【技术实现步骤摘要】
一种3C产品内部尺寸的测量方法及测量装置
[0001]本专利技术涉及尺寸测量领域，具体涉及一种3C产品内部尺寸的测量方法及测量装置。
技术介绍
[0002]3C产品（计算机类、通信类和消费类电子产品）的内部尺寸是否精确，直接关系到产品的密封性。由于3C产品内部边缘的颜色、坡度多种多样，传统的2D、3D成像很难有明显完整的边界，导致测量结果的重复性、线性较差。目前对笔记本电脑的内部尺寸进行测量时发现，由于笔记本电脑的四周具有向外凸起的边缘，其内部容易产生遮挡，受产品颜色和特征（R角、圆弧、遮挡）的影响，使得成像位置不一定为管控位置，使得对笔记本电脑等一类3C产品的内部尺寸测量的准确性低。
技术实现思路
[0003]本专利技术针对3C产品内部尺寸测量过程中，内部产生的遮挡容易影响测量的准确性这一技术问题，一方面提供了一种3C产品内部尺寸的测量方法，另一方面还提供了一种3C产品内部尺寸的测量装置，其具体技术方案如下。
[0004]一方面，本专利技术所提供的一种3C产品内部尺寸的测量方法，该3C产品包括相对布...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种3C产品内部尺寸的测量方法，该3C产品包括相对布置的第一边缘与第二边缘，其特征在于，包括如下步骤：确定3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一轨迹；确定3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二轨迹；3D轮廓仪扫描时为倾斜状态；获取3D轮廓仪按照第一轨迹运动时的数值中心点组所形成的第一轨迹直线、以及按照第二轨迹运动时的数值中心点组所形成的第二轨迹直线之间的间距b；利用3D轮廓仪按照第一轨迹以所述倾斜状态扫描第一边缘；利用3D轮廓仪按照第二轨迹以所述倾斜状态扫描第二边缘；获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P2；获取3D轮廓仪扫描第一特征点P1时的第一数值中心点O1；获取3D轮廓仪扫描第二特征点P2时的第二数值中心点O2；获取第一数值中心点O1到第一特征点P1的水平距离a；获取第二数值中心点O2到第二特征点P2的水平距离c；根据距离a、b、c获取第一边缘到第二边缘的距离d，d=a+b+c。2.根据权利要求1所述的一种3C产品内部尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取3D轮廓仪按照第一轨迹运动时的数值中心点组所形成的第一轨迹直线、以及按照第二轨迹运动时的数值中心点组所形成的第二轨迹直线之间的间距b包括：沿第一边缘设置第一基准块，沿第二边缘设置第二基准块，所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，确定第一基准面与第二基准面之间的距离b1；利用3D轮廓仪按照第一轨迹以所述倾斜状态扫描第一基准块；利用3D轮廓仪按照第二轨迹以所述倾斜状态扫描第二基准块；获取第一轨迹直线到第一基准面的距离b2，获取第二轨迹直线到第二基准面的距离b3；获取间距b，b=b1‑
|b2|
‑
|b3|。3.根据权利要求2所述的一种3C产品内部尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取第一轨迹直线到第一基准面的距离b2包括：获取3D轮廓仪的倾斜角度θ，其中θ为3D轮廓仪的激光与第一基准块的第三基准面所形成的夹角；获取3D轮廓仪扫描第一基准块时，位于第一基准面上的任一点P3，P3（x3，h3）；获取点P3到第一轨迹直线的距离，该距离即为距离b2，b2=h3*cosθ+x3*sinθ；获取第二轨迹直线到第二基准面的距离b3与获取第一轨迹直线到第一基准面的距离b2的方法原理相同。4.根据权利要求1所述的一种3C产品内部尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取第一数值中心点O1到第一特征点P1的水平距离a包括：获取3D轮廓仪的倾斜角度θ，其中θ为3D轮廓仪的激光与第一基准块的第三基准面所形成的夹角；获取3D轮廓仪扫描的第一特征点P1的坐标值P1（x1，h1）；获取第一数值中心点O1到第一特征点P1的水平距离a，a=h1cosθ+x1sinθ获取第二数值中心点O2到第二特征点P2的水平距离c与获取第一数值中心点O1到第一
特征点P1的水平距离a的方法原理相同。5.根据权利要求3或4所述的一种3C产品内部尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取3D轮廓仪的倾斜角度θ包括：获取3D轮廓仪同一时刻投影至第三基准面的任意两点的坐标值，利用反正切函数获取倾斜角度θ。6.根据权利要求1所述的一种3C产品内部尺寸的测量方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：张庆祥，王临昌，潘冠健，周少峰，郑晓泽，唐小琦，陈英滔，谭辉，汤胜水，
申请(专利权)人：广东三姆森科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。