转接测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种应用于主机板上ＣＰＵ插槽的转接测试装置，可设计为一转接卡的形式，可应用在对主机板的测试过程中，以避免ＣＰＵ在主机板间插拔而导致ＣＰＵ的耗损，其中设置有一基板、第一连接部、第二连接部以及一测试部。该第一连接部可连接该基板与该主机板的ＣＰＵ插槽；该第二连接部可容纳ＣＰＵ的插置，第一连接部与第二连接部具相对应的电路连接关系；该测试部是具数个测试脚位并连接至该第二连接部，以对该ＣＰＵ实施测试。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
转接测试装置(1)
本技术涉及一种转接测试装置，特别是应用于主机板的CPU插槽中，是对于主机板的CPU予以转接并可测试的延伸装置。(2)
技术介绍
在一般的个人计算机或笔记型计算机的主机板在制作成为半成品时，或者是该主机板不良而需要检修时，通常需要对该主机板施以检修测试，而此时必须连接许多相关周边组件或设备，例如包括显示屏幕、软盘、硬盘、内存以及CPU等。而这些组件或设备均属暂时性的连接，而且每次检查测试一片主机板都要将上述的接口设备安装以及拆卸一次，而在生产线上批量生产时，可能一天就要拆卸数百次以上，非常耗时以及不便并且损耗率相当高，特别是CPU的耗损特别需要重视，因为CPU在测试过程中烧毁或毁损比率相当高，并且CPU又属高价的组件，因此这对厂商而言亦是一笔负担。请参阅图1，为现有主机板测试的简单示意图。如图1所示，一主机板上1置有一CPU插槽100以供CPU10的置放，而一仪器5是可连接至该主机板1上，以对该主机板1施予检测。其中每检测一片主机板1该CPU10就要被插拔一次，这对CPU10这种高精密的IC组件有很大的耗损。请参阅图2，为现有主机板的CPU测试的简单示意图。如图2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种转接测试装置，是应用于主机板中插ＣＰＵ的ＣＰＵ插槽中，其特征在于包括：一基板；一第一连接部，是具有若干个与所述的ＣＰＵ的脚位数相同的公脚位，并可连接该基板与该主机板的ＣＰＵ插槽；一第二连接部，是具有若干个与该ＣＰＵ的脚位数相 同的母脚位，该第二连接部可容纳该ＣＰＵ的插置，所述的第一连接部的若干个公脚位与该第二连接部的若干个母脚位具有相对应的电路连接关系；一测试部，是具有数个测试脚位，该数个测试脚位相对连接至所述的第二连接部，以对所述的ＣＰＵ实施测试。

【技术特征摘要】
1.一种转接测试装置，是应用于主机板中插CPU的CPU插槽中，其特征在于包括：一基板；一第一连接部，是具有若干个与所述的CPU的脚位数相同的公脚位，并可连接该基板与该主机板的CPU插槽；一第二连接部，是具有若干个与该CPU的脚位数相同的母脚位，该第二连接部可容纳该CPU的插置，所述的第一连接部的若干个公脚位与该第二连接部的若干个母脚位具有相对应的电路连接关系；一测试部，是具有数个测试脚位，该数个测试脚位相对连接至所述的第二连接部，以对所述的CPU实施测试。2.如权利要求1项所述的一种转接测试装置，其特征在于所述的插置CPU的第二连接部上方置有一散热风扇，该散热风扇对该CPU实施散热。3.如权利要求2项所述的一种转接测试装置，其特征在于所述的散热风扇与该CPU之间设计一导热片，以将该CPU所散发的热能传导至该散热风扇。4.如权利要求1项所述的一种转接测试装置，其特征在于所述的主机板为笔记型计算机的主机板。5.如权利要求1项所述的一种转接测试装置，其特征在于所述的主机板为桌上型计算机的主机板。6.如权利要求1项所述的一种转接测试装置，其特征在于所述的测试部的数个脚位数目与所述的CPU的脚位数目相同。7.如权利要求1项所述的一种转接测试装置，其特征在于所述的第一连接部连接至所述的基板处，并在该基板的边缘设置一保护框以保护该基板。8.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹益新，李光华，
申请(专利权)人：神达电脑股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]