模板确定方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种模板确定方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括：获取多个模板图像；确定各所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素；根据各所述差异像素对各所述模板图像进行相似排序，并根据相似排序结果确定目标图像，以对所述待检测物体的图像进行检测，得到所述待检测物体的工序检测结果。本发明专利技术实施例可以提高模具匹配的效率，提高模具匹配系统的稳定性。高模具匹配系统的稳定性。高模具匹配系统的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
模板确定方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及图像处理领域，尤其涉及一种模板确定方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在注塑、冲压和压铸等制造行业，需要经过开模检测是否有杂质、在无杂质时进行合模、注塑和冷却之后开模等操作，得到产品。由于不同产品和模具的特殊性和不规则性，在检测过程中，对存在多位置、多角度和多姿态的模具和产品进行检测，需要引入大量的模板。
[0003]目标可以采用模板库中的每一张模板图像与待检测物体图像进行遍历匹配，可以确保所有位置进行检测。
[0004]上述方法使得整个模具监视流程更加复杂，同时计算量大，同时，根据模板库中图像数目的不同，耗时存在递增现象，此类算法的缺陷可能会影响机械手等装置的配合，甚至影响产线正常运行。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种模板确定方法、装置、计算机设备及存储介质，可以提高模具匹配的效率，提高模具匹配系统的稳定性。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种模板确定方法，包括：
[0007]获取多个模板图像；
[0008]确定各所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素；
[0009]根据各所述差异像素对各所述模板图像进行相似排序，并根据相似排序结果确定目标图像，以对所述待检测物体的图像进行检测，得到所述待检测物体的工序检测结果。
[0010]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种模板确定装置，包括：
[0011]模板图像获取模块，用于获取多个模板图像；
[0012]差异像素确定模块，用于确定各所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素；
[0013]目标图像确定模块，用于根据各所述差异像素对各所述模板图像进行相似排序，并根据相似排序结果确定目标图像，以对所述待检测物体的图像进行检测，得到所述待检测物体的工序检测结果。
[0014]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序所述处理器执行所述程序时实现如本专利技术实施例中任一所述的模板确定方法。
[0015]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本专利技术实施例中任一所述的模板确定方法。
[0016]本专利技术实施例通过确定模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素，并根据差
异像素对模板图像进行排序，并根据排序结果选择目标图像，一堆待检测物体的图像进行检测，解决了现有技术中采用每张模板图像与待检测的对象图像进行遍历匹配导致匹配计算量大的问题，可以根据排序结果，筛选模板进行检测，降低匹配的模板数量，从而减少匹配计算量，提高待检测物体的工序检测效率。
附图说明
[0017]图1是本专利技术实施例一中的一种模板确定方法的流程图；
[0018]图2a是本专利技术实施例二中的一种模板确定方法的流程图；
[0019]图2b是本专利技术实施例二中的一种目标检测区域的示意图；
[0020]图2c是本专利技术实施例二中的一种合并检测区域的示意图；
[0021]图2d是本专利技术实施例二中的一种模板确定方法的流程图；
[0022]图3是本专利技术实施例三中的一种模板确定装置的结构示意图；
[0023]图4是本专利技术实施例四中的一种计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
[0024]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0025]实施例一
[0026]图1为本专利技术实施例一中的一种模板确定方法的流程图，本实施例可适用于检测模具是否存在杂质以及产品是否质量合格的情况，该方法可以由本专利技术实施例提供的模板确定装置来执行，该装置可采用软件和/或硬件的方式实现，并一般可集成计算机设备中，例如，制造领域中模具监视系统中等。如图1所示，本实施例的方法具体包括：
[0027]S110，获取多个模板图像。
[0028]模板图像包括标准物体，模板图像可以是对多位置、多角度和多姿态的标准物体进行采集得到的图像。其中，标准物体和待检测物体属于同一种物体，标准物体为工序检测结果为通过的物体。不同模板图像中标准物体与待检测物体的位置、角度和姿态等至少一项不同。待检测物体是工序过程中需要进行操作的物体，一个模具经过注塑后可以同时得到一个或多个产品，相应的，待检测物体包括模具或至少一个产品。
[0029]模板图像用于筛选出目标图像与待检测物体的图像进行匹配，以检测待检测物体是否可进入下一个工序。现有技术中是采用每个模板图像与待检测物体的图像进行匹配。而本专利技术实施例是在模板图像中筛选出部分目标图像与待检测物体的图像进行匹配。
[0030]S120，确定各所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素。
[0031]差异像素用于描述模板图像与待检测物体的图像之间的相似性，更具体的，差异像素的数量用于描述模板图像与待检测物体的图像之间的相似程度。差异像素可以是指模板图像与待检测物体的图像之间的不同的像素。
[0032]可选的，所述确定所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素，包括：计算所述模板图像与待检测物体的图像之间的差值图像；在所述差值图像中，将各像素的像素值分别与预设像素阈值进行比较，确定差异像素。
[0033]差值图像用于描述模板图像与待检测物体的图像之间的像素级别的差值。差值图像中的每个像素的像素值可以是计算模板图像中相应位置的像素的像素值，与待检测物体的图像中相应位置的像素的像素值之间的差值。在计算差值图像之前还需要，确保模板图像与待检测物体的图像的尺寸相同，可以调整模板图像的尺寸，直至与待检测物体的图像的尺寸相同，相应的，差值图像的右顶点像素的像素值，为模板图像中右顶点像素的像素值，与待检测物体的图像中右顶点像素的像素值之间的差值。
[0034]预设像素阈值用于确定差异像素。差值图像中大于等于预设像素阈值的像素为差异像素。
[0035]通过比较差值图像中各像素的像素值与预设像素阈值的比较结果，确定差异像素，可以将模板图像与待检测物体的图像之间的差异用于像素级信息进行表示，可以精确确定模板图像与待检测物体的图像之间的差异，从而，准确筛选出目标图像。
[0036]S130，根据各所述差异像素对各所述模板图像进行相似排序，并根据相似排序结果确定目标图像，以对所述待检测物体的图像进行检测，得到所述待检测物体的工序检测结果。
[0037]对模板图像进行相似排序，相似排序结果用于从大量的模板图像中筛选出少量的目标图像，其中，相似排序是指按照模板图像与待检测物体的图像之间的相似程度进行排序。实际上，相似排序结果用于在模板图像中筛选出与待检测物体的图像较相似的目标图像。目标图像用于与待检测物本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种模板确定方法，其特征在于，包括：获取多个模板图像；确定各所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素；根据各所述差异像素对各所述模板图像进行相似排序，并根据相似排序结果确定目标图像，以对所述待检测物体的图像进行检测，得到所述待检测物体的工序检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素，包括：计算所述模板图像与待检测物体的图像之间的差值图像；在所述差值图像中，将各像素的像素值分别与预设像素阈值进行比较，确定差异像素。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述差异像素对各所述模板图像进行相似排序，包括：统计各所述模板图像和待检测物体的图像之间的差异像素的数量；根据各所述差异像素的数量，对各所述模板图像进行相似排序。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取多个模板图像，包括：获取多个初始图像；获取待检测物体的图像；计算所述待检测物体的图像与各所述初始图像之间的相似值；根据各所述相似值，在各所述初始图像中，选择模板图像。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述计算所述待检测物体的图像与所述初始图像之间的相似值，包括：对所述待检测物体的图像进行编码，得到所述待检测物体的编码图像；对所述初始图像进行编码，得到初始编码图像；计算所述待检测物体的编码图像与所述初始编码图像之间的汉明距离，并确定为所述待检...

【专利技术属性】
技术研发人员：张翔，程鑫，王升，吴俊耦，吴丰礼，
申请(专利权)人：广东拓斯达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：