间接型平板探测器及其制备方法技术

技术编号:28298935 阅读:25 留言:0更新日期:2021-04-30 16:25
本发明专利技术提供一种间接型平板探测器及其制备方法,包括:基底;下电极层;有机转光层,其制备原料包括P型有机光电材料、N型有机光电材料及用于溶于P型有机光电材料和N型有机光电材料的有机溶剂;上电极层;封装层,由第一封装层与第二封装层交替堆叠至少2组形成,第一封装层的材料包括派瑞林或聚酰亚胺,第二封装层的材料包括氧化铝、二氧化硅或氮化硅;闪烁体层,材料包括Ca

【技术实现步骤摘要】
间接型平板探测器及其制备方法
本专利技术属于射线探测
,特别是涉及一种间接型平板探测器及其制备方法。
技术介绍
X射线平板探测器(后续简称平板探测器)是对X射线敏感的一种成像设备,可应用于医疗成像(乳腺和胸部检查、放疗等)、工业无损探伤以及安检安防等领域,尺寸可达数十厘米,像素基板可由数百万乃至数千万个像素单元电路所组成,每个像素单元通常由薄膜晶体管(Thin-FilmTransistors,TFT)和光敏二极管(Photodiode,PD)等器件所构成。现有的X射线间接型平板探测器使用非晶Si(a-Si)作为感光材料并且使用CsI:Tl(铊掺杂碘化铯)或者Gd2O2S:Tb(铽掺杂硫氧化钆,简称GOS)作为X射线转换材料(即闪烁体),使用此组合的主要原因在于:非晶Si的响应曲线峰值在550nm附近,与CsI或者GOS的发光有着很好的匹配,但是用此组合存在一些问题:首先非晶Si光电二极管阵列的外量子效率(简称EQE)已经达到约80%@550nm,大幅度提升的空间很小;另外,闪烁体使用CsI:Tl或者Gd2O2S:Tb单晶方案,其光产额约为50000光子/MeV,考虑到在平板探测器中,上述两种闪烁体是以粉晶即多晶形式存在,缺陷密度较单晶高,导致其光产额较单晶低,约为35000光子/MeV,而通过调节化学组分及工艺也很难将现有闪烁体的光产额大幅提升,因此,现有的a-Si+CsI或者Gd2O2S组合下的平板探测器的探测效率(也称为灵敏度)大幅提升的空间不大,限制了在低剂量场景下的应用。近年来有机光电二极管(organicphotodiode,OPD)的研究取得了长足的发展,OPD的加工方法简单,使用溶液法涂布工艺,无需像素化处理,并且全程可在大气环境中完成无需高真空及等离子设备,简化工艺、降低成本;另外,如图11所示,OPD的响应光谱远宽于非晶Si,这就为闪烁体材料的选择提供了很大的选择空间,以取代GOS或者CsI,这种OPD+其他闪烁体的组合可以进一步细分X射线平板探测器的应用、形成差异化竞争,例如使用这种OPD+其他闪烁体的组合可以使探测器灵敏度更高、适用于一些低剂量的应用。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种间接型平板探测器及其制备方法,用于解决现有技术中X射线间接型平板探测器的灵敏度无法实现大幅度提升,从而限制其的低剂量应用等的问题。为实现上述目的及其他相关目的,本专利技术提供一种间接型平板探测器,所述间接型平板探测器包括:基底;下电极层,形成于所述基底上;有机转光层,形成于所述下电极层上,所述有机转光层的制备原料包括P型有机光电材料、N型有机光电材料及用于溶于所述P型有机光电材料和所述N型有机光电材料的有机溶剂;上电极层,形成于所述有机转光层上;封装层,形成于所述上电极层上,所述封装层由第一封装层与第二封装层交替堆叠至少2组形成,所述第一封装层的材料包括派瑞林或聚酰亚胺,所述第二封装层的材料包括氧化铝、二氧化硅或氮化硅;闪烁体层,形成于所述封装层上,所述闪烁体层的材料包括Ca1-xSrxI2或Ca1-xSrxI2:yEu2+,其中0≤x≤1,0.01%≤y≤5%。可选地,所述封装层由3组~5组所述第一封装层与所述第二封装层交替堆叠形成,所述第一封装层的厚度介于500nm~1000nm之间,所述第二封装层的厚度介于10nm~50nm之间。可选地,所述平板探测器还包括第一界面层及第二界面层,所述第一界面层位于所述有机转光层的上表面,所述第二界面层位于所述有机转光层的下表面;所述第一界面层的材料包括Se、MoO3、WO3、NiO、V2O5以及PEDOT:PSS中的至少一种,所述第二界面层的材料包括TiO2、ZnO、AZO、MZO、SnO2以及PEIE中的至少一种;所述第一界面层的厚度介于5nm~100nm之间,所述第二界面层的厚度介于10nm~100nm之间。可选地,所述P型有机光电材料包括P3HT以及PCPDTBT中的至少一种;所述N型有机光电材料包括PC61BM以及PC71BM中的至少一种;所述有机溶剂包括邻二甲苯、氯仿以及四氢萘中的至少一种;所述有机转光层的厚度介于100nm~2000nm之间。可选地,所述闪烁体层的材料包括CaI2、CaI2:yEu2+、SrI2、SrI2:yEu2+、Ca0.9Sr0.1I2或Ca0.9Sr0.1I2:yEu2+。本专利技术还提供一种间接型平板探测器的制备方法,该制备方法可制备上述间接型平板探测器,所述制备方法包括如下步骤:提供基底,并于所述基底上制备下电极层;将P型有机光电材料和N型有机光电材料溶于有机溶剂中以制备转光材料液,以基于所述转光材料液于所述下电极层上制备有机转光层;于所述有机转光层上制备上电极层;于所述上电极层上制备封装层,所述封装层由第一封装层与第二封装层交替堆叠至少2组形成,所述第一封装层的材料包括派瑞林或聚酰亚胺,所述第二封装层的材料包括氧化铝、二氧化硅或氮化硅;于所述封装层上制备闪烁体层,所述闪烁体层的材料包括Ca1-xSrxI2或Ca1-xSrxI2:yEu2+,其中0≤x≤1,0.01%≤y≤5%。可选地,形成所述下电极层后还包括形成第二界面层的步骤,所述第二界面层形成于所述有机转光层的下表面;形成所述有机转光层后还包括形成第一界面层的步骤,所述第一界面层形成于所述有机转光层的上表面。可选地,所述封装层由3组~5组所述第一封装层与所述第二封装层交替堆叠形成,所述第一封装层的厚度介于500nm~1000nm之间,所述第二封装层的厚度介于10nm~50nm之间。可选地,采用CVD工艺形成所述第一封装层;采用ALD工艺形成所述氧化铝材料的所述第二封装层;采用PVD工艺形成所述二氧化硅材料或所述氮化硅材料的所述第二封装层。可选地,采用热蒸镀工艺制备所述闪烁体层,热蒸镀的温度介于600℃~800℃之间。可选地,热蒸镀制备所述闪烁体层时,炉膛内通入还原性气体,所述还原性气体包括H2、CH4及NH3中的至少一种。可选地,所述还原性气体为H2,所述炉膛内同时还通入N2,且所述H2的体积占混合气体的5%~75%之间。可选地,炉膛内通入所述还原性气体的流量介于10cc/min~100cc/min之间。可选地,热蒸镀制备Ca1-xSrxI2的所述闪烁体层使用的主体原料包括CaI2及SrI2;蒸镀制备Ca1-xSrxI2:yEu2+的所述闪烁体层使用的主体原料包括CaI2、SrI2及EuI2。可选地,热蒸镀制备所述闪烁体层时还包括补偿原料,所述补偿原料为单质I2,且所述补偿原料与所述主体原料的质量比介于0.1%~0.5%之间。如上所述,本专利技术提供一种间接型平板探测器及其制备方法,采用有机转光层代替现有的非晶Si实现光电转换,由于有机转光层的响应光谱很宽,可将平板探测器感光层光响应拓宽至蓝光区域,且其在蓝光区域有着和550nm黄绿光相似本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种间接型平板探测器,其特征在于,所述间接型平板探测器包括:/n基底;/n下电极层,形成于所述基底上;/n有机转光层,形成于所述下电极层上,所述有机转光层的制备原料包括P型有机光电材料、N型有机光电材料及用于溶于所述P型有机光电材料和所述N型有机光电材料的有机溶剂;/n上电极层,形成于所述有机转光层上;/n封装层,形成于所述上电极层上,所述封装层由第一封装层与第二封装层交替堆叠至少2组形成,所述第一封装层的材料包括派瑞林或聚酰亚胺,所述第二封装层的材料包括氧化铝、二氧化硅或氮化硅;/n闪烁体层,形成于所述封装层上,所述闪烁体层的材料包括Ca

【技术特征摘要】
1.一种间接型平板探测器,其特征在于,所述间接型平板探测器包括:
基底;
下电极层,形成于所述基底上;
有机转光层,形成于所述下电极层上,所述有机转光层的制备原料包括P型有机光电材料、N型有机光电材料及用于溶于所述P型有机光电材料和所述N型有机光电材料的有机溶剂;
上电极层,形成于所述有机转光层上;
封装层,形成于所述上电极层上,所述封装层由第一封装层与第二封装层交替堆叠至少2组形成,所述第一封装层的材料包括派瑞林或聚酰亚胺,所述第二封装层的材料包括氧化铝、二氧化硅或氮化硅;
闪烁体层,形成于所述封装层上,所述闪烁体层的材料包括Ca1-xSrxI2或Ca1-xSrxI2:yEu2+,其中0≤x≤1,0.01%≤y≤5%。


2.根据权利要求1所述的间接型平板探测器,其特征在于:所述封装层由3组~5组所述第一封装层与所述第二封装层交替堆叠形成,所述第一封装层的厚度介于500nm~1000nm之间,所述第二封装层的厚度介于10nm~50nm之间。


3.根据权利要求1所述的间接型平板探测器,其特征在于,所述平板探测器还包括第一界面层及第二界面层,所述第一界面层位于所述有机转光层的上表面,所述第二界面层位于所述有机转光层的下表面;所述第一界面层的材料包括Se、MoO3、WO3、NiO、V2O5以及PEDOT:PSS中的至少一种,所述第二界面层的材料包括TiO2、ZnO、AZO、MZO、SnO2以及PEIE中的至少一种;所述第一界面层的厚度介于5nm~100nm之间,所述第二界面层的厚度介于10nm~100nm之间。


4.根据权利要求1所述的间接型平板探测器,其特征在于:所述P型有机光电材料包括P3HT以及PCPDTBT中的至少一种;所述N型有机光电材料包括PC61BM以及PC71BM中的至少一种;所述有机溶剂包括邻二甲苯、氯仿以及四氢萘中的至少一种;所述有机转光层的厚度介于100nm~2000nm之间。


5.根据权利要求1所述的间接型平板探测器,其特征在于:所述闪烁体层的材料包括CaI2、CaI2:yEu2+、SrI2、SrI2:yEu2+、Ca0.9Sr0.1I2或Ca0.9Sr0.1I2:yEu2+。


6.一种间接型平板探测器的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:
提供基底,并于所述基底上制备下电极层;
将P型有机光电材料和N型有机光电材料溶于有机溶剂中以制备转光材料液,以基于所述转光材料液于所述下电极层上制备有机转光层;
于所述有机转光层上制备上电极层;
于所述上电极层...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗宏德金利波
申请(专利权)人:奕瑞影像科技太仓有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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