检测治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种检测治具，包括呈活动设置于机架上的底座和上盖，底座上设置有用于放置工件的容置空间，容置空间连接有抽真空装置，工件放置于容置空间内，底座带动工件活动至预设位置，而后上盖活动以与底座配合以密封容置空间，抽真空装置启动以使容置空间内呈真空状态。本实用新型专利技术的检测治具，通过底座活动以能更方便的放置工件，再通过底座活动以靠近上盖，而后上盖活动以密闭容置空间，进而通过抽真空装置对容置空间进行抽真空；本实用新型专利技术的检测治具，结构简单，操作方便，检测效果好。

【技术实现步骤摘要】
检测治具
本技术涉及自动化设备
，尤其涉及一种检测治具。
技术介绍
在笔记本电脑的轴承油高测量中，外界环境对其测量结果存在一定的影响，而轴承的油高对笔记本电脑风扇的转速、平衡及异响等方面存在较大的影响，所以对轴承油高的测量环境要求较高，尤其需要真空环境。在现有技术中，检测治具所提供的检测环境并不能满足轴承油高的测量要求而使测量结果存在一定的误差，进而影响了轴承的使用。因此，亟需一种能够提供真空环境、检测效果好的检测治具。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单且能够在真空环境下对工件进行检测的检测治具。为实现上述目的，本技术提供了一种检测治具，包括呈活动设置于机架上的底座和上盖，底座上设置有用于放置工件的容置空间，容置空间连接有抽真空装置，工件放置于容置空间内，底座带动工件活动至预设位置，而后上盖活动以与底座配合以密封容置空间，抽真空装置启动以使容置空间内呈真空状态。与现有技术相比，本技术的检测治具，包括活动的底座和活动的上盖，底座上设置有用于放置工件的容置空间，容置空间连接有抽真空装置。工件放置于容置空间后，底座带动工件一起活动至靠近上盖的预设位置，以使得上盖活动后能与底座配合形成密封的容置空间，再通过抽真空装置对容置空间抽真空，以使容置空间内呈真空状态，从而使得工件在真空环境下能够更精准的进行检测和测量。本技术的检测治具，通过底座活动以能更方便的放置工件，再通过底座活动以靠近上盖，而后上盖活动以密闭容置空间，进而通过抽真空装置对容置空间进行抽真空；本技术的检测治具，结构简单，操作方便，检测效果好。较佳地，底座与上盖之间设置有密封组件，借由密封组件以使容置空间于底座和上盖之间呈密封状态。较佳地，密封组件包括第一密封圈和第二密封圈，底座上开设有用于安装第一密封圈的第一安装槽和用于安装第二密封圈的第二安装槽，第一密封圈安装于第一安装槽内，第二密封圈安装于第二安装槽内。较佳地，上盖包括供激光透入容置空间的玻璃和用于固定玻璃的盖体，第一密封圈位于盖体与底座之间，第二密封圈位于玻璃与底座之间。较佳地，底座在第一方向上呈滑动的设置于机架上，上盖在第二方向上呈滑动的设置于机架上，第一方向垂直于第二方向。较佳地，底座包括第一滑动组件和第一动力组件，底座通过第一滑动组件呈滑动的安装于机架，第一动力组件动作以使底座沿第一滑动组件在第一方向上滑动，以使底座滑动至靠近上盖的预设位置。较佳地，上盖设置有第二滑动组件和第二动力组件，上盖通过第二滑动组件呈升降的安装于机架，第二动力组件动作以使上盖沿第二滑动组件在第二方向上做升降滑动，以使上盖与底座密封配合。较佳地，底座上设置有多个容置空间，每一容置空间对应的设置有一上盖，每一上盖均设置有第二滑动组件和第二动力组件。较佳地，每一容置空间上均设置有真空接头，真空接头连接于抽真空装置。较佳地，容置空间内设置有多个与工件匹配的腔体，借由腔体以使工件稳固的放置于容置空间内。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术一实施例提供的检测治具安装于机架上的结构示意图。图2是图1中检测治具一状态的结构示意图。图3是图2中检测治具另一状态的结构示意图。图4是图2中检测治具另一角度的结构示意图。图5是图4中A处的放大图。图6是图2中单独一底座的结构示意图。附图标记说明：100、检测治具；101、机架；10、底座；11、容置空间；111、腔体；12、真空接头；121、安装孔；13、第一动力组件；14、第一滑动组件；15、第一安装槽；16、第二安装槽；20、上盖；21、盖体；211、安装部；22、玻璃；23、第二动力组件；24、第二滑动组件；30、密封组件；31、第一密封圈；32、第二密封圈。具体实施方式为了详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征，以下结合实施方式并配合附图作进一步说明。请参阅图1至图3，本技术提供了一种检测治具100，包括呈活动设置于机架101上的底座10和上盖20。具体地，底座10上设置有用于放置工件的容置空间11，而容置空间11连接有抽真空装置。底座10活动以远离上盖20后，工件放置于容置空间11内。底座10带动工件活动至预设位置，而后上盖20活动以与底座10配合以密封容置空间11。抽真空装置启动以使容置空间11内呈真空状态。可以理解的，预设位置为底座10位于上盖20的下方，底座10欲与上盖20配合的位置，底座10位于预设位置时，上盖20动作可以与底座10配合，以使得容置空间11呈密封状态。采用以上技术方案后，本技术的检测治具100，包括活动的底座10和活动的上盖20。在底座10上设置有用于放置工件的容置空间11，容置空间11连接有抽真空装置。工件放置于容置空间11后，底座10带动工件一起活动至靠近上盖20的预设位置，以使得上盖20活动后能与底座10配合形成密封的容置空间11，再通过抽真空装置对容置空间11抽真空，以使容置空间11内呈真空状态，从而使得工件在真空环境下能够更精准的进行检测和测量。本技术的检测治具100，通过底座10活动以能更方便的放置工件，再通过底座10活动以靠近上盖20，而后上盖20活动以密闭容置空间11，进而通过抽真空装置对容置空间11进行抽真空；本技术的检测治具100，结构简单，操作方便，检测效果好。请参阅图2和图6，在一些可选的实施例中，底座10与上盖20之间设置有密封组件30，借由密封组件30以使容置空间11于底座10和上盖20之间呈密封状态。具体地，密封组件30包括第一密封圈31和第二密封圈32，在底座10上开设有用于安装第一密封圈31的第一安装槽15和用于安装第二密封圈32的第二安装槽16，第一密封圈31安装于第一安装槽15内，第二密封圈32安装于第二安装槽16内。而在上盖20上设置有供用于检测和测量的激光透入容置空间11的玻璃22，玻璃22通过盖体21进行安装固定。上盖20与底座10配合后，第一密封圈31位于盖体21与底座10之间，第二密封圈32位于玻璃22与底座10之间。通过设置双密封圈，使得容置空间11内的密封效果更好。其中，玻璃22为低折射率、低反光率的光学玻璃22，低折射率和低反光率的光学玻璃22在检测激光透入时，能够更精准的对容置空间11内的工件进行检测。示例性的，在激光透入玻璃22时，激光的焦点会变短大约2mm，因此，玻璃22的厚度大约为3mm，以使激光能对工件更好的进行检测。请参阅图3和图4，在一些可选的实施例中，底座10在第一方向上呈滑动的设置于机架101上，上盖20在第二方向上呈滑动的设置于机架101上，第一方向垂直于第二方向。可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测治具，其特征在于，包括呈活动的设置于机架上的底座和上盖，所述底座上设置有用于放置工件的容置空间，所述容置空间连接有抽真空装置，所述工件放置于所述容置空间内，所述底座带动所述工件活动至预设位置，而后所述上盖活动以与所述底座配合以密封所述容置空间，所述抽真空装置启动以使所述容置空间内呈真空状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测治具，其特征在于，包括呈活动的设置于机架上的底座和上盖，所述底座上设置有用于放置工件的容置空间，所述容置空间连接有抽真空装置，所述工件放置于所述容置空间内，所述底座带动所述工件活动至预设位置，而后所述上盖活动以与所述底座配合以密封所述容置空间，所述抽真空装置启动以使所述容置空间内呈真空状态。


2.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述底座与所述上盖之间设置有密封组件，借由所述密封组件以使所述容置空间于所述底座和所述上盖之间呈密封状态。


3.根据权利要求2所述的检测治具，其特征在于，所述密封组件包括第一密封圈和第二密封圈，所述底座上开设有用于安装所述第一密封圈的第一安装槽和用于安装所述第二密封圈的第二安装槽，所述第一密封圈安装于所述第一安装槽内，所述第二密封圈安装于所述第二安装槽内。


4.根据权利要求3所述的检测治具，其特征在于，所述上盖包括供激光透入所述容置空间的玻璃和用于固定所述玻璃的盖体，所述第一密封圈位于所述盖体与所述底座之间，所述第二密封圈位于所述玻璃与所述底座之间。


5.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述底座在第一方向上呈滑动的设置于所述机架上，所述上盖在第二方...

【专利技术属性】
技术研发人员：李江华，高罡星，赵洋，
申请(专利权)人：东莞市沃德精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44