被测试信号分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术的目的在于提供一种能够比以往的装置更加容易确定差错率高的测试模式或成为比特差错的主要原因的测试模式的被测试信号分析装置。本发明专利技术的测试信号发生装置在分析被测试信号，并将分析结果显示在显示装置（２１）上的被测试信号分析装置（４）中，包括：分析结果统计单元（３４），对被测试信号设定的分析区间进行分割而成的每个分割区间统计分析结果；以及显示控制单元（２３），将分析结果统计单元（３４）的统计结果按每个分割区间显示在显示装置（２１）上，在分割区间作为新的分析区间而被指定时，分析结果统计单元（３４）对该新的分析区间进行分割的每个新的分割区间统计被测试信号的分析结果，显示控制单元（２３）按每个新的分割区间将分析结果统计单元（３４）的统计结果显示在显示装置（２１）上。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及被测试信号分析装置，特别涉及对被测试信号进行分析的被测试信号分析装置。
技术介绍
作为以往的被测试信号分析装置，有通过设置模式(pattern)位置检测单元和差错计数器(error counter)，从而在被测试信号中测定测试模式的任意区域的比特差错率的装置(例如，参照专利文献1)，所述模式位置检测单元从存储了用于对照被测试信号的测试模式的测试模式发生器接受同步信号，检测测试模式的任意区域，从而输出该区域的计数/使能(count/enable)信号，所述差错计数器接受该计数/使能信号，开始或停止来自对照器的比特差错检测信号的计数。专利文献1：特开平07-225263号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题但是，以往的被测试信号分析装置虽然可以测定被测试信号的测试模式的任意区域的比特差错率，但存在对于用户而言难以确定差错率高的测试模式或成为比特差错的主要原因的测试模式的问题。本专利技术用于解决以往的问题而完成，其目的在于提供一种能够比以往的装置容易确定差错率高的测试模式或成为比特差错的主要原因的测试模式的被测试信号分析装置。解决课题的方案本专利技术的被测试信号分析装置分析被测试信号，并将分析结果显示在显示装置上，所述被测试信号分析装置构成为，包括：分析结果统计单元，对所述被测试信号设定的分析区间进行分割而成的每个分割区间统计所述分析结果；以及显示控制单元，将所述分析结果统计单元的统计结果按每个所述-->分割区间显示在所述显示装置上，在所述分割区间作为新的分析区间而被指定时，所述分析结果统计单元对将该新的分析区间进行分割而得的每个新的分割区间统计所述被测试信号的分析结果，所述显示控制单元按每个所述新的分割区间将所述分析结果统计单元的统计结果显示在所述显示装置上。根据该结构，本专利技术的被测试信号分析装置从对被测试信号的分析区间进行了分割而得的分割区间中指定新的分析区间，所以能够比以往的装置容易确定差错率高的测试模式或成为比特差错的主要原因的测试模式。另外，在多个所述分割区间作为所述新的分析区间而被指定时，也可以是所述分析结果统计单元对将所述新的分析区间分割而成的每个新的分割区间统计所述被测试信号的分析结果，所述显示控制单元按每个所述新的分割区间将所述分析结果统计单元的统计结果显示在所述显示装置上。根据该结构，本专利技术的被测试信号分析装置可以分层地指定分析区间，所以能够比以往的装置容易确定差错率高的测试模式或成为比特差错的主要原因的测试模式。此外，也可以由所述分析结果统计单元统计所述被测试信号的比特差错。此外，所述分析结果统计单元也可以包括：多个差错计数器，统计所述分析结果；分配决定单元，确定所述分析结果是哪一个所述分割区间的结果，并决定与确定的所述分割区间对应的所述差错计数器作为所述分析结果的分配目的地；以及分配单元，将所述分析结果分配到由所述分配决定单元决定的所述差错计数器。此外，本专利技术的设备测试系统具有以下结构，即包括：测试信号发生装置，产生测试信号；以及所述被测试信号分析装置，分析由接收到所述测试信号的测定对象物所发送的被测试信号，并将分析结果显示在显示装置上。根据该结构，本专利技术的设备测试系统从对被测试信号的分析区间进行了分割而得的分割区间中指定新的分析区间，所以能够比以往的装置容易确定差错率高的测试模式或成为比特差错的主要原因的测试模式。此外，本专利技术的被测试信号分析方法具有以下步骤：对接收到的被测试信号所设定的分析区间进行分割而成的每个分割区间，分析所述被测试信号的步骤；按每个所述分割区间统计分析了所述被测试信号的结果的步骤；基于统计后的结果的显示，选择一个或者连续的多个所述分割区间的步骤；将选择的所述一个或者连续的多个分割区间设定为新的分析区间的步骤；以及-->对设定的所述新的分析区间进行分割而成的每个新的分割区间，分析新接收到的被测试信号的步骤。专利技术效果本专利技术可提供能够比以往的装置容易确定差错率高的测试模式或成为比特差错的主要原因的测试模式的被测试信号分析装置。附图说明图1是本专利技术一实施方式中的设备测试系统的方框图。图2是构成本专利技术一实施方式中的被测试信号分析装置的分析结果统计单元的方框图。图3是用于说明构成本专利技术一实施方式中的被测试信号分析装置的分析结果统计单元的第1定时图。图4是用于说明构成本专利技术一实施方式中的被测试信号分析装置的分析结果统计单元的第2定时图。图5是构成本专利技术一实施方式中的被测试信号分析装置的显示装置所显示的操作画面的第1图像(image)。图6是构成本专利技术一实施方式中的被测试信号分析装置的显示装置所显示的操作画面的第2图像。标号说明1 设备测试系统2 测定对象物3 测试信号发生装置4 被测试信号分析装置10 模式存储单元11 测试信号发生单元20 输入装置21 显示装置22 CPU23 显示控制单元30 参照模式存储单元31 SP变换单元-->32 同步模式检测单元33 比特差错分析单元34 分析结果统计单元40 差错计数器41 分配决定单元42 分配单元具体实施方式下面，参照附图说明本专利技术的实施方式。图1表示本专利技术一实施方式的设备测试系统。设备测试系统1包括：产生用于对测定对象物2进行测试的测试信号的测试信号发生装置3；对由接收到测试信号的测定对象物2所发送的被测试信号进行分析的被测试信号分析装置4。另外，在本实施方式中，说明作为测定对象物2应用了如中继装置或传输电缆等那样，将接收到的测试信号作为被测试信号原样发送的例子。测试信号发生装置3包括：存储测试信号的模式的模式存储单元10；以及产生具有模式存储单元10中所存储的模式的测试信号的测试信号发生单元11。另外，在本实施方式中，模式存储单元10由RAM(Random AccessMemory)等的存储介质构成，测试信号发生单元11由被程序化的FPGA(FieldProgrammable Gate Array)一体构成。此外，在本实施方式中，说明测试信号发生单元11基于模式存储单元10所存储的模式来产生包含帧同步信号的测试信号的情况的例子。这里，各个帧表示模式存储单元10中所存储的统一模式。被测试信号分析装置4包括：由键盘或指示(pointing)设备等构成的输入装置20；显示装置21；执行用于控制设备测试系统1的程序的CPU(CentralProcessing Unit)22；存储与模式存储单元10所存储的模式对应的参照模式的参照模式存储单元30；对被测试信号进行串行-并行(serial-parallel)(以下，仅记载为“SP”)变换的SP变换单元31；从被测试信号检测同步模式的同步模式检测单元32；对SP变换后的被测试信号所构成的模式和参照模式进行比较从而分析比特差错的比特差错分析单元33；统计由比特差错分析单元33-->所分析的比特差错的分析结果统计单元34。另外，在本实施方式中，参照模式存储单元30由RAM等存储介质构成，SP变换单元31、同步模式检测单元32、比特差错分析单元33以及分析结果统计单元34由被程序化的FPGA一体构成。此外，CPU22包括进行显示装置21的显示控制的显示控制单元23。此外，输入装置20、显示装置21以及CPU22也可以通过外置于设备测试系统1的计算机装置构成。在本实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种被测试信号分析装置，分析被测试信号，并将分析结果显示在显示装置（２１）上，其特征在于，所述被测试信号分析装置包括：　分析结果统计单元（３４），对所述被测试信号设定的分析区间进行分割而成的每个分割区间统计所述分析结果；以及　显 示控制单元（２３），将所述分析结果统计单元的统计结果按每个所述分割区间显示在所述显示装置（２１）上，　在所述分割区间作为新的分析区间而被指定时，所述分析结果统计单元对将该新的分析区间进行分割而得的每个新的分割区间统计所述被测试信号的分 析结果，　所述显示控制单元按每个所述新的分割区间将所述分析结果统计单元的统计结果显示在所述显示装置上。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2006-3-31 098790/20061、一种被测试信号分析装置，分析被测试信号，并将分析结果显示在显示装置(21)上，其特征在于，所述被测试信号分析装置包括：分析结果统计单元(34)，对所述被测试信号设定的分析区间进行分割而成的每个分割区间统计所述分析结果；以及显示控制单元(23)，将所述分析结果统计单元的统计结果按每个所述分割区间显示在所述显示装置(21)上，在所述分割区间作为新的分析区间而被指定时，所述分析结果统计单元对将该新的分析区间进行分割而得的每个新的分割区间统计所述被测试信号的分析结果，所述显示控制单元按每个所述新的分割区间将所述分析结果统计单元的统计结果显示在所述显示装置上。2、如权利要求1所述的被测试信号分析装置，其特征在于，在多个所述分割区间作为所述新的分析区间而被指定时，所述分析结果统计单元对将所述新的分析区间分割而成的每个新的分割区间统计所述被测试信号的分析结果，所述显示控制单元按每个所述新的分割区间将所述分析结果统计单元的统计结果显示在所述显示装置上。3、如权利要求1所述的被测试信号分析装置，其特征在于，所述分析结果统计单元统计所述被测试信号的比特差错。4、如权利要求1所述的被测试信号分析装置，其特征在于，所述分析结果统计单元包括：多个差错计数器(40)，统计所述分析结果；分配决定单元(41)，确定所述分析结果是哪一个所述分割区间的结果，并决定与确定的所述分割区间对应的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：和田健，今关肇，宫本隆志，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]