一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板，包括测试底座及设置于测试底座顶部的测试框体，所述测试框体包括呈条状的扣框，位于所述扣框的底部左侧设置有阳极导杆，且扣框的底部右侧设置有阴极导杆，所述扣框的内部设置有插槽，位于所述扣框的两端对称设置有档杆，所述档杆的中间设置有卡紧结构，位于所述扣框的前后分别设置有可转动的测试板一和测试板二，所述测试板一和测试板二上设置有若干个用于测试的传感器。本实用新型专利技术可将需要测试的内存芯片插入至测试框体的内部，同时可将两侧档杆上的卡紧结构对内存芯片进行加强紧固，并使用测试板一和测试板二上的传感器与内存芯片贴合，进行检测，便于快速检测，较为实用。

【技术实现步骤摘要】
一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板
本技术涉及芯片测试设备
，具体为一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板。
技术介绍
内存是计算机的重要部件之一。它是外存与CPU进行沟通的桥梁，计算机中所有程序的运行都在内存中进行。内存性能的强弱影响计算机整体发挥的水平。内存(Memory)也称内存储器和主存储器，它用于暂时存放CPU中的运算数据，与硬盘等外部存储器交换的数据。只要计算机开始运行，操作系统就会把需要运算的数据从内存调到CPU中进行运算。当运算完成，CPU将结果传送出来。内存的运行也决定计算机整体运行快慢的程度。内存条由内存芯片、电路板、金手指等部分组成。现有的内存芯片在加工过后需要对其进行充分的测试，现有的测试板不便于快速的安装固定及测试，使用不够方便，影响测试效率，因此需要设计相应的技术方案解决存在的技术问题。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术不足，本技术提供了一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板，解决了：现有的内存芯片在加工过后需要对其进行充分的测试，现有的测试板不便于快速的安装固定及测试，使用不够方便，影响测试效率的问题。(二)技术方案为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板，包括测试底座及设置于测试底座顶部的测试框体，所述测试框体包括呈条状的扣框，位于所述扣框的底部左侧设置有阳极导杆，且扣框的底部右侧设置有阴极导杆，所述扣框的内部设置有插槽，位于所述扣框的两端对称设置有档杆，所述档杆的中间设置有卡紧结构，位于所述扣框的前后分别设置有可转动的测试板一和测试板二，所述测试板一和测试板二上设置有若干个用于测试的传感器，所述测试板一的顶部对称设置有导柱，位于测试板二的相应位置对应设置有与导柱匹配的柱管。作为本技术的进一步优选方式，所述卡紧结构包括包裹有扭簧的可转动的轴杆，所述轴杆上还连接有卡板，所述卡板的内侧连接有弹性凸球。作为本技术的进一步优选方式，位于所述测试底座的左侧顶部还设置有指示灯。作为本技术的进一步优选方式，所述测试底座的内部中间位置设置有电池储槽。作为本技术的进一步优选方式，位于所述测试底座的右侧顶部还设置有数据接口。(三)有益效果本技术提供了一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板。具备以下有益效果：(1)本技术可将需要测试的内存芯片插入至测试框体的内部，同时可将两侧档杆上的卡紧结构对内存芯片进行加强紧固，并使用测试板一和测试板二上的传感器与内存芯片贴合，进行检测，便于快速检测，较为实用。(2)本技术通过将测试底座与测试框体进行插接式组合安装，便于进行维护作业，同时测试底座还可以使用备用电池作业，便于携带使用。附图说明图1为本技术的整体结构示意图；图2为本技术的卡紧结构的结构示意图；图3为本技术的测试底座的俯视结构示意图。图中，1、测试底座；2、测试框体；3、扣框；4、阳极导杆；5、阴极导杆；6、档杆；7、测试板一；8、测试板二；9、传感器；10、导柱；11、柱管；12、轴杆；13、卡板；14、弹性凸球；15、指示灯；16、电池储槽；17、数据接口。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，本技术实施例提供一种技术方案：一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板，包括测试底座1及设置于测试底座1顶部的测试框体2，所述测试框体2包括呈条状的扣框3，位于所述扣框3的底部左侧设置有阳极导杆4，且扣框3的底部右侧设置有阴极导杆5，所述扣框3的内部设置有插槽，位于所述扣框3的两端对称设置有档杆6，所述档杆6的中间设置有卡紧结构，位于所述扣框3的前后分别设置有可转动的测试板一7和测试板二8，所述测试板一7和测试板二8上设置有若干个用于测试的传感器9，所述测试板一7的顶部对称设置有导柱10，位于测试板二8的相应位置对应设置有与导柱10匹配的柱管11。卡紧结构包括包裹有扭簧的可转动的轴杆12，所述轴杆12上还连接有卡板13，所述卡板13的内侧连接有弹性凸球14，通过这样的设计可以使用轴杆配合卡板13及其内侧的弹性凸球14对内部的内存芯片进行夹紧固定。位于所述测试底座的左侧顶部还设置有指示灯15，通过这样的设计可以使用指示灯15进行提醒显示，便于直观的观察。测试底座1的内部中间位置设置有电池储槽16，通过这样的设计可以使用电池储槽16进行收纳电池，提供供电。位于所述测试底座1的右侧顶部还设置有数据接口17，通过这样的设计可以使用数据接口17提供多种连接供电方式。工作原理：使用时，首先可将需要测试的内存芯片插入至测试底座1的内部，然后可打开紧固结构，通过使用轴杆配合卡板13及其内侧的弹性凸球14对内部的内存芯片进行夹紧固定，然后可转动前后两个测试板一7和测试板二8进行扣合，扣合的过程中，传感器9与相应的内存芯片进行接触，对内存芯片进行测试，测试可通过指示灯15进行显示效果，整体可使用电池提供供电，或者数据接口17连接数据线与计算机等其他设备进行供电，使用较为方便。本技术的1、测试底座；2、测试框体；3、扣框；4、阳极导杆；5、阴极导杆；6、档杆；7、测试板一；8、测试板二；9、传感器；10、导柱；11、柱管；12、轴杆；13、卡板；14、弹性凸球；15、指示灯；16、电池储槽；17、数据接口，部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知，本技术解决的问题是现有的内存芯片在加工过后需要对其进行充分的测试，现有的测试板不便于快速的安装固定及测试，使用不够方便，影响测试效率的问题，本技术通过上述部件的互相组合，本技术可将需要测试的内存芯片插入至测试框体的内部，同时可将两侧档杆上的卡紧结构对内存芯片进行加强紧固，并使用测试板一和测试板二上的传感器与内存芯片贴合，进行检测，便于快速检测，较为实用，本技术通过将测试底座与测试框体进行插接式组合安装，便于进行维护作业，同时测试底座还可以使用备用电池作业，便于携带使用。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点,对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板，其特征在于：包括测试底座(1)及设置于测试底座(1)顶部的测试框体(2)，所述测试框体(2)包括呈条状的扣框(3)，位于所述扣框(3)的底部左侧设置有阳极导杆(4)，且扣框(3)的底部右侧设置有阴极导杆(5)，所述扣框(3)的内部设置有插槽，位于所述扣框(3)的两端对称设置有档杆(6)，所述档杆(6)的中间设置有卡紧结构，位于所述扣框(3)的前后分别设置有可转动的测试板一(7)和测试板二(8)，所述测试板一(7)和测试板二(8)上设置有若干个用于测试的传感器(9)，所述测试板一(7)的顶部对称设置有导柱(10)，位于测试板二(8)的相应位置对应设置有与导柱(10)匹配的柱管(11)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板，其特征在于：包括测试底座(1)及设置于测试底座(1)顶部的测试框体(2)，所述测试框体(2)包括呈条状的扣框(3)，位于所述扣框(3)的底部左侧设置有阳极导杆(4)，且扣框(3)的底部右侧设置有阴极导杆(5)，所述扣框(3)的内部设置有插槽，位于所述扣框(3)的两端对称设置有档杆(6)，所述档杆(6)的中间设置有卡紧结构，位于所述扣框(3)的前后分别设置有可转动的测试板一(7)和测试板二(8)，所述测试板一(7)和测试板二(8)上设置有若干个用于测试的传感器(9)，所述测试板一(7)的顶部对称设置有导柱(10)，位于测试板二(8)的相应位置对应设置有与导柱(10)匹配的柱管(11)。


2.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：鞠文凯，张建军，
申请(专利权)人：晶测电子科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31