对存储介质上的光学效应的分析制造技术

本发明专利技术公开了一种用于分析光学记录介质上的光学效应的质量的方法，以及该方法与优化写入策略和对于光学记录介质分析写入质量相结合的应用。该方法包括以下步骤：确定所测得的光学信号（６１）和标称光学信号（６０）的波形，以及从所测得的波形与标称波形中的差异（６２－６５）计算幅度差参数。因此，所述光学效应的质量量度可以从该幅度差参数确定。该方法的应用包括（但不局限于）：用于从光学存储介质上读取光学效应的设备，其具有用于确定幅度差参数的装置；光学记录仪器，其具有用于调节写入策略中的功率电平和／或电平持续时间的装置；以及用于控制光学存储仪器的ＩＣ。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】技本领域本专利技术涉及一种分析光学记录介质上的光学效应的质量的方法，并且涉及该方法的应用。
技术介绍
近年来，向光盘进行写入信息以及从光盘读取信息的技术取得了显著进步。随着技术进步，出现了不同种类的记录格式以及相应的介质。当今的市场上，尤其存在着只读介质(即ROM盘，例如用于音乐重放)、一次性写入光盘(其中只能写入数据一次，但可以读取多次)以及可重写盘(用于多次记录和擦除数据)。这三种不同格式中的每一种都有其存在的原因，也各有优缺点。这三类介质的共同希望是增加数据容量，由此可在单个盘上存在或提供更多的数据。然而，存在很多限制数据容量大小的因素。一个重要因素是光点的尺寸，它在高容量盘上几乎与该盘上的最小光学效应的尺寸一样大。在这一限制条件下，多于单个比特的信息可由所述光点检测到，从而导致符号间干扰(ISI)。在蓝光光盘(BD)格式下，有可能对于高达27GB的容量分析切分器(slicer)穿越间的时间，并由此确定光学效应的长度。但对于27GB以上的容量则不再可能明确地确定切分器电平，也无法进行同最佳功率校准(OPC)相结合的众所周知的抖动分析以用于在记录模式下调节写入策略。本专利技术的专利本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于分析光学记录介质（１１）上的光学效应（２３）的质量的方法，该方法包括以下步骤：ａ）确定来自该光学记录介质的所测得的光学信号的波形（６１）；ｂ）确定标称信号的波形（６０），该标称信号通过光学通道模型计算得到；ｃ）计 算幅度差参数，该幅度差参数基于所测得的波形与该标称波形中的幅度差，其中从该幅度差参数确定所述光学效应的质量量度。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2004-12-20 04106742.21.用于分析光学记录介质(11)上的光学效应(23)的质量的方法，该方法包括以下步骤a)确定来自该光学记录介质的所测得的光学信号的波形(61)；b)确定标称信号的波形(60)，该标称信号通过光学通道模型计算得到；c)计算幅度差参数，该幅度差参数基于所测得的波形与该标称波形中的幅度差，其中从该幅度差参数确定所述光学效应的质量量度。2.根据权利要求1的方法，其中，提供了幅度差参数的直方图(40)，并且从该直方图的宽度和中心位置确定所述质量量度。3.根据权利要求1的方法，其中，所述光学信号包括从具有第一宽度(311)的第一区域(22)反射的第一部分(28，31)以及从具有第二宽度(321)的第二区域(23)反射的第二部分(27，32)，其中从第一区域到第二区域的过渡被标记为前沿(33)，所述前沿由第二和第一宽度索引，从第二区域到第一区域的过渡被标记为后沿(34)，所述后沿由第一和第二宽度索引，其中在前沿和/或后沿附近获得所述幅度差参数。4.根据权利要求3的方法，其中，为特定类型的过渡获得所述幅度差参数。5.根据权利要求3的方法，其中，把所述幅度差参数确定为特定过渡之前的该区域的宽度和/或后面的该区域的宽度的函数。6.根据权利要求3的方法，其中，从过渡两端的所述幅度差的改变...

【专利技术属性】
技术研发人员：CA弗舒伦，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]