补偿发光装置显示器的不均匀性的方法和系统制造方法及图纸

提供了补偿发光装置显示器的不均匀性的方法和系统。系统包括基于像素电路的一部分的测量估计整个像素电路的退化的模块。基于该估计，生成校正因子以校正显示器的不均匀性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及显示技术，更具体地，涉及用于补偿发光装置显示器 中元件的不均匀性的方法和系统。
技术介绍
有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)显示器是本领域公知的技 术。例如非晶硅，因其低成本以及广泛安装的由薄膜晶体管液晶显示 器(TFT—LCD)制造的基础设施，是AMOLED显示器的有希望的材料之一。所有AMOLED显示器，不论使用何种背板技术，不同像素间都会 表现出亮度差异，主要是因为工艺或结构的不均等，或因为随时间的 流逝操作使用渐渐引起的老化。显示器的亮度不均匀性也可因有机发 光二极管(OLED)材料自身化学性质和性能的天然差异而产生。这些 非均匀性必须由AMOLED显示器电子装置处理以使显示装置达到市 场大量使用时的商业可接受的性能水平。图1示出了常规AMOLED显示器10的运行流程。参照图1，视 频源12包括各像素的亮度数据并以数字数据14的形式将亮度信号发 送给数字数据处理器16。数字数据处理器16可执行数据处理功能，如 縮放分辨率或改变显示器的颜色等。数字数据处理器16将数字数据18 发送给数据驱动器IC 20。数据驱动器IC 20将数字数据18转换为将被 发送至像素电路24中的薄膜晶体管(TFT) 26的模拟电压或电流22。 TFT26将该电压或电流22转换为流经有机发光二极管(OLED) 30的 另一电流28。 OLED 30将电流28转换为可见光36。 OLED 30具有 OLED电压32，是跨越OLED的电压降。OLED30也具有效率34，其 是发光量与经过OLED的电流的比值。数字数据14、模拟电压/电流22、电流28以及可见光36均包含完 全相同的信息(即亮度数据)。它们仅是来自视频源12的初始亮度信息的不同格式。理想的系统操作是对于视频源12的亮度数据的给定值，始终会产生相同值的可见光36。但是，存在几种退化因素(degradation factor)可导致可见光36 产生误差。随着不断使用，对于数据驱动器IC20的相同输入，TFT26 输出的电流28会降低。随着不断使用，OLED30为相同输入电流需消 耗更大电压32。由于TFT26不是理想电流源，这实际上将稍稍减少输 入电流28。随着不断使用，OLED30将失去效率34，并在相同输入电 流下发出更少的可见光。由于这些退化因素，可见光输出36将随时间的经过而不断减少， 即使视频源12发送的亮度数据相同。根据显示器的使用，不同像素可 具有不同的退化(degradation)量。因此，视频源12的亮度数据指定的一些像素的要求亮度与像素的 实际亮度间的误差会与日俱增。结果是显示器不能正常显示所需图像。补偿这些问题的一种方法是使用反馈回路。图2示出了包括反馈 回路的常规AMOLED显示器40的运行流程。参照图2，使用光探测 器42直接测量可见光36。可见光36被光探测器42转换成测量出的信 号44。信号转换器46将测量出的可见光信号44转换为反馈信号48。 信号转换器46可为模数转换器、数模转换器、微型控制器、晶体管或 其它电路或装置。使用反馈信号48来修改在其路径(例如现有部件(如 12、 16、 20、 26、 30)、部件间的信号线(如14、 18、 22、 28、 36)或 其组合)的某点处的亮度数据。可要求对现有部件和/或其它电路做出一些修改以允许基于信号转 换器46的反馈信号48修改亮度数据。如果可见光36的亮度低于视频 源12的所需亮度，可增加亮度信号以补偿TFT26或OLED 30的退化。 结果是可见光36将不受退化影响保持恒定。该补偿方案常常称为光反 馈(OFB)。但在图2所示系统中，光探测器42必须集成于显示器上， 通常处于各像素内，并与像素电路相耦接。即使不考虑将光探测器集 成至各像素时不可避免的生产问题，也需要光探测器自身不退化。但 这样的光探测器过于昂贵，难以实施，且与当前安装的TFT—LCD制 造基础设施不兼容。因此，需要提供可补偿显示器的不均匀性而无需测量光信号的系统和方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供消除或减轻现有系统的至少一个缺点的方法 和系统。根据本专利技术的一方面，提供了补偿包括多个像素和向各像素电路 提供像素数据的源的发光装置显示器的不均匀性的系统，包括修改 应用于一个或多个像素电路的像素数据的模块，包括基于从第一像 素电路的一部分读取的测量数据来估计第一像素电路的退化的估计模 块；以及基于第一像素电路的退化估计来校正(correct)应用于第一或 第二像素电路的像素数据的补偿模块。根据本专利技术的另一方面，提供了补偿具有多个像素的发光装置显 示器的不均匀性的方法，包括以下步骤基于从第一像素电路的一部 分读取的测量数据估计第一像素电路的退化；以及基于第一像素电路 退化的估计来校正应用于第一或第二像素电路的像素数据。本
技术实现思路
不必说明本专利技术的所有特征。附图说明根据以下参照附图的说明，本专利技术的这些及其它特征将变得更明显。图1示出了常规AMOLED系统；图2示出了包括光探测器和使用光探测器的信号的反馈方案的常 规AMOLED系统；图3示出了应用根据本专利技术实施例的补偿方案的发光显示系统；图4示出了图3所示发光显示系统的示例；图5示出了图4所示像素电路的示例；图6示出了图3所示发光显示系统的另一示例；图7示出了图6所示像素电路的示例；图8示出了应用于图4所示系统的补偿方案模块的示例；图9示出了图7所示查找表和补偿算法模块的示例；图10示出了对于TFT至像素电路转换算法模块的输入的示例。图11A—11E示出了应用于图3所示系统的补偿方案的试验结果；以及图12示出了灰度压縮算法的示例。 具体实施例方式使用包括具有TFT和OLED的像素电路的AMOLED显示器说明 本专利技术的实施例。但是像素电路中的晶体管可使用非晶硅、纳米晶硅/ 微晶硅、多晶硅、有机半导体技术(如有机TFT)、 NMOS技术、CMOS 技术(如MOSFET)或其组合。晶体管可为p型晶体管或n型晶体管。 像素电路可包括OLED以外的发光装置。在以下说明中，"像素"和"像 素电路"可互换使用。图3示出了应用根据本专利技术实施例的补偿方案的发光显示系统 100的运行。视频源102包括各像素的亮度数据并以数字数据104的形 式发送亮度数据至数字数据处理器106。数字数据处理器106可执行一 些数据操作功能，如缩放分辨率或改变显示器的颜色。数字数据处理 器106发送数字数据108至数据驱动器IC 110。数据驱动器IC 110将 数字数据108转换为模拟电压或电流112。模拟电压或电流112被施加 到像素电路114。像素电路114包括TFT和OLED。像素电路li4基于 模拟电压或电流112输出可见光126。图3中，作为示例示出了一个像素电路。但是，发光显示系统100 包括多个像素电路。视频源102可与图1和2所示的视频源12相似。 数据驱动器IC 110可与图1和2所示的数据驱动器IC 20相似。为显示器提供了补偿功能模块130。补偿功能模块130包括对像素 电路114的测量132 (称为退化数据、测量出的退化数据、测量出的 TFT退化数据或测量出的TFT和OLED退化数据)执行算法(称为TFT 至像素电路转换算法)并输出计算的像素电路退化数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于补偿包括多个像素和将像素数据提供给每个像素电路的源的发光装置显示器的不均匀性的系统，包括：　　　　修改应用于一个或多个像素电路的像素数据的模块，包括：　　　　基于从第一像素电路的一部分读取的测量数据来估计所述第一像素电路的退化的估计模块；以及　　　　基于所述第一像素电路的退化的估计来校正应用于所述第一像素电路或第二像素电路的像素数据的补偿模块。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：A内森，S亚历山大，P塞尔瓦蒂，GR查吉，RIH黄，C丘奇，
申请(专利权)人：伊格尼斯创新有限公司，
类型：发明
国别省市：CA[加拿大]