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本发明公开了一种用于分析光学记录介质上的光学效应的质量的方法，以及该方法与优化写入策略和对于光学记录介质分析写入质量相结合的应用。该方法包括以下步骤：确定所测得的光学信号（６１）和标称光学信号（６０）的波形，以及从所测得的波形与标称波形中的...
该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。

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