用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法与系统技术方案

技术编号:28029342 阅读:30 留言:0更新日期:2021-04-09 23:10
本发明专利技术提供一种用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法与系统。其中包括实时监测当前测量值,并根据测量值进行阈值判断;在测量值超出阈值时反复进行相位调节操作,主要包括相位调零操作以及相位跳变操作,直至系统的相位偏置点回到目标工作区并继续监测。本发明专利技术能在待测参数超出线性工作区时,通过自适应的算法实时地将偏置点调回线性区,并同时找到局部的最佳点,极大地简化了实验操作,拓展了以弱测量为理论基础的众多测量系统的应用场景。

【技术实现步骤摘要】
用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法与系统
本专利技术涉及测量
,具体地,涉及一种用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法与系统。
技术介绍
弱测量(weakmeasurement)理论是由物理学家Aharonov等人于1988年提出并发展起来的一项量子测量理论,它通过合适的前选择与后选择搭配获得弱值放大效应,为微弱信号的精密测量开拓了崭新的领域。进一步,我们可以在前选择与后选择之间引入合适的偏置相位,将弱测量理论从弱耦合的限制中解放出来,并总结出弱测量方法在时延测量方面的多工作区性质。在相关实验的操作中,偏置相位的选取是一项非常重要的工作。当待测时延超出线性工作区时,研究人员只能手动调节相位补偿器来对系统的偏置点进行选取。这种调节方法效率很低,且操作不易、实时性能较差,极大地限制了以弱测量为理论基础的众多测量系统的应用场景。目前没有发现同本专利技术类似技术的说明或报道,也尚未收集到国内外类似的资料。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷,本专利技术的目的是提供一种用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法与系统。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法,其特征在于,包括:/n弱测量步骤:进行一次弱测量,得到当前的测量值Δω

【技术特征摘要】
1.一种用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法,其特征在于,包括:
弱测量步骤:进行一次弱测量,得到当前的测量值Δωt;
阈值判断步骤:实时地将当前测量值Δωt与相应的阈值Δωmax,min进行比较,判断测量值可信度;
相位调节步骤:当测量值超出阈值时,利用自适应相位调节算法,将偏置点调回目标工作区。


2.根据权利要求1所述的用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法,其特征在于,所述弱测量步骤包括:
前后选择子步骤:系统经过前选择之后,进行弱耦合作用,然后再对系统进行后选择处理;
数据处理子步骤:对经过后选择处理的系统进行测量,得到测量数据的概率分布,并对频移量进行估计,得到当前的测量值。


3.根据权利要求2所述的用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法,其特征在于,所述前后选择子步骤中,系统初态|φ>=∫dωφ(ω)|ω>,|φ(ω)|2为光源的概率密度函数,均值为ω0,方差为σ2;前选择态为经过前选择,系统可以表示为相互作用的过程可以表示成其中为系统可观测量,g为耦合强度,表示测量设备;后选择态为经过后选择,系统演变为


4.根据权利要求2所述的用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法,其特征在于,所述数据处理子步骤中,测得的频谱概率分布(非归一化)为:
P(ω)=|<ω|Ψf>|2;
归一化后:



中心频率的偏移:





5.根据权利要求1所述的用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法,其特征在于,所述阈值判断步骤中,测量值Δωt须与阈值Δωmax,min进行比较,若满足Δωmin<Δωt<Δωmax的条件,则系统继续监测并判断下一个时刻的测量值Δωt+1,否则便进行相位调节操作。


6.根据权利要求1所述的用于弱测量技术的实时自适应相位补偿方法,其特征在于,所述相位调节步骤包括:
调零步骤:根据Δωt超出的阈值的不同,单向调节相位补偿器并实...

【专利技术属性】
技术研发人员:李洪婧汪功领黄靖正曾贵华
申请(专利权)人:上海交通大学
类型:发明
国别省市:上海;31

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