提供低温差操作气体的方法技术

技术编号:28491168 阅读:20 留言:0更新日期:2021-05-19 22:14
本发明专利技术为一种提供低温差操作气体的方法,其适用于提供操作气体至气相沉积反应炉的气动驱动机构,反应炉包括一晶圆反应区以及一废热区。低温差操作气体方法包括下列步骤,首先提供反应炉;接着提供操作气体经过反应炉的废热区,令加热后的操作气体成为增温操作气体;最后将增温操作气体导入反应炉的气动驱动机构,使气动驱动机构通过增温操作气体作动。本发明专利技术能提供与反应炉反应温差较小的操作气体,从而降低操作气体对于反应炉中温度的影响,维持制作晶圆的品质。持制作晶圆的品质。持制作晶圆的品质。

【技术实现步骤摘要】
提供低温差操作气体的方法


[0001]本专利技术涉及一种应用于制造或处理半导体的技术,特别是指一种提供低温差操作气体的方法。

技术介绍

[0002]有机金属化学气相沉积法(Metal

organic Chemical Vapor Deposition,MOCVD),意指利用气相中发生的物理及化学过程,在固体表面形成沉积物的技术。常见被应用在半导体晶圆的反应面形成薄膜的制程方法。
[0003]请参图1,目前有机金属化学气相沉积法在一反应炉80中进行。进行气相沉积时,反应炉80提供一加热单元82对反应腔84加热到高温至少600℃以上。以通过一喷头86将反应气体供给单元87提供的载气及有机金属气体,导入高温的反应腔84中,进行气相沉积反应,以在晶圆(图中未示)的反应面上成长半导体薄膜。反应完成的废气则汇入废气汇集单元88,再进入废弃回收单元90,以进行废气净化等后续废气的处理。
[0004]除此之外,为了使薄膜均匀地沉积,反应炉80更提供承载晶圆的晶圆承载单元92,带动晶圆高速旋转,以在气相沉积时,薄膜能均匀地沉积本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提供低温差操作气体的方法,其适用于提供操作气体至气相沉积反应炉的气动驱动机构,该反应炉包括一晶圆反应区以及一废热区,其特征在于,该低温差操作气体方法包括下列步骤:提供该反应炉;提供该操作气体经过该反应炉的该废热区,以加热该操作气体,成为增温操作气体;以及将该增温操作气体导入该反应炉的该气动驱动机构,使该气动驱动机构通过该增温操作气体作动。2.如权利要求1所述的提供低温差操作气体的方法,其特征在于:在加热该操作气体产生该增温操作气体的步骤中,其中该增温该操作气体为该废热区通过接触传导、热对流传导或辐射热传导对该操作气体增温,以成为该增温操作气体。3.如权利要求1所述的提供低温差操作气体的方法,其特征在于:该操作气体根据经过该废热区的距离改变增温时间。4.如权利要求1所述的提供低温差操作气体的方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴铭钦刘峰
申请(专利权)人:苏州雨竹机电有限公司
类型:发明
国别省市:

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