一种芯片信号测试电路及胶囊式内窥镜制造技术

本发明专利技术公开了一种芯片信号测试电路，包括信号选通电路和用于控制信号选通电路的控制电路。信号选通电路设于胶囊式内窥镜内的测试芯片上，其输入端与测试芯片上的多个测试信号线一一连接，且具有单一输出端。控制电路在接收到一目标测试信号的测试指令时，控制信号选通电路将目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以实现对目标测试信号进行检测。可见，本申请可根据信号测试需求，通过信号选通方式从多个测试信号中选择相应的测试信号输出测试，从而尽可能地节约芯片外测试引脚数，有利于胶囊式内窥镜进行系统设计和硬件布局。本发明专利技术还公开了一种胶囊式内窥镜，与上述芯片信号测试电路具有相同的有益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片信号测试电路及胶囊式内窥镜
本专利技术涉及信号检测领域，特别是涉及一种芯片信号测试电路及胶囊式内窥镜。
技术介绍
胶囊式内窥镜包括图像传感器和射频收发器。目前，为了检测胶囊式内窥镜的工作性能，通常需要对图像传感器和射频收发器这两个芯片内部的关键信号进行抓取测试。现有技术中，测试芯片内部信号的技术手段通常为：将芯片内部所需测试的信号通过走线方式连接至芯片外部进行测试，具体信号测试原理如图1所示，即将芯片内部所需测试的信号一一通过芯片引脚引出，如要测试芯片内部的5个信号，需在芯片外部增加5个引脚输出。但是，这种芯片信号测试方式所增设的芯片引脚数量较多，不利于胶囊式内窥镜这种体积小巧的设备进行系统设计和硬件布局。因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域的技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种芯片信号测试电路及胶囊式内窥镜，可根据信号测试需求，通过信号选通方式从多个测试信号中选择相应的测试信号输出测试，从而尽可能地节约芯片外测试引脚数，有利于胶囊式内窥镜进行系统设计和硬件布局。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片信号测试电路，其特征在于，包括：/n设于胶囊式内窥镜内的测试芯片上，输入端与所述测试芯片上的多个测试信号线一一连接、且具有单一输出端的信号选通电路；/n设于所述胶囊式内窥镜内、与所述信号选通电路的控制端连接的控制电路，用于在接收到一目标测试信号的测试指令时，控制所述信号选通电路将所述目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以对所述目标测试信号进行检测。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片信号测试电路，其特征在于，包括：
设于胶囊式内窥镜内的测试芯片上，输入端与所述测试芯片上的多个测试信号线一一连接、且具有单一输出端的信号选通电路；
设于所述胶囊式内窥镜内、与所述信号选通电路的控制端连接的控制电路，用于在接收到一目标测试信号的测试指令时，控制所述信号选通电路将所述目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以对所述目标测试信号进行检测。


2.如权利要求1所述的芯片信号测试电路，其特征在于，所述测试芯片包括带有微处理器和第一寄存器的射频收发器芯片；
相应的，所述控制电路包括：
与所述信号选通电路连接的第一寄存器；
与所述第一寄存器连接的微处理器，用于在接收到所述射频收发器芯片的一目标测试信号的测试指令时，通过配置所述第一寄存器来控制所述信号选通电路将所述目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以对所述目标测试信号进行检测。


3.如权利要求2所述的芯片信号测试电路，其特征在于，所述测试芯片还包括带有第二寄存器的图像传感器芯片；其中，所述第二寄存器通过芯片接口与所述微处理器连接；
相应的，所述信号选通电路包括：
设于所述射频收发器芯片上，输入端与所述射频收发器芯片上的多个测试信号线一一连接、控制端与所述第一寄存器连接、且具有...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈容睿，王春，邬墨家，
申请(专利权)人：重庆金山医疗器械有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50