基站位置批量校准方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:28430947 阅读:18 留言:0更新日期:2021-05-11 18:40
本发明专利技术实施方式提供一种基站位置批量校准方法及设备,属于定位技术领域。本发明专利技术实施方式提供了一种基站位置批量校准方法,所述校准方法包括:从批量基站中选择一个基站进行位置校准;基于位置校准后的基站为参考基站,对所述位置校准后的基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准;重复将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准的步骤,直至所述批量基站中的所有基站均被位置校准。同时还提供了对应的一种基站位置批量校准设备。通过本发明专利技术技术方案能够降低校准作业时间,节约了人力成本,提升批量基站位置校准效率。

【技术实现步骤摘要】
基站位置批量校准方法、装置、电子设备及存储介质
本专利技术涉及定位
,具体地涉及一种基站位置批量校准方法,一种基站位置批量校准装置,一种电子设备以及存储介质。
技术介绍
现有技术就是在检测基站位置是否准确时,需要人工去对该基站进行重新引点,然后与该基站原本的基准点进行比较,最后得出该基站的位置是否准确,如果该基站位置异常,在对该基站进行位置修正后,还需要对之前连接该基站进行测绘的地块进行重新测绘。该种方法需要人工去判断,且比较耗时,在需要检测的基站较多时,就会显得无能为力。现有技术不存在快速检测大量基站位置的方法。
技术实现思路
为至少部分地解决现有技术中存在的上述问题,本专利技术实施方式的目的是提供一种基站位置批量校准方法及设备。为了实现上述目的,在本专利技术的第一方面,提供一种基站位置批量校准方法,所述校准方法包括:从批量基站中选择一个基站进行位置校准;将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准;重复将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准的步骤,直至所述批量基站中的所有基站均被位置校准。优选的,所述步骤从批量基站中选择一个基站进行位置校准中,被选择的基站位于所述批量基站所分布的地理位置范围的中心位置。优选的,所述方法还包括:对于每一基站,确定所述基站当前的校准状态,所述校准状态包括以下任一:未知状态、待校准状态、已校准状态和完成状态。优选的,所述对于每一基站,确定所述基站当前的校准状态,包括:在所述步骤从批量基站中选择一个基站进行位置校准之前,对于每一基站,将所述基站的校准状态均确定为未知状态;当处于未知状态的基站被选择为即将进行位置校准的基站时,将当前被选择的基站的校准状态更新为待校准状态;当对处于待校准状态的基站进行位置校准之后,将已进行位置校准后的基站的校准状态更新为已校准状态;当处于已校准状态的基站的相邻基站的校准状态为待校准状态或已校准状态时,将所述相邻基站的校准状态更新为完成状态。优选的,所述直至所述批量基站中的所有基站均被位置校准的步骤中,确定所述批量基站中的所有基站是否均被位置校准的过程包括:确定所述批量基站中的所有基站的校准状态是否均为完成状态;当所有基站的校准状态均为完成状态时,确定所述批量基站中的所有基站均被位置校准。优选的,所述校准方法还包括:展示所述批量基站的可视化界面;对于每一基站,基于所述基站当前的校准状态,在所述可视化界面中展示出所述基站的校准状态对应的标识;不同校准状态对应不同标识。优选的,对所述基站的校准状态进行更新时,所述校准方法还包括:对于每一基站,根据所述基站更新后的校准状态更新所述基站在所述可视化界面中的标识。优选的,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准的过程包括:获取所述参考基站和未被位置校准的基站的卫星观测数据;基于所述卫星观测数据计算得到所述未被位置校准的基站的位置偏差数据;基于所述位置偏差数据对所述未被位置校准的基站的位置进行校准。优选的,所述将位置校准后的基站作为参考基站的步骤中,所述参考基站指示当前校准状态为已校准状态的基站。优选的,所述将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准的步骤中,所述相邻基站表示与所述参考基站之间的距离小于或等于预设距离阈值的基站。优选的,所述校准方法还包括:当前所需进行位置校准的待校准基站的预设距离阈值内未存在所述参考基站时,以设定的虚拟参考基站为所述参考基站对所述待校准基站进行位置校准。在本专利技术的第二方面,还提供了一种基站位置批量校准装置,包括:选取模块,从批量基站中选择一个基站进行位置校准;校准模块,将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准;执行模块,重复执行将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准的步骤,直至所述批量基站中的所有基站均被位置校准。在本专利技术的第三方面,还提供了一种电子设备,包括:处理器;存储器,用于存储可在所述处理器上运行的计算机程序;其中,所述处理器执行所述计算机程序时实前述方法的步骤。优选的,所述存储器还用于存储经所述处理器执行所述基站位置批量校准方法后得到的基站位置数据;和/或所述电子设备还包括:RTK定位获取模块,用于获取卫星观测数据,并传送至所述处理器;和/或人机交互模块,用于接收用户指令,并传送至所述处理器。在本专利技术的第四方面,还提供了一种机器可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现前述的基站位置批量校准方法。通过上述技术方案,通过以上实施方式,仅需使用一次CORS账号,便能够实现批量基站的快速位置校准,从而能够降低校准作业时间,节约了人力成本,提升批量基站位置校准效率。本专利技术实施方式的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本专利技术实施方式的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术,但并不构成对本专利技术的限制。在附图中:图1示例性示出了本专利技术一种实施方式提供的基站位置批量校准方法的流程图;图2示例性示出了本专利技术一种可选实施方式提供的基站位置批量校准方法的步骤图一;图3示例性示出了本专利技术一种实施方式提供的基站位置批量校准方法的步骤图二;图4示例性示出了本专利技术一种实施方式提供的基站位置批量校准方法的步骤图三;图5示例性示出了本专利技术一种实施方式提供的基于CORS基站的通信关系图;以及图6示例性示出了本专利技术一种实施方式提供的电子设备的框图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术,并不用于限制本专利技术。另外,若本专利技术实施方式中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施方式之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本专利技术要求的保护范围之内。图1示例性示出了本专利技术一种实施方式提供的基站位置批量校准方法的流程图。如图1所示,一种基站位置批量校准方法,所述校准方法包括:S01,从批量基站中选择一个基站进行位置校准;本实施方式采用参考站的方式进行基站位置校准,在本步骤中,需要从批量基站中选择任意一基站进行位置校准,该基站的选择方式可以根据实际场景,按照基站的位置、优先级或属性等方式确定。位置校准的方式可以是虚拟站的方式,也可以采用该批量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基站位置批量校准方法,其特征在于,所述校准方法包括:/n从批量基站中选择一个基站进行位置校准;/n将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准;/n重复将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准的步骤,直至所述批量基站中的所有基站均被位置校准。/n

【技术特征摘要】
1.一种基站位置批量校准方法,其特征在于,所述校准方法包括:
从批量基站中选择一个基站进行位置校准;
将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准;
重复将位置校准后的基站作为参考基站,对所述参考基站的相邻基站中的未被位置校准的基站进行位置校准的步骤,直至所述批量基站中的所有基站均被位置校准。


2.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,所述从批量基站中选择一个基站进行位置校准的步骤中,被选择的基站位于所述批量基站所分布的地理位置范围的中心位置。


3.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,所述方法还包括:
对于每一基站,确定所述基站当前的校准状态,所述校准状态包括以下任一:未知状态、待校准状态、已校准状态和完成状态。


4.根据权利要求3所述的校准方法,其特征在于,所述对于每一基站,确定所述基站当前的校准状态,包括:
在所述步骤从批量基站中选择一个基站进行位置校准之前,对于每一基站,将所述基站的校准状态均确定为未知状态;
当处于未知状态的基站被选择为即将进行位置校准的基站时,将当前被选择的基站的校准状态更新为待校准状态;
当对处于待校准状态的基站进行位置校准之后,将已进行位置校准后的基站的校准状态更新为已校准状态;
当处于已校准状态的基站的相邻基站的校准状态为待校准状态或已校准状态时,将所述相邻基站的校准状态更新为完成状态。


5.根据权利要求4所述的校准方法,其特征在于,所述直至所述批量基站中的所有基站均被位置校准的步骤中,确定所述批量基站中的所有基站是否均被位置校准的过程包括:
确定所述批量基站中的所有基站的校准状态是否均为完成状态;
当所有基站的校准状态均为完成状态时,确定所述批量基站中的所有基站均被位置校准。


6.根据权利要4所述的校准方法,其特征在于,所述校准方法还包括:
展示所述批量基站的可视化界面;
对于每一基站,基于所述基站当前的校准状态,在所述可视化界面中展示出所述基站的校准状态对应的标识;不同校准状态对应不同标识。


7.根据权利要6所述的校准方法,其特征在于,对所述基站的校准状态进行更新时,所述校准方法还包括:
对于每一基站,根据所述基站更新后的校准状态更新所述基站在所述可视化界面中的标识。

【专利技术属性】
技术研发人员:杨理钦钟柱坚
申请(专利权)人:广州极飞科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1