DAC测试装置制造方法及图纸

本申请涉及一种DAC测试装置，包括控制模块、第一开关模块、第二开关模块及检测模块，控制模块用于传输测试信息至DAC模块；DAC模块根据测试信息获取第一开关信号及第二开关信号，并将第一开关信号传输至第一开关模块及将第二开关信号传输至第二开关模块；第一开关模块根据第一开关信号切换与其连接的DAC模块的测试通道；第二开关模块根据第二开关信号切换与其连接的负载；检测模块用于检测DAC模块在不同测试条件下的输出电压；控制模块还用于对每个测试条件下的输出电压进行计算及汇总，生成测试结果，其中，测试条件为第一开关模块切换至每个测试通道及第二开关模块与对应一个负载连接。载连接。载连接。

【技术实现步骤摘要】
DAC测试装置


[0001]本申请涉及自动化测试
，尤其涉及一种DAC测试装置。

技术介绍

[0002]在电子产品的开发、生产及维修中，通常要对DAC(英文：digital to analog converter，中文：数字模拟转换器，简称：数模转换器)进行测试。部分芯片的DAC有两个或者两个以上的通道，测试时要根据输出缓存器(buffer)的使能与否切换空载、轻负载、重负载来评估DAC转换曲线及驱动能力。当输出缓存器关闭时，DAC的输出引脚驱动能力弱，需要测量其在空载和在1.5MΩ轻负载下的转换曲线；当输出缓存器开启时，DAC的输出引脚驱动能力增强，需要测量其在空载和在5KΩ重负载下的转换曲线。因此，测试评估一个双通道DAC的性能，需要8个测试周期(以12位DAC为例，一个测试周期为输入从0
‑
4095的转换过程)。传统的DAC测试评估电路，是分别设定一种软件条件和对应的硬件条件，一共进行8个周期的测试和8条转换曲线的计算。例如，要测试12位DAC通道2在输出缓存器开启且加重负载时的转换效果，软件方面需要将单片机重烧录本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DAC测试装置，用于测试DAC模块的DAC的转换精度，其特征在于，所述DAC测试装置包括控制模块、第一开关模块、第二开关模块及检测模块，所述控制模块分别与所述DAC模块及所述检测模块连接，所述第一开关模块及所述第二开关模块分别与所述DAC模块连接，所述第一开关模块还与所述第二开关模块连接，所述检测模块连接于所述第一开关模块与所述第二开关模块之间；所述控制模块用于传输测试信息至所述DAC模块；所述DAC模块根据所述测试信息获取第一开关信号及第二开关信号，并将所述第一开关信号传输至所述第一开关模块及将所述第二开关信号传输至所述第二开关模块；所述第一开关模块根据所述第一开关信号切换与其连接的所述DAC模块的测试通道；所述第二开关模块根据所述第二开关信号切换与其连接的负载；所述检测模块用于检测所述DAC模块在不同测试条件下的输出电压；所述控制模块还用于对每个测试条件下的所述输出电压进行计算及汇总，生成测试结果，其中，所述测试条件为所述第一开关模块切换至每个所述测试通道及所述第二开关模块与对应一个负载连接。2.根据权利要求1所述的DAC测试装置，其特征在于，还包括延时模块，所述延时模块连接于所述第一开关模块与所述DAC模块之间和/或所述第一开关模块与所述检测模块之间，所述延时模块用于对所述DAC模块的测试通道的输出电压进行延时。3.根据权利要求1所述的DAC...

【专利技术属性】
技术研发人员：温禄泉，
申请(专利权)人：珠海极海半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：