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基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备技术

技术编号:46594984 阅读:3 留言:0更新日期:2025-10-10 21:28
本发明专利技术公开了一种基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备,方法包括:设置相机,并调节至对焦于微透镜阵列,浮动调节相机与阵列之间的光轴距离,在多个调节后的位置处采集星点光斑图像及珀罗板线对板图像;根据多个光斑图像中对应同一个子透镜的光斑子图像,以确定焦面坐标并进行相应PSF重构;选择一对光板图像和线对板图像,利用维纳滤波算法对图像中对应该子透镜的子图作恢复处理;将恢复后的图像与重构的PSF函数进行卷积运算,以得到焦面坐标对应的重构线对板图像;根据平行光管的焦距、珀罗板的实际线距、由重构线对板图像确定的线距来计算该子透镜的焦距。通过移像式采集焦点附近的阵列图像,并行检测多个子透镜的焦距。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测,尤其涉及一种基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备


技术介绍

1、微透镜阵列(microlens array,简称mla)是一种由大量特征尺寸为微米级至毫米级的微型透镜单元按特定几何构型规则排列而成的集成光学器件,其结构特性表现为:微型透镜单元可基于光学功能需求设计为球面、非球面或复合型光学结构(如衍射-折射混合透镜),并通过周期性阵列排布或梯度参数分布等模式,实现光场波前分割、光束整形及多焦点并行成像等复杂光学调控功能。

2、微透镜阵列的焦距是其光学特性中的核心参数之一,其直接影响阵列在光束聚焦、准直、整形等方面的能力。微透镜阵列的焦距与微透镜阵列对入射光的聚焦效果及光束的传播特性密切相关。值得注意的是,微透镜阵列中的每个透镜都有一个独立的焦距,因此,对微透镜阵列进行焦距检测是重要的。

3、以上
技术介绍
内容的公开仅用于辅助理解本申请的构思及技术方案,其并不必然属于本申请的现有技术,也不必然会给出技术教导;在没有明确的证据表明上述内容在本申请的申请日之前已经公开的情况下,上述背景技术不应当用于评价本申本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,所述微透镜阵列包括多个子透镜,其特征在于,所述焦距检测方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式确定所述焦面坐标Zt:

3.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式重构得到该子透镜的PSF函数:

4.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式确定维纳滤波算法的处理对象:

5.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于...

【技术特征摘要】

1.一种基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,所述微透镜阵列包括多个子透镜,其特征在于,所述焦距检测方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式确定所述焦面坐标zt:

3.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式重构得到该子透镜的psf函数:

4.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式确定维纳滤波算法的处理对象:

5.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式调节所述图像采集装置与微透镜阵列之间的光轴距离:

6.根据权利要求5所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,通过以下方式两侧浮动:

7.根据权利要求1所述的基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:许峰陆正阳杨浩孙倜曹冰
申请(专利权)人:苏州大学
类型:发明
国别省市:

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