分析电子电路的分析方法和分析装置制造方法及图纸

在电子电路分析装置中，可高效地分析开关整流器电路等。分析装置包括：电子电路数据存储装置；电子电路选择单元；元件数据存储单元；元件选择单元；用于从与元件存储单元中所存在的数据有关的电子元件中选择用在电子电路中的一个或多个电子元件；工作分析模式指定单元，用于指定电子电路工作的分析模式；特性分析单元，根据分析模式并在元件选择单元所选元件基础上分析所选电子电路特性；以及显示分析结果的分析结果显示单元。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及分析诸如开关整流器电路的电子电路的特性的电子电路分析方法和分析装置，还涉及计算机可读记录介质，用于在其上存储可由计算机执行的电子电路分析方法，本专利技术还涉及提供使计算机能执行电子电路分析方法的程序的方法。总体上讲，电子电路的特性随着这些电子电路中所用的集成电路(IC)和电子元(器)件、电子电路的整体结构、所工作的频率范围等变化很大。例如，开关整流器电路是由开关整流器和外部电子元件构成。开关整流器(SW整流器)构成了开关整流电路(SW整流器电路)，并且对应于一个用来控制SW整流器电路输出电压的控制IC。正象此种控制IC，存在有不含开关电路的IC和含开关电路的另一种IC(以下称“SW整流器控制IC”)。外部电子元件还提供外部SW整流器控制IC。SW整流器控制IC的特性根据用户的使用状态和外部电子元件的特性，特别是输入电压、输出电压和输出电流的不同而大不相同。结果，设计产品的一个主要任务就是找出对用户所用的条件下呈最佳状态的SW整流控制IC和外部电子元件。以下是一种传统的分析含有SW整流器控制IC及其外部电子元件的SW整流器电路的方法，以找出最佳SW整流器控制IC和最佳外部电子元件。也就是说，在实际产品中(即实际SW整流控制IC)，诸如线圈和电容器的实际电子元件被替换以构成SW整流器电路。然后，通过使用评估装置来评估此SW整流器电路的实际特性。换言之，为了分析SW整流器电路，就要实际购买产品及电子元件，并制造用于评估此SW整流器电路特性的印刷电路板。随后，用焊接工具替换在印刷板上的产品及电子元件，并由评估装置评估其实际特性。但在上述常规的SW整流器电路的分析方法中，为了评估SW整流器，必须购买产品(即SW整流器)和各种电子元件。还必须制造用于实际评估产品特性的印刷电路板。此外，此常规分析方法还有以下问题。即用焊接工具替换电子元件非常麻烦且制备评估装置以及实际上评估产品的特性耗时很多。另外，在买到一个实际产品后，所购产品的特性也只是该产品的一种正常的特性。而无法评估此购买的产品在其较差的情况下的特性。如上所述，分析SW整流电路特别困难，因为电路装置复杂且此SW整流电路的特性也复杂。在其它情况下还存在类似的问题，即分析不是SW整流电路时的电子电路时的问题。本专利技术是用于解决传统电子电路分析装置的上述问题的，因此，其一个目的在于提供一种分析方法和一种分析装置，它能够分析电子电路，并且还提供一种计算机可读记录介质，用于在其上记录由计算机执行的电子电路分析方法的程序，本专利技术还提供一种方法，以提供能使计算机执行电子电路分析方法的程序，以轻易而有效的地分析电子电路。本专利技术的另一目的在于提供一种分析方法和分析装置，能分析开关整流器电路的特性，还提供一种计算机可读记录介质，用于在其上记录用于由计算机所执行的SW整流器电路的程序，本专利技术还提供一种方法，用于提供能由计算机执行SW整流器电路分析方法的程序，以稳定有效地分析开关整流器电路。根据本专利技术，提供一种电子电路分析装置，其特征在于包括电子电路数据存储装置，用于在其中存储与多个电子电路有关的数据；电子电路选择装置，用于从与所述电子电路数据存储装置中所存的数据有关的电子电路中选择所要的电子电路；元件数据存储装置，用于在其中存储用在电子电路中的诸如线圈和电容的多个电子元件有关的数据；元件选择装置，用于从与所述元件数据存储装置中所存的数据有关的电子元件中选择用在电子电路中的一个或多个电子元件；工作分析模式指定装置，用于指定电子电路的工作的分析模式；特性分析装置，用于根据由所述工作分析模式指定装置所指定的工作分析模式，在由所述元件选择装置选择的电子元件的基础上，分析由所述电子电路选择装置选择的电子电路的特性；以及分析结果显示装置，用于显示由所述特性分析装置所给出的分析结果。电子电路数据存储装置，用于在其中存储与多个电子电路有关的数据；电子电路选择装置，用于从与电子电路数据存储装置中所存的数据有关的电子电路中选择所要的电子电路；元件数据存储装置，用于在其中存储用在电子电路中的诸如线圈和电容的多个电子元件有关的数据；元件选择装置，用于从与元件数据存储装置中所存的数据有关的电子元件中选择用在电子电路中的一个或多个电子元件；工作分析模式指定装置，用于指定电子电路的工作的分析模式；特性分析装置，用于根据由工作分析模式指定装置所指定的工作分析模式，在由元件选择装置选择的电子元件的基础上，分析由所述电子电路选择装置选择的电子电路的特性；以及分析结果显示装置，用于显示由特性分析装置所给出的分析结果。以此电路结构，通过选择电子电路、选择电子元件并指定分析模式，来分析电子电路的特性。上述电子电路分析装置还可包括负载设定装置，用于设定在电子电路中所含的负载；特性分析装置根据由工作分析模式指定装置所指定的工作分析模式，在由元件选择装置选定的电子元件和由负载设定装置设定的负载的基础上，分析由电子电路选择装置选择的电子电路的特性；以此电路结构，可轻易地分析诸如SW整流器的电子电路的工作。上述电子电路分析装置还可包括电子电路显示装置，用于显示与由电子电路选择装置所选的电子电路的电路结构有关的内容，并显示一列电子元件，它可通过指定一个显示的电子元件而选作指定电子元件，且元件选择装置不是从元件列中选一个所要元件而是从由电子电路显示装置显示的元件列中选择一个所要的电子元件，或者设定一个指定的电子元件的所要的特性。以此电路结构，可以观看电子电路的电路结构，使它可以轻易地选择电子元件。上述电子电路分析装置还可包括一个电子电路显示装置，用于显示所显示的电子元件的值，以此电路结构，用户可以看到构成电子电路的电子元件的值。上述电子电路分析装置可使工作分析模式指定装置指定当接通电源时与响应特性有关的分析模式的工作分析模式，或电源改变时与瞬态响应有关的分析模式的工作分析模式和负载改变时的瞬态响应特性的工作分析模式；且分析结果显示装置显示由特性分析装置所给出的作为响应波形输出的分析结果，横轴为时问轴。以此电路结构，可轻易地分析瞬态响应。上述电子电路的分析装置可使工作分析指定装置，指定在用负载作为参数时与输出电压特性和效率特性有关的分析模式的工作分析模式，且分析结果显示装置显示由特性分析装置所给出的分析结果，其横轴作为输出电流或负载电阻值。以此电路结构，可在用负载作参数的同时轻易地分析与诸如SW整流器电路的输出电压特性和电子电路的效率特性有关的数据。上述电子电路的分析装置还可使分析结果显示装置在分析电子电路工作的同时显示在电子电路中流过的电流超过电子电路中所用的电子元件的额定电流值时的警告信息。以此电路结构，可避免出现过流的危险。上述电子电路的分析装置还可使特性分析装置分析在电子电路选择装置所选的电子电路的特性中由电子电路制造的不同引起的改变使电子电路在正常特性和最坏特性下的情况。以此电路结构，不仅可以考虑正常状态，而且还可以考虑最坏的状态。上述电子电路分析装置还可包括温度指定装置，用于在进行分析操作时指定温度，且特性分析装置在由温度指定装置指定的温度基础上分析电子电路的特性。以此电路结构，可以在考虑了电子电路工作温度的情况下分析特性。上述电子电路分析装置可使元件数据存储装置包括元件数据增加装置，用于增加与新本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子电路分析装置，包括： 电子电路数据存储装置，用于在其中存储与多个电子电路有关的数据； 电子电路选择装置，用于从与所述电子电路数据存储装置中所存的数据有关的电子电路中选择所要的电子电路； 元件数据存储装置，用于在其中存储用在电子电路中的诸如线圈和电容的多个电子元件有关的数据； 元件选择装置，用于从与所述元件数据存储装置中所存的数据有关的电子元件中选择用在电子电路中的一个或多个电子元件； 工作分析模式指定装置，用于指定电子电路的工作的分析模式； 特性分析装置，用于根据由所述工作分析模式指定装置所指定的工作分析模式，在由所述元件选择装置选择的电子元件的基础上，分析由所述电子电路选择装置选择的电子电路的特性；以及 分析结果显示装置，用于显示由所述特性分析装置所给出的分析结果。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：须藤稔，
申请(专利权)人：精工电子有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]