灵活边带支持系统和方法技术方案

本公开提供了灵活边带支持系统和方法。提出的实施例促进了测试系统中的不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，一种灵活边带支持系统包括负载板、耦合到负载板的测试电子设备、耦合到测试电子设备的控制器。负载板被配置为与多个被测装置(DUT)耦合，其中负载板包括带内测试端口和边带测试端口。测试电子设备被配置为测试多个DUT，其中测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中。控制器被配置为引导DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备并且控制器引导边带资源群组中的测试电子设备向DUT的各种测试操作的选择性分配。在一个示范性实现方式中，控制器同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。

【技术实现步骤摘要】
灵活边带支持系统和方法
[0001]相关申请
[0002]本申请要求2020年3月31日递交的标题为Flexible Sideband Support Systems and Methods(代理人案卷号ATSY
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0084)的临时申请63/002,842的权益和优先权，这里通过引用将该临时申请并入。


[0003]本专利技术涉及电子测试的领域。

技术介绍

[0004]电子系统和装置为现代社会的进步做出了重大贡献，并且促进了生产力的提高，以及降低了在各种商业、科学、教育和娱乐应用中分析和交流信息的成本。传统的测试系统和方法经常具有各种局限。
[0005]过去，测试器在处理DUT边带通信的不同类型协议方面是有一些受限的。此外，传统上对于每个DUT存在一个FPGA测试资源的固定关系。这些条件或特性的组合对于测试能力施加了若干约束并且实际上阻止了并行边带测试。

技术实现思路

[0006]提出的实施例促进了测试系统中的不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，一种灵活边带支持系统包括负载板、耦合到负载板的测试电子设备、耦合到测试电子设备的控制器。负载板被配置为与多个被测装置(DUT)耦合，其中负载板包括带内测试端口和边带测试端口。测试电子设备被配置为测试多个DUT，其中测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中。控制器被配置为引导DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备并且控制器引导边带资源群组中的测试电子设备向DUT的各种测试操作的选择性分配。在一个示范性实现方式中，控制器同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。
[0007]在一个实施例中，控制器包括支持与边带测试操作相关联的多个协议的灵活固件配置。在一个示范性实现方式中，多个资源可被指派到多个DUT中的特定一个。边带资源群组可包括对于如下协议的边带支持：通用输入/输出(General Purpose Input/Output，GPIO)协议、通用异步接收器
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发送器(Universal Asynchronous Receiver
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Transmitter，UART)、集成电路间(Inter
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Integrated Circuit，I2C)协议、基于I2C的UART协议、快速非易失性存储器
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管理接口(Non
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Volatile Memory Express
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Management Interface，NVME
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MI)协议、唯一输入/输出(Unique Input/Output，UIO)协议、活动性ACT协议、以及暂停时钟(Suspend Clock，SUSCLK)协议。
[0008]在一个实施例中，一种灵活边带支持方法包括：将多个被测装置(DUT)耦合到测试电子设备，其中该耦合包括带内测试端口和边带测试端口；配置测试电子设备来测试多个DUT，其中测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中；并且引导测试，包括边带资源群组中的测试电子设备向DUT的各种测试操作的选择性分配。在一个示范性实现方式中，引
导包括同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。多个资源可被指派到多个DUT中的特定一个。
附图说明
[0009]包括在本说明书中并构成本说明书一部分的附图是为了示范性地图示本专利技术的原理而包括的，而并不意图将本专利技术限制到其中图示的特定实现方式。附图不是按比例的，除非另有具体指示。
[0010]图1是根据一个实施例的示范性测试环境或系统的框图。
[0011]图2是根据一个实施例的示范性边带资源分组的框图。
[0012]图3是根据一个实施例的示范性边带资源分组方法的流程图。
[0013]图4是根据一个实施例的示范性测试器设备配置控制系统层次体系的框图。
[0014]图5是根据一个实施例的示范性测试系统的框图。
[0015]图6是根据一个实施例的示范性测试系统的框图。
[0016]图7是根据一个实施例的示范性测试系统的框图。
具体实施方式
[0017]现在将详细述本专利技术的优选实施例，这些实施例的示例在附图中图示。虽然将结合优选实施例描述本专利技术，但将会理解它们并不意图将本专利技术限制到这些实施例。相反，本专利技术意图覆盖在如所附权利要求限定的本专利技术的精神和范围内可包括的替换、修改和等同。此外，在接下来对本专利技术的详细描述中，阐述了许多具体细节以便提供对本专利技术的透彻理解。然而，对于本领域普通技术人员将会显而易见的是，没有这些具体细节也可实现本专利技术。在其他情况中，没有详细描述公知的方法、过程、组件和电路，以免不必要地模糊本专利技术的各方面。
[0018]提出的实施例促进了电子装置的方便且高效的测试。系统和方法针对的是促进高效且有效的边带/辅助测试支持的灵活边带支持系统和方法。在一个实施例中，灵活边带支持系统和方法包括同时从测试器中的大量装置测试边带的能力。在一个示范性实现方式中，灵活边带支持系统和方法包括支持灵活边带配置的软件和硬件配置。
[0019]在一个实施例中，灵活边带支持系统和方法包括用于支持边带/辅助测试操作期间的多个协议的灵活固件方案。灵活边带支持系统和方法可使能对许多边带协议(例如，4.、8.、16.、32.、UART、I2C、基于I2C的UART、GPIO，等等)的支持，即使物理上它们是以不同的引脚布局和不同的物理I/O来不同地布置的。另外，软件和硬件都是可配置的，以处理多种负载板配置。在一个示范性实现方式中，额外的FPGA配置允许了以不同协议和边带测试具有不同引脚输出的不同DIB的能力。不同的协议和边带可以是灵活可配置的。
[0020]图1是根据一个实施例的示范性测试环境或系统100的框图。测试环境或系统100包括被测装置(device under test，DUT)(例如，110、111、112等等)、测试或负载板120、测试系统130、以及用户测试接口140。DUT(例如，110、111、112等等)耦合到测试板120，测试板120耦合到测试系统130，测试系统130进而耦合到CPU 141。在一个实施例中，测试板120包括主或带内/主测试资源121和边带资源122，并且测试系统130包括主或带内/主测试接口131和边带接口132。用户测试接口140包括CPU 141、存储器142和显示器143。在一个实施例
中，测试系统130包括FPGA，其中FPGA包括主测试信号接口或加速器131和第一边带接口132。FPGA可被配置为执行持续性测试信息的初步分析和重配置，并且也执行调试信息的初步分析重配置以便传达到外部装置。负载板120被配置为将被测装置从电气和物理上耦合到测试系统。负载板包括被测装置与测试系统之间的持续性或带内测试接口和边带接口。
[0021]灵活边带支持系统和方法还可包括一种向特定DUT指派边带资源的灵活方式。在一个示范性实现方式中，多个资源可被指派给特定DUT本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种灵活边带支持系统，包括：负载板，被配置为与多个被测装置DUT耦合，其中所述负载板包括带内测试端口和边带测试端口；测试电子设备，被配置为测试所述多个DUT，其中所述测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中，并且其中所述测试电子设备耦合到所述负载板；以及控制器，被配置为引导所述DUT的测试，其中所述控制器耦合到所述测试电子设备，并且所述控制器引导所述边带资源群组中的测试电子设备向所述DUT的各种测试操作的选择性分配。2.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中所述控制器同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。3.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中所述控制器包括灵活固件配置，该灵活固件配置支持与边带测试操作相关联的多个协议。4.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中多个资源能够被指派给所述多个DUT中的特定一个。5.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中边带资源群组包括对通用输入/输出GPIO协议的边带支持。6.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中边带资源群组包括对通用异步接收器
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发送器UART协议的边带支持。7.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中边带资源群组包括对集成电路间I2C协议的边带支持。8.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中边带资源群组包括对基于I2C的UART协议的边带支持。9.如权利要求1所述的灵活边带支持系统，其中边带资源群组包括对快速非易失性存储器
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管理接口NVME
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MI...

【专利技术属性】
技术研发人员：斯德詹，
申请(专利权)人：爱德万测试公司，
类型：发明
国别省市：