一种自动识别不良品的收集分类方法技术

技术编号:30492013 阅读:53 留言:0更新日期:2021-10-27 22:20
本发明专利技术公开了一种自动识别不良品的收集分类方法,包括位置区分和不良品区分步骤,步骤如下:S1:根据服务器内的位置摆放设置进行区分,将区分后的产品进行视像处理;S2:服务器内准确的位置内,视像结果内产品没有出现缺损或者破损等不良结果的,则系统识别处为良品,将良品放置到指定区域内;视像结果显示为不合格的产品时,则将不合格的产品归类放置;S3:服务器内位置不准确的,视像结果内产品没有出现缺损或者破损等不良结果的,则系统识别处为需要重新放置的产品,将产品重新放置到指定的区域;视像结果显示为不合格的产品时,将归类放置,此方法可以在托盘放置时,不仅对其位置进行判断,还可以区分不良品,并对不良品进行处理。理。理。

【技术实现步骤摘要】
一种自动识别不良品的收集分类方法


[0001]本专利技术属于半导体检测领域,尤其涉及一种自动识别不良品的收集分类方法。

技术介绍

[0002]安置设备在切割分离后,参照服务器下载的内存条放置图进行区分产品并摆放,缺少对不良品的处理,导致不良品流出,存在品质隐患和影响客户满意度。

技术实现思路

[0003]本专利技术所解决的技术问题在于提供一种自动识别不良品的收集分类方法。
[0004]本专利技术的的目的可以通过以下技术方案来实现:
[0005]一种自动识别不良品的收集分类方法,包括位置区分和不良品区分步骤,步骤如下:
[0006]S1:根据服务器内的位置摆放设置进行区分,将区分后的产品进行视像处理;
[0007]S2:服务器内准确的位置内,视像结果内产品没有出现缺损或者破损等不良结果的,则系统识别处为良品,将良品放置到指定区域内;视像结果显示为不合格的产品时,则将不合格的产品归类放置;
[0008]S3:服务器内位置不准确的,视像结果内产品没有出现缺损或者破损等不良结果的,则系统识别处为需要重新放置的产品,将产品重新放置到指定的区域;视像结果显示为不合格的产品时,则将不合格的产品归类放置。
[0009]本专利技术的有益效果:
[0010]此方法可以在托盘放置时,不仅对其位置进行判断,还可以区分不良品,并对不良品进行处理。
附图说明
[0011]图1为一种自动识别不良品的收集分类方法的结构示意图。
具体实施方式
[0012]结合附图所示,本专利技术的技术方案作进一步的描述:
[0013]一种自动识别不良品的收集分类方法,包括位置区分和不良品区分步骤,步骤如下:
[0014]S1:根据服务器内的位置摆放设置进行区分,将区分后的产品进行视像处理;
[0015]S2:服务器内准确的位置内,视像结果内产品没有出现缺损或者破损等不良结果的,则系统识别处为良品,将良品放置到指定区域内;视像结果显示为不合格的产品时,则将不合格的产品归类放置;
[0016]S3:服务器内位置不准确的,视像结果内产品没有出现缺损或者破损等不良结果的,则系统识别处为需要重新放置的产品,将产品重新放置到指定的区域;视像结果显示为
不合格的产品时,则将不合格的产品归类放置。
[0017]最后应说明的是:
[0018]本领域技术人员可以参考本文内容,实施该方法,实现其应用,特别需要指出的是,所有类似的替换和改动对本领域技术人员来说是显而易见的,它们都被视为包括在本专利技术内。本专利技术的方法及应用己经通过较佳的实施例进行了描述,相关人员明显能在不脱离本
技术实现思路
、精神和范围内对本文制各方法和应用进行改动或适当变更与组合,来实现和应用本专利技术技术。
[0019]以上实施例仅用以说明而非限制本专利技术的技术方案,尽管参照上述实施例对本专利技术进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解:依然可以对本专利技术进行修改或者等同替换,而不脱离本专利技术的精神和范围,而所附权利要求意在涵盖落入本专利技术精神和范围中的这些修改或者等同替换。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动识别不良品的收集分类方法,其特征在于:包括位置区分和不良品区分步骤,步骤如下:S1:根据服务器内的位置摆放设置进行区分,将区分后的产品进行视像处理;S2:服务器内准确的位置内,视像结果内产品没有出现缺损或者破损等不良结果的,则系统识别处为良品,将良品放置到指定...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕明
申请(专利权)人:海太半导体无锡有限公司
类型:发明
国别省市:

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