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本发明公开了一种检测结构和芯片检测机构。检测结构包括检测件、第一移动块、驱动件、第一轨道，检测件设有检测面，光线通过检测面进入检测件，检测件与第一移动块相连接，驱动件与第一移动块相连接，第一轨道相对检测面倾斜设置，第一移动块能够沿着第一轨道...
该专利属于深圳市盛世智能装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市盛世智能装备有限公司授权不得商用。

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