用于对像素的亮度退化进行补偿的方法及其显示器技术

本发明专利技术公开了用于确定像素电容的系统和方法。将像素电容与像素老化程度关联起来，以确定用于补偿像素驱动电流的电流校正因数，从而解决由于像素老化而造成的像素亮度退化的问题。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及OLED显示器，更具体而言，涉及基于OLED电容对OLED的亮度退化进行的补偿。
技术介绍
众所周知，有机发光二极管(OLED)用在显示器中有许多理想特性。 例如，它们可产生明亮的显示，它们可制造在柔性衬底上，它们的功率需求 低，并且它们不需要背光。OLED可被制造成发出不同颜色的光。这使得它 们可用在全色显示器中。而且，它们的尺寸很小，这使得它们可用在高分辨 率显示器中。目前，在显示器中使用OLED尤其要受到OLED的寿命的限制。随着 OLED显示器的使用，显示器的亮度会降低。为了制造出能够在一段时间内 (例如，大于1000小时)反复生成同等质量的显示输出的显示器，有必要 对这种亮度退化进行补偿。确定亮度退化的一种方法是直接测量亮度退化。该方法测量在给定驱动 电流的情况下像素的亮度。该技术需要每个像素的 一部分都被亮度检测器所 覆盖。这导致开口 (aperture)和分辨率较低。另一种技术是基于施加到像素上的累积驱动电流来预测亮度退化。此技 术的问题在于，如果关于累积驱动电流的信息(例如因为电源故障)丢失或 被破坏，就不能执行亮度校正。因此，需要一种不会导致开口率、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对像素的亮度退化进行补偿的方法，该方法包括：确定所述像素的电容；以及　将所确定的所述像素的电容与所述像素的电流校正因数关联起来。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】CA 2006-8-15 2,556,9611. 一种用于对像素的亮度退化进行补偿的方法，该方法包括确定所述像素的电容；以及将所确定的所述像素的电容与所述像素的电流校正因数关联起来。2. 如权利要求l所述的方法，其中确定所述像素的电容的步骤包括 将所述像素的电容充电到第一电压VI; 将寄生电容充电到第二电压V2;将所述寄生电容和所述像素的电容电气并联连接；以及测量电容为C^的读取电容器两端的电压变化AV;其中，所述像素的电容等于(A「)(CJ 。3. 如权利要求2所述的方法，其中，在将所述像素的电容充电到VI期 间，所述像素的电容与所述寄生电容被电气并联连接，在将所述寄生电容充 电到V2期间，所述像素的电容与所述寄生电容被电气断开连接。4. 如权利要求3所述的方法，进一步包括 在测量AV之前，确定所述读取电容器的泄漏电流； 基于所述泄漏电流，确定合成的电压；以及 从AV推导出所述合成的电压。5. 如权利要求1所述的方法，其中，所述像素是以阵列形式排列从而形 成显示器的多个像素之中的一个像素。6. —种使用对于像素的亮度退化进行补偿后的电流来驱动该像素的方 法，该方法包4舌确定所述像素的电容；将所确定的所述像素的电容与该像素的电流校正因数关联起来； 根据所述电流校正因数来补偿像素驱动电流；以及 用补偿后的电流来驱动所述像素。7. 如权利要求6所述的方法，其中，确定所述像素的电容的步骤包括 将所述像素的电容充电到第一电压VI; 将寄生电容充电到第二电压V2;将所述寄生电容和所述像素的电容电气并联连接；以及 测量电容为Cread的读取电容器两端的电压变化AV; 其中，所述像素的电容等于8. —种在确定多个像素电路的像素电容时所使用的读取模块，所述像素电路以阵列的形式排列从而形成显示器，所述读取模块包括 多个读取模块元件，每个读取模块元件包括开关，其用于将该读取模块元件电连接到所述多个像素电路之中 的一个像素电路，和将所述读取模块元件从该像素电路上断开；电连接到所述开关的运算放大器；以及与所述运算放大器并联连接的读取电容器。9. 如权利要求8所述的读取模块，其中所述读取模块元件具有寄生电容， 当所迷开关将所述读取模块元件电连接到所述像素电路时，该寄生电容与所 述像素电路的像素电容并联连接。10. 如权利要求9所述的读取才莫块，其中，所述开关是晶体管。11. 一种使...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿罗基亚内森，GR查吉，
申请(专利权)人：伊格尼斯创新有限公司，
类型：发明
国别省市：CA[]