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本实用新型公开了一种用于内存芯片信号完整性测试的测试板，包括测试底座及设置于测试底座顶部的测试框体，所述测试框体包括呈条状的扣框，位于所述扣框的底部左侧设置有阳极导杆，且扣框的底部右侧设置有阴极导杆，所述扣框的内部设置有插槽，位于所述扣框的...
该专利属于晶测电子科技(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶测电子科技(上海)有限公司授权不得商用。

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