一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法技术

本发明专利技术涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法。具体测试方法如下：S1：测试载具板与DPS测试电路连接；S2：将测试载具板处于空载状态下；S3：测试载具板开始运行；S4：预估出蓄能电容的目标电容值C；S5：读取恒定输出电压Vdut及钳制电流Iclamp；S6：计算测试时间t；S7：设置DPS测试电路的工作参数；S8：触发DPS测试电路的ForceV模式；S9：计算出实测蓄能电容的电容值C

【技术实现步骤摘要】
一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法
本专利技术涉及半导体测试
，具体地说是一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法。
技术介绍
一般情况下，在集成电路芯片正常工作时需要稳定的电源。通常设计电路时，在芯片的电源引脚连接电源网络之处都会在靠近电源引脚的地方布局一些去耦电容，包括容值较小的滤波电容和容值较大的蓄能电容。对于芯片测试应用，芯片的所有引脚都要一一对接自动测试机的针脚，而且自动测试机内部在针脚和测试电路单元之间往往也有较长的内部线缆连接。所以，当被测芯片装载到测试载具电路板上的时候，对芯片而言，其电源引脚一般没有机会连接大面积覆铜的电源网络。在这种情况下，为了准确测试被测芯片的功能和性能，更加需要在测试载具板上靠近芯片电源引脚的地方就近连接一些去耦电容。但是，这些去耦电容当中，容值较大的蓄能电容会带来一个问题：当需要测试被测芯片的静态直流泄露电流IDDQ的指标时，蓄能电容会带来明显的误差。所以当测试程序的测试项执行至测量IDDQ时，需要切断蓄能电容到被测芯片电源引脚的连接。也就是说蓄能电容的连接需要设计为可通可断本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法，包括DPS测试电路、测试载具板，其特征在于：具体测试方法如下：/nS1：自动测试机的测试载具板与DPS测试电路连接；/nS2：将测试载具板处于没有被测芯片的空载状态下；/nS3：测试载具板开始运行；/nS4：根据测试载具电路板的参数，预估出蓄能电容的目标电容值C；/nS5：根据测试程序的数据，读取恒定输出电压Vdut及钳制电流Iclamp；/nS6：计算测试时间t；/nS7：设置DPS测试电路的工作参数；/nS8：自动测试机的主控模块触发DPS测试电路的ForceV模式；/nS9：计算出实测蓄能电容的电容值C

【技术特征摘要】
1.一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法，包括DPS测试电路、测试载具板，其特征在于：具体测试方法如下：
S1：自动测试机的测试载具板与DPS测试电路连接；
S2：将测试载具板处于没有被测芯片的空载状态下；
S3：测试载具板开始运行；
S4：根据测试载具电路板的参数，预估出蓄能电容的目标电容值C；
S5：根据测试程序的数据，读取恒定输出电压Vdut及钳制电流Iclamp；
S6：计算测试时间t；
S7：设置DPS测试电路的工作参数；
S8：自动测试机的主控模块触发DPS测试电路的ForceV模式；
S9：计算出实测蓄能电容的电容值C实测；
S10：根据测得的蓄能电容的电容值C实测的数据，判断出蓄能电容的失效情况。


2.根据权利要求1所述的一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法，其特征在于：所述的计算测试时间的公式为t=C*Vdut/Iclamp。


3.根据权利要求1所述的一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法，其特征在于：所述的蓄能电容的电容值的计算公式为C实测=ΔQ/ΔV=(I*t)/ΔV=I*(t1-t0...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏津，张经祥，胡雪原，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31