一种低温电喷雾电离装置及质谱检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种低温电喷雾电离装置，其包括雾化气气瓶、设有电喷雾电离源的电离室，雾化气气瓶和电喷雾电离室之间设有管路网，管路网包括气瓶供气管、调温管以及并联设于气瓶供气管和调温管之间的第一支管、第二支管；雾化气气瓶的出气口连接气瓶供气管的一端，气瓶供气管路的另一端通过三通阀和质量流量计连接第一支管、第二支管，第二支管至少部分设于降温装置内，第一支管和第二支管的出气端均连接至调温管的进气端；调温管上设有测温装置，调温管的出气端连接至电喷雾电离室。该低温电喷雾电离装置能够得到热不稳定化合物、弱作用力形成的超分子化合物、弱配位键结合的金属配合物的分子离子峰，便于质谱定性分析。

【技术实现步骤摘要】
一种低温电喷雾电离装置及质谱检测方法
本专利技术涉及质谱检测
，更具体地，涉及一种低温电喷雾电离装置及质谱检测方法。
技术介绍
质谱可以用于定性分析待测未知化合物的组成信息，而获得待测未知化合物的分子离子峰是定性其化学组成信息的先决条件。电喷雾离子源(ESI)的出现[1]，解决了大部分化合物在电离形成带电离子过程中由于电离能量过高而碎裂成碎片离子的问题，拓展了质谱定性分析未知化合物的应用范围。但是，对于一些热不稳定的化合物或者通过弱作用力形成的超分子化合物、弱配位键结合的金属配合物，电喷雾质谱检测往往也无法得到它们的分子离子峰。日本学者公开一种低温的电喷雾电离方式(CSI)[2]，该方法通过低温的N2冷却电喷雾离子源，可以得到一些热不稳定化合物的分子离子峰。但是该方法仍无法用于定性分析某些对环境温度变化非常敏感的热不稳定化合物、弱作用力形成的超分子化合物、弱配位键结合的金属配合物，得到的分子离子峰的强度不高。因此，需要一种新型的低温电喷雾电离方法，以便于通过质谱分析能够得到这类对环境温度变化非常敏感的热不稳定化合物、弱作用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低温电喷雾电离装置，包括雾化气气瓶、设有电喷雾电离源的电离室，雾化气气瓶和电喷雾电离室之间设有管路网，其特征在于：/n所述管路网包括气瓶供气管、调温管以及并联设于所述气瓶供气管和所述调温管之间的第一支管、第二支管；/n雾化气气瓶的出气口连接气瓶供气管的一端，气瓶供气管路的另一端通过三通阀和质量流量计连接第一支管、第二支管，第二支管至少部分设于降温装置内，第一支管和第二支管的出气端均连接至调温管的进气端；调温管上设有测温装置，调温管的出气端连接至电喷雾电离室。/n

【技术特征摘要】
1.一种低温电喷雾电离装置，包括雾化气气瓶、设有电喷雾电离源的电离室，雾化气气瓶和电喷雾电离室之间设有管路网，其特征在于：
所述管路网包括气瓶供气管、调温管以及并联设于所述气瓶供气管和所述调温管之间的第一支管、第二支管；
雾化气气瓶的出气口连接气瓶供气管的一端，气瓶供气管路的另一端通过三通阀和质量流量计连接第一支管、第二支管，第二支管至少部分设于降温装置内，第一支管和第二支管的出气端均连接至调温管的进气端；调温管上设有测温装置，调温管的出气端连接至电喷雾电离室。


2.根据权利要求1所述的低温电喷雾电离装置，其特征在于，所述第二支管采用铜管制成。


3.根据权利要求1所述的低温电喷雾电离装置，其特征在于，所述雾化气选自氮气、氦气或氩气。


4.根据权利要求1所述的低温电喷雾电离装置，其特征在于，所述降温装置为内设液氮的液氮保温罐。


5.根据权利要求1所述的低温电喷雾电离装置，其特征在于，所述测温装置为热电偶。


6.一种质谱离子源电离系统，其特征在于，包括如1-5任一项所述的低温电喷雾电离装置。


7.一种低温电喷雾电离质谱检测方法，其特征在于，包括：
S1，将给电喷雾电离室提供雾化气的...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏海峰，林水潮，郑兰荪，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：福建;35