检测结构和芯片检测机构制造技术

本发明专利技术公开了一种检测结构和芯片检测机构。检测结构包括检测件、第一移动块、驱动件、第一轨道，检测件设有检测面，光线通过检测面进入检测件，检测件与第一移动块相连接，驱动件与第一移动块相连接，第一轨道相对检测面倾斜设置，第一移动块能够沿着第一轨道移动。由于第一轨道倾斜设置，所以当检测件通过第一移动块在第一轨道移动时，可以通过第一驱动件驱动第一检测件完成上下方向和水平方向等两个方向的移动，相较于相关技术，节省了驱动件的数量。本发明专利技术还公开了一种芯片检测机构，包括上述检测结构。上述检测结构。上述检测结构。

【技术实现步骤摘要】
检测结构和芯片检测机构


[0001]本专利技术涉及芯片检测
，尤其设计一种检测结构和芯片检测机构。

技术介绍

[0002]在芯片的检测过程中，经常需要通过检测设备对芯片进行检测，在检测的过程中，检测设备经常需要更换位置，在相关技术中，检测设备上往往需要设置多套驱动设备，已完成对检测设备不同角度的驱动，从而使得检测设备可以完成不同位移的移动，这种结构不仅浪费驱动件，增加制造成本，还增加了检测设备的负载，使得其移动不方便，造成其移动减速，降低检测效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种检测结构和芯片检测机构，能够节省驱动件的数量。
[0004]本专利技术的实施例公开了一种检测结构，包括：
[0005]检测件，所述检测件设有检测面，光线通过所述检测面进入所述检测件；
[0006]第一移动块，所述检测件与所述第一移动块相连接；
[0007]驱动件，所述驱动件与所述第一移动块相连接；
[0008]第一轨道，所述第一轨道相对所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测结构，其特征在于，包括：检测件，所述检测件设有检测面，光线通过所述检测面进入所述检测件；第一移动块，所述检测件与所述第一移动块相连接；驱动件，所述驱动件与所述第一移动块相连接；第一轨道，所述第一轨道相对所述检测面倾斜设置，所述第一移动块能够沿着所述第一轨道移动。2.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，检测结构还包括定位件和第二移动块，所述定位件与所述第二移动块相连接，所述第二移动块能够沿着所述第一轨道移动。3.根据权利要求2所述的检测结构，其特征在于，还包括连接块，所述驱动件的输出端与所述连接块连接，所述连接块与所述第一移动块相连接，且所述连接块与所述第二移动块相连接。4.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，还包括连接块，第一调整块和第二调整块，所述第一调整块与所述第一移动块相连接，所述检测件与所述第二调整块相连接，所述第一调整块沿着高度方向设有调整滑道，所述第二调整块沿着高度方向设有若干个定位孔，所述定位孔能够通过紧固件定位在所述调整滑道的任意位置。5.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，还包括底座，所述底座上设有斜面，所述第一轨道沿着所述斜面设置，且所述第一轨道从高到低在所述斜...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈秋龙，张晋，刘东成，
申请(专利权)人：深圳市盛世智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：