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微控制器芯片及其调试方法技术
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文档序号:2912483
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本发明涉及一种微控制器芯片及其调试方法,该芯片包括彼此相连的中央处理器、调试模块和调试接口,该调试模块包括调试处理单元,分别与中央处理器和调试接口相连,还包括跟踪单元,与中央处理器和调试处理单元分别相连,用于在调试过程中监测到产生跟踪触发条...
该专利属于上海海尔集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海海尔集成电路有限公司授权不得商用。
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