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本申请提出基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置，该装置包括：垂直腔面激光器、用于产生所需的光载波信号，第一功分器用于将被测微波源发出的信号分成两路，一路送至第二功分器，经第二功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波...
该专利属于苏州大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州大学授权不得商用。

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