将在临时缺陷管理区中最终更新的记录管理信息记录在记录介质的缺陷管理区中；和以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。13.一种再现记录在记录介质上的数据的方法，所述记录介质具有连续排列的导入区、数据区和导出区，该方法包括从导入区或导出区中的临时缺陷管理区读取指示是否对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开/关模式信息，以用于更新关于在数据区中产生的缺陷的信息和用于每一预定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息；和基于所述读取的缺陷管理开/关模式信息，来读取记录在数据区中的数据。14.如权利要求13所述的方法，还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理开模式，那么从临时缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。15.如权利要求14所述的方法，还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；和从记录介质的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。16.如权利要求13所述的方法，还包括如果读取的缺陷管理开/关模式信息是缺陷管理关模式，那么从临时缺陷管理区读取最终的记录管理信息。17.如权利要求16所述的方法，还包括从临时缺陷管理区读取指示记录介质被最终确定的最终确定标志；和从记录介质的缺陷管理区读取最终更新的关于缺陷的信息和最终更新的缺陷管理信息。18.一种在记录介质上记录数据的方法，该方法包括检测在缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间可选的缺陷管理模式的信息，在所述缺陷管理开模式中，执行缺陷管理以管理在记录介质上的缺陷，在所述缺陷管理关模式中，没有执行缺陷管理以管理在记录介质上的缺陷；和根据选择的缺陷管理模式来传递关于记录介质的数据。19.如权利要求18所述的方法，其中，所述检测信息的步骤包括通过输入装置接收信息以确定选择的管理模式。20.如权利要求18所述的方法，其中，所述检测信息的步骤包括从设备接收信息，该设备将执行传递以确定选择的缺陷管理模式。21.如权利要求20所述的方法，其中，所述传递数据的步骤包括记录数据，并且所述方法还包括如果检测的信息是缺陷管理开模式，那么通过使用用于管理在记录数据期间发生的缺陷的缺陷管理来记录数据。22.如权利要求18所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：黃盛凞，高祯完，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]