结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置，结合物体二维和高度信息的测量方法包括：提供一基准平面以供放置测量对象；投射红、绿、蓝三原色光源于测量对象上，其中至少一色彩的光源是形成多个光束，多个光束倾斜地投射于测量对象的顶面并形成多数个光点；通过摄像装置提取测量对象图像，并且提取对应于三原色光源通道的图像信息；利用对应于多个光束颜色通道的图像信息，通过光束投射于测量对象上所形成光点的水平偏移量，以取得测量对象的高度信息；利用其余颜色通道的图像信息，通过图像辨识方式以取得二维测量或检测信息。

【技术实现步骤摘要】
结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置
本专利技术有关于一种结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置，特别是有关于一种适合于印刷电路板、集成电路、电子组件基板等类型具有二维及立体形貌对象的测量或检测作业使用的结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置。
技术介绍
现有的印刷电路板、集成电路、或电子基板等类型具有二维形貌和三维形貌的对象，常利用视觉检测方式进行检测或测量。然而目前的测量技术通常需要通过两组(或以上)的摄像装置或光学扫瞄装置对物体进行多次扫描，以分别得到物体的2D及3D测量结果。如此不仅耗费测量时间，还会增加机具成本。此外，现有的视觉检测技术所使用三维测量方法通常使用的扫瞄装置的结构相当复杂，因此也造成了测量设备昂贵的问题存在。由于以上原因，造成现有测量技术的缺点，故如何通过结构改良，以解决前述各项问题，已成为该项产品所欲解决的重要课题之一。
技术实现思路
本专利技术主要目的，在于提供一种能够解决目前测量技术中，必须多次扫瞄方能够取得二维及三维测量信息的缺点。为了解决上述的技术问题，本专利技术一实施例提供一种结合物体二维和高度信息的测量方法，其中包括：提供一基准平面以供放置测量对象；通过照明装置投射红、绿、蓝三原色光源于所述测量对象上，所述三原色光源中至少一色彩的光源是通过光束产生装置产生的多个光束，并且多个所述光束相对于所述基准平面倾斜地投射于所述测量对象上，而于所述测量对象顶面形成多数个光点；通过摄像装置提取所述测量对象图像，并且从所述摄像装置输出的图像信息中提取对应于所述三原色光源通道的图像信息；利用对应于所述光束产生装置所发出的光源颜色通道的图像信息，通过图像辨识方式计算光束投射于测量对象上所形成光点的水平偏移量，以取得所述测量对象的高度信息；利用除了所述光束产生装置所发出的光线颜色以外的其余颜色光源通道的图像信息，通过图像辨识方式以以取得二维测量或检测信息。本专利技术测量方法的一优选实施例中，所述照明装置还具有多个发光组件，用以产生所述三原色光源当中，除了所述光束产生装置所输出光源颜色以外的其余色彩的所述原色光源。本专利技术测量方法的一优选实施例中，其中所述测量对象的高度信息，能够通过下列公式取得：h＝d×tan(θ)；其中，h为所述测量对象顶面距离所述基准平面高度；d为所述光束产生装置输出光束形成于所述测量对象顶面的光点和激光束与所述基准平面交会点的水平方向偏移距离；以及θ为所述光束与所述基准平面的夹角。本专利技术实施例还提供一种用于实施本专利技术方法的测量装置，其中包括：一基座，所述基座顶面形成所述基准平面；一本体部，所述本体部具有一镜头支架，用以设置所述摄像装置，以及多个安装架，用以设置所述照明装置的所述光束产生装置及多个所述发光组件。本专利技术测量装置的一优选实施例，其中所述光束产生装置具有一光源装置，用以产生多个所述光束，以及至少一反射镜，用以反射多个所述光束，而使得多个所述光束以预定倾斜角度投射于所述基准平面上。本专利技术的有益效果，在于能够同时取得物体的二维测量及高度测量数据，而简化检测作业，并提高效率。为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而所提供的附图仅用于提供参考与说明，并非用来对本专利技术加以限制。附图说明图1为本专利技术所使用测量装置的立体示意图。图2为本专利技术使用测量装置的局部分解示意图。图3为本专利技术使用测量装置的剖面示意图。图4为本专利技术取得二维测量信息及高度信息操作方法的示意图。图5为本专利技术测量方法的方块流程示意图。具体实施方式以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“具有薄膜发声组件的可挠性电子组件及其电子装置”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所公开的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所公开的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。应当可以理解的是，虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号，但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包括相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。如图1至图3所示，为本专利技术测量方法所使用测量装置的一具体实施例。本实施例中，测量装置2设置于一测量机台1上，所述测量机台1具有一基座3，基座3的顶面形成一基准平面301，用以供放置测量对象，以及一移动装置4，设置于基座3顶面，移动装置4包括有一移动机架401，以及设置于基座3顶面的第一滑轨402，以及设置于移动机架401上的第二滑轨403。本专利技术的测量装置2设置于移动机架401上，并且能够通过移动机架401的第一滑轨402及第二滑轨403带动测量装置2沿着基座3的基准平面301位移，而使得测量装置2的位置能够移动到基准平面301的任一位置。如图2及图3所示，本专利技术的测量装置2包括有一本体部10、摄像装置20、照明装置30。其中，本体部10具有一可拆卸的外壳11，用以保护摄像装置20、照明装置30等主要组件，并且外壳11能够容易拆卸，以利于维修内部组件。本体部10的上端设置有一镜头支架12，用以固定摄像装置20，以及多个安装架13，用以设置所述照明装置30。本体部10的底部设置一开口部14，所述开口部14面向于所述基准平面，摄像装置20的镜头21能够通过开口部14提取测量对象的图像，并且照明装置30以及光束产生装置32的光线能够通过开口部14投射于测量对象上。本实施例中，本体部10能够定义出一中心轴线C，所述中心轴线C垂直于基座3的基准平面301，并且所述摄像装置20以及所述开口部14均位于中心轴线C上。摄像装置20具有一镜头21，以及一连接于镜头21的图像捕获设备22，图像捕获设备22通过镜头21提取测量对象的图像，且将测量对象图像传送至一后台处理系统(例如：计算机主机)进行处理，并通过图像辨识方式取得测量信息。请配合图3及图4所示，本专利技术的照明装置30是采用多个发光组件31a、31b和至少一光束产生装置32组合，而用以产生三原色的光源(例如：本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种结合物体二维和高度信息的测量方法，其特征在于，包括：/n提供一基准平面以供放置测量对象；/n通过照明装置投射红、绿、蓝三原色光源于所述基准平面上的测量对象上，所述三原色光源中至少一原色的光源是通过光束产生装置产生的多个光束，并且多个所述多个光束相对于所述基准平面倾斜地投射于所述测量对象上所述测量对象顶面形成多个光点；/n通过摄像装置提取所述测量对象图像，并且从所述摄像装置输出的图像信息中提取对应于所述三原色光源通道的图像信息；/n利用对应于所述光束产生装置所发出的光源颜色通道的图像信息，通过图像辨识方式计算光束投射于测量对象上所形成多个光点的水平偏移量，以取得所述测量对象的高度信息；/n利用除了所述光束产生装置所发出的光源颜色通道以外的其余颜色通道的图像信息，通过图像辨识方式以取得二维测量或检测信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种结合物体二维和高度信息的测量方法，其特征在于，包括：
提供一基准平面以供放置测量对象；
通过照明装置投射红、绿、蓝三原色光源于所述基准平面上的测量对象上，所述三原色光源中至少一原色的光源是通过光束产生装置产生的多个光束，并且多个所述多个光束相对于所述基准平面倾斜地投射于所述测量对象上所述测量对象顶面形成多个光点；
通过摄像装置提取所述测量对象图像，并且从所述摄像装置输出的图像信息中提取对应于所述三原色光源通道的图像信息；
利用对应于所述光束产生装置所发出的光源颜色通道的图像信息，通过图像辨识方式计算光束投射于测量对象上所形成多个光点的水平偏移量，以取得所述测量对象的高度信息；
利用除了所述光束产生装置所发出的光源颜色通道以外的其余颜色通道的图像信息，通过图像辨识方式以取得二维测量或检测信息。


2.如权利要求1所述的结合物体二维和高度信息的测量方法，其特征在于，所述照明装置还具有多个发光组件，用以产生所述三原色光源当中，除了所述光束产生装置所输出光源颜色以外的其余色彩的所述原色光源。


3.如权利要求2所述的结合物体二维和高度信息的测量方法，其特征在于，所述测量对象的高度信息，能够通过下列公式取得：h＝d×tan(θ)；其中，h为所述测量对象顶面距离所述基准平面高度；d为所述多个光束形成于所述测量对象顶面的多个光点和所述多个光束与所述基准平面交会点的水平方向偏移距离；以及θ为所述多个光束与所述基准平面的夹角。


4.如权利要求2所述的结合物体二维和...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄琳典，冯兆平，
申请(专利权)人：峻鼎科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71