功能外观一体测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种功能外观一体测试设备，包括：料盘入料机构；功能测试机构，用于对产品进行功能测试；测试抓取机构，用于抓取产品并移动至功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构；外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；良品出料机构；补料抓取机构，用于将不良品移动至不良品放置机构，并装填良品；补料传输机构，为补料抓取机构提供良品；以及不良品放置机构，用于放置不良品。本实用新型专利技术提供的功能外观一体测试设备，既可以对产品进行功能测试，也可以对产品进行外观测试，可以简化测试过程，无需人工在两台设备之间搬运料盘，从而提高测试效率、减小人力投入。

【技术实现步骤摘要】
功能外观一体测试设备
本技术属于芯片测试
，更具体地说，是涉及一种功能外观一体测试设备。
技术介绍
在芯片出货之前，需要对芯片进行功能测试和外观测试，保证出货质量。电性测试、高压测试等功能测试采用功能测试设备完成，外观测试采用外观测试设备完成。两种测试设备分别对芯片进行工艺测试，导致测试过程繁琐、测试时间较长、人力投入也较大。
技术实现思路
本技术实施例的目的在于提供一种功能外观一体测试设备，以解决现有技术中存在的采用两种测试设备对芯片进行测试，导致测试过程繁琐、测试时间长、人力投入大的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种功能外观一体测试设备，包括：料盘入料机构，用于运输装载有待检测产品的料盘，所述料盘入料机构的传输方向沿Y轴设置；功能测试机构，用于对产品进行功能测试；测试抓取机构，用于从所述料盘入料机构上的料盘中抓取产品并移动至所述功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构以及将检测完成的不良品移动至不良品放置机构；外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；良品出料机构，用于运输装载有良品的料盘，所述良品出料机构的传输方向沿Y轴设置；补料抓取机构，用于将所述良品出料机构中外观不良和放置方向错误的产品移动至所述不良品放置机构，并装填良品；补料传输机构，为所述补料抓取机构提供良品；以及不良品放置机构，用于放置功能不良品、外观不良和放置方向错误的产品。在一个实施例中，所述料盘入料机构、所述功能测试机构、所述良品出料机构、所述不良品放置机构沿X轴方向依次排列设置。在一个实施例中，所述补料传输机构的传输方向沿Y轴设置，且所述补料传输机构设于所述功能测试机构和所述良品出料机构之间。在一个实施例中，所述测试抓取机构包括第一X轴移动模组、连接于所述第一X轴移动模组的第一Z轴移动模组、连接于所述第一Z轴移动模组的第一抓料组件、第二X轴移动模组、连接于所述第二X轴移动模组的第二Z轴移动模组、连接于所述第二Z轴移动模组的第二抓料组件，所述第一抓料组件用于从所述料盘入料机构上的料盘中抓取产品并移动至所述功能测试机构，所述第二抓料组件用于将检测完成的良品移动至所述良品出料机构以及将检测出的不良品移动至所述不良品放置机构。在一个实施例中，所述补料抓取机构包括第三X轴移动模组、连接于所述第三X轴移动模组的第三Z轴移动模组以及连接于所述第三Z轴移动模组的第三抓料组件。在一个实施例中，所述功能外观一体测试设备还包括工作底板以及固定于所述工作底板上的工作支架，所述料盘入料机构、所述功能测试机构、所述补料传输机构、所述良品出料机构以及所述不良品放置机构均固定于所述工作底板上，所述第一X轴移动模组、所述第二X轴移动模组、所述第三X轴移动模组及所述外观测试机构均固定于所述工作支架上。在一个实施例中，所述功能测试机构包括Y轴移动模组、由所述Y轴移动模组驱动的测试下座、测试升降组件、以及由所述测试升降组件驱动且用于下压所述测试下座的测试上座。在一个实施例中，所述料盘入料机构包括：料盘分层机构，包括用于升降堆叠的料盘的第一升降组件以及用于分离最底层料盘和其他料盘的第一承托组件；料盘移动机构，用于输送从所述料盘分层机构中分离出的料盘；以及料盘堆叠机构，用于堆叠经过所述料盘移动机构运输的料盘，所述料盘堆叠机构包括用于支撑堆叠料盘的第二承托组件以及用于将所述料盘移动机构上的料盘推顶至堆叠料盘的底部的第二升降组件。在一个实施例中，所述料盘移动机构包括传输驱动件、由所述传输驱动件驱动且用于放置料盘的承载盘、用于将料盘卡紧于所述承载盘中的卡紧组件以及用于导向料盘的导轨结构。在一个实施例中，所述卡紧组件包括固定于所述承载盘的钩爪气缸、连接于所述钩爪气缸输出端且用于卡紧固定料盘的钩爪本体以及使所述钩爪本体转动连接于所述承载盘的钩爪销。本技术提供的功能外观一体测试设备的有益效果在于：与现有技术相比，本技术功能外观一体测试设备包括料盘入料机构、功能测试机构、测试抓取机构、外观测试机构、良品出料机构、补料抓取机构、补料传输机构和不良品放置机构，产品通过料盘入料机构移动，测试抓取机构抓取料盘入料机构上的产品至功能测试机构进行功能测试，功能测试不合格的产品由测试抓取机构抓取至不良品放置机构，功能测试合格的产品由测试抓取机构抓取至良品出料机构，并有外观测试机构对良品出料机构上的产品进行外观测试，外观测试不合格的产品由补料抓取机构抓取至不良品放置机构，并由补料抓取机构从补料传输机构抓取产品装填至良品出料机构上的料盘。如此，该功能外观一体测试设备既可以对产品进行功能测试，也可以对产品进行外观测试，可以简化测试过程，无需人工在两台设备之间搬运料盘，从而提高测试效率、减小人力投入。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的功能外观一体测试设备的结构示意图；图2为本技术实施例提供的料盘入料机构的立体结构图；图3为本技术实施例提供的第一升降组件的立体结构图；图4为本技术实施例提供的料盘移动机构的立体结构图；图5为本技术实施例提供的承载盘和卡紧组件的立体结构图；图6为本技术实施例提供的承载盘和卡紧组件的爆炸结构图；图7为本技术实施例提供的第二升降组件的立体结构图；图8为本技术实施例提供的Y轴移动模组的立体结构图；图9为本技术实施例提供的第一X轴移动模组、第二X轴移动模组和第三X轴移动模组的立体结构图；图10为本技术实施例提供的第一抓料组件的立体结构图；图11为本技术实施例提供的补料传输机构的立体结构图。其中，图中各附图标记：1-料盘入料机构；11-料盘分层机构；111-第一升降组件；1111-升降电机；1112-带轮组件；1113-升降螺杆；1114-第一升降支架；11141-第一升降底板；11142-第二支撑柱；11143-第一推顶板；1115-升降安装板；1116-第一支撑柱；112-第一承托组件；1121-第一伸缩气缸；113-第一定位结构；1131-第一定位柱；1132-第一高度传感器；12-料盘移动机构；121-传输驱动件；1211-传输电机；1212-传输丝杆；1213-传输螺母座；122-承载盘；1221-挡板；1222-钩爪缺口；123-卡紧组件；1231-钩爪气缸；12310-环形卡槽；1232-钩爪本体；12321-连接部；123210-条形孔；12322-钩爪部；1233-钩爪销；124-导轨结构；1241-轨道座；1242-导轨本体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种功能外观一体测试设备，其特征在于，包括：/n料盘入料机构，用于运输装载有待检测产品的料盘，所述料盘入料机构的传输方向沿Y轴设置；/n功能测试机构，用于对产品进行功能测试；/n测试抓取机构，用于从所述料盘入料机构上的料盘中抓取产品并移动至所述功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构以及将检测完成的不良品移动至不良品放置机构；/n外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；/n良品出料机构，用于运输装载有良品的料盘，所述良品出料机构的传输方向沿Y轴设置；/n补料抓取机构，用于将所述良品出料机构中外观不良和放置方向错误的产品移动至所述不良品放置机构，并装填良品；/n补料传输机构，为所述补料抓取机构提供良品；以及/n不良品放置机构，用于放置功能不良品、外观不良和放置方向错误的产品。/n

【技术特征摘要】
1.一种功能外观一体测试设备，其特征在于，包括：
料盘入料机构，用于运输装载有待检测产品的料盘，所述料盘入料机构的传输方向沿Y轴设置；
功能测试机构，用于对产品进行功能测试；
测试抓取机构，用于从所述料盘入料机构上的料盘中抓取产品并移动至所述功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构以及将检测完成的不良品移动至不良品放置机构；
外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；
良品出料机构，用于运输装载有良品的料盘，所述良品出料机构的传输方向沿Y轴设置；
补料抓取机构，用于将所述良品出料机构中外观不良和放置方向错误的产品移动至所述不良品放置机构，并装填良品；
补料传输机构，为所述补料抓取机构提供良品；以及
不良品放置机构，用于放置功能不良品、外观不良和放置方向错误的产品。


2.如权利要求1所述的功能外观一体测试设备，其特征在于，所述料盘入料机构、所述功能测试机构、所述良品出料机构、所述不良品放置机构沿X轴方向依次排列设置。


3.如权利要求2所述的功能外观一体测试设备，其特征在于，所述补料传输机构的传输方向沿Y轴设置，且所述补料传输机构设于所述功能测试机构和所述良品出料机构之间。


4.如权利要求1所述的功能外观一体测试设备，其特征在于，所述测试抓取机构包括第一X轴移动模组、连接于所述第一X轴移动模组的第一Z轴移动模组、连接于所述第一Z轴移动模组的第一抓料组件、第二X轴移动模组、连接于所述第二X轴移动模组的第二Z轴移动模组、连接于所述第二Z轴移动模组的第二抓料组件，所述第一抓料组件用于从所述料盘入料机构上的料盘中抓取产品并移动至所述功能测试机构，所述第二抓料组件用于将检测完成的良品移动至所述良品出料机构以及将检测出的不良品移动至所述不良品放置机构。


5.如权利要求4所述的功能外观...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨建设，张雅凯，缪凯，贾勇，
申请(专利权)人：昆山晔芯电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32