微控制器芯片及其调试方法技术

本发明专利技术涉及一种微控制器芯片及其调试方法，该芯片包括彼此相连的中央处理器、调试模块和调试接口，该调试模块包括调试处理单元，分别与中央处理器和调试接口相连，还包括跟踪单元，与中央处理器和调试处理单元分别相连，用于在调试过程中监测到产生跟踪触发条件时对应记录地址信息。该调试方法包括：在调试过程中，记录与所述跟踪触发条件对应的地址信息。本发明专利技术采用在微控制器芯片的调试模块内部增加跟踪单元的技术手段，克服现有调试过程中不支持实时跟踪微控制器内部代码流的技术问题，本发明专利技术支持微控制器内部代码流的实时跟踪和处理功能，可在微控制器不停止工作的情况下对调试过程的历史数据进行查询，使调试功能的实现更加灵活。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种微控制器芯片及其调试方法，尤其涉及一种基于联合测试行动小组(Joint Test Action Group，以下简称JTAG)协议进行调试的微控制器芯片及其调试方法，属于集成电路测试

技术介绍
20世纪80年代以来，随着计算机嵌入式系统的广泛应用，微控制器(Micro Controller Unit，以下简称MCU)，也称单片机得到了飞速的发展。早期的单片机是按照嵌入式应用技术要求设计的计算机的单芯片化集成电路器件，也就是电子计算机的全部特性器件都集成到一片芯片上，故被形象的称为单片机。随着单片机应用范围的不断加大，对于其仿真芯片调试功能的要求也逐渐提高。目前单片机厂家大都提供自己的仿真芯片，其芯片仿真器多为外置，大致分为两种方式：1、由仿真器的仿真头来完全取代目标板上的CPU进行工作，产生外部电路所需要的信号，同时捕获外部的所有信号，提供源代码级调试及处理器运行控制等功能，通过它可以启动和停止目标系统，查阅和修改寄存器和存储器，在需要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微控制器芯片，包括彼此相连的中央处理器、调试模块和调试接口，所述调试模块包括用于执行调试操作的调试处理单元，所述调试处理单元分别与所述中央处理器和调试接口相连，其特征在于所述调试模块中还包括：跟踪单元，与所述中央处理器和调试处理单元分别相连，用于在调试过程中监测到产生跟踪触发条件时，记录与所述跟踪触发条件对应的地址信息。

【技术特征摘要】
1、一种微控制器芯片，包括彼此相连的中央处理器、调试模块和调试接
口，所述调试模块包括用于执行调试操作的调试处理单元，所述调试处理单
元分别与所述中央处理器和调试接口相连，其特征在于所述调试模块中还包
括：跟踪单元，与所述中央处理器和调试处理单元分别相连，用于在调试过
程中监测到产生跟踪触发条件时，记录与所述跟踪触发条件对应的地址信息。
2、根据权利要求1所述的微控制器芯片，其特征在于，所述跟踪单元包
括：
缓冲区，用于存储所述地址信息，所述缓冲区与所述调试处理单元相连；
类型寄存器，用于记录各所述跟踪触发条件对应所需记录的地址信息类
型；
状态寄存器，用于配置所述缓冲区的状态参数；
指针寄存器，用于记录所述缓冲区的待存储地址；
控制寄存器，用于在产生各所述跟踪触发条件时，使能控制地址信息的
记录操作；
控制电路，用于在调试过程中监测到中央处理器中产生跟踪触发条件时，
根据所述控制寄存器对应所述跟踪触发条件的使能控制和所述类型寄存器记
录的地址信息类型，从所述中央处理器中读取所述地址信息，并根据所述状
态寄存器配置的缓冲区的状态参数和所述指针寄存器记录的缓冲区待存储地
址，将所述地址信息记录至所述缓冲区，所述控制电路与所述中央处理器、
缓冲区、类型寄存器、状态寄存器、指针寄存器和控制寄存器相连接。
3、根据权利要求1所述的微控制器芯片，其特征在于：所述调试接口为
JTAG接口。
4、根据权利要求1或2或3所述的微控制器芯片，其特征在于：所述调
试接口包括测试就绪端口，与所述调试处理单元相连，用于标识所述调试处
理单元接收指令或数据的状态。
5、一种微控制器芯片调试方法，其特征在于包括：在调试过程中，当监
测到产生跟踪触发条件时，记录与所述跟踪触发条件对应的地址信息。
6、根据权利要求5所述的微控制器芯片调试方法，其特征在于，在调试
过程中，当监测到产生跟踪触发条件时，记录与所述跟踪触发条件对应的地
址信息具体为：
在调试过程中监测到中央处理器中产生跟踪触发条件时，根据所述跟踪
触发条件对应的使能控制值和所需记录的地址信息类型，从所述中央处理器
中读取所述地址信息，并根据所述缓冲区状态参数以及所述缓冲区的待存储
地址，将所述地址信息记录至所述缓冲区。
7、根据权利要求6所述的微控制器芯片调试方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：谷志坤，赵启山，史卫东，
申请(专利权)人：上海海尔集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]