【技术实现步骤摘要】
基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置
本申请涉及一种基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置，属于微波源相位噪声测试、微波光子学
技术介绍
相位噪声，是衡量微波源短期稳定性的重要指标。它能严重影响雷达系统，无线通信系统，多通道接收器等系统的性能。近年来，随着微波源性能的不断改善，相应的噪声值也不断减小。为了满足更高频率、更大谐调范围的微波源的极低相位噪声测试需求，研究人员们提出并实施了许多方法，例如直接频谱技术，鉴相法，鉴频法和双通道互关技术等。然而，这些技术都有着各自的缺点，例如，直接频谱技术不能区分幅度噪声和相位噪声，且测试精度较低；鉴相法可以区分幅度噪声与相位噪声，但这种方法需要一个比待测源噪声性能更佳的参考源，且两者频率不能相差太大；基于延时线的鉴频法虽然不需要参考源，但使用电缆带来的功率损耗限制了同轴电缆的可用长度，进而限制了测量精度；双通道互关技术通过消除系统中不相关噪声来提高测量噪底，但这种方案结构复杂，成本昂贵且测试速度缓慢。最近，发展了数十年的微波光子技术已被运用到相位...
【技术保护点】
1.基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：包括：沿光路方向依次连接的垂直腔面激光器、双偏振强度调制器及偏振分束器，所述垂直腔面激光器用于产生两个不同偏振态的光载波信号，所述双偏振强度调制器用于对不同偏振态的光进行电光调制，/n第一功分器的输入端连接待测微波源，输出端分别与第二功分器和第三功分器相连，第二功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器A，移相器A的输出端连接混频器A，第三功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器B，移相器B的输出端连接混频器B，/n所述双偏振强度调制器通过光纤连接偏振分束器，偏振分束器的第一输出端连接光电探测器A，光电探测器A的...
【技术特征摘要】
1.基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：包括：沿光路方向依次连接的垂直腔面激光器、双偏振强度调制器及偏振分束器，所述垂直腔面激光器用于产生两个不同偏振态的光载波信号，所述双偏振强度调制器用于对不同偏振态的光进行电光调制，
第一功分器的输入端连接待测微波源，输出端分别与第二功分器和第三功分器相连，第二功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器A，移相器A的输出端连接混频器A，第三功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器B，移相器B的输出端连接混频器B，
所述双偏振强度调制器通过光纤连接偏振分束器，偏振分束器的第一输出端连接光电探测器A，光电探测器A的输出端连接所述混频器A的输入端，偏振分束器的第二输出端连接光电探测器B，光电探测器B的输出端连接所述混频器B的输入端，
所述混频器A输出端连接低通滤波器A，所述混频器B连接低通滤波器B，所述低通滤波器A的输出端及所述混频器B的输出端分别连接信号分析装置。
2.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述信号分析装置为快速傅里叶变换分析仪，所述快速傅里叶变换分析仪接收并分析分别经低通滤波器A及低通滤波器B滤波的低频信号。
3.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述混频器A及所述混频器B为双平衡混频器。
4.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：
所述第一功分器、第二功分器和第三功分器均为宽带一分二微波功分器。
5.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：
所述移相器A、移相器B都为宽带微波移相器。
6.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述光电探测器A、光电探测器B都为宽带光电探测器。<...
【专利技术属性】
技术研发人员：周沛，江芝东，李念强，谢溢锋，傅剑斌，潘万胜，
申请(专利权)人：苏州大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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