一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，包括测试仪本体，所述测试仪本体的顶部设有方杆，所述方杆的内部设有滚球，所述方杆上设有滑杆，所述滑杆的端部设有第一连接块，所述第一连接块的侧面设有连接杆，所述连接杆的端部设有滑动块，所述滑动块的内部设有第二连接块、弹簧，所述滑动块的侧面设有支撑块，所述滑动块的顶部设有方盖，所述方盖的内部设有扭簧，所述扭簧穿出方盖的端部上设有压块，所述滑动块的表面设有限位杆；测试仪上连接的导线置于支撑块上，导线位于支撑块、压块之间及导线被限位固定，避免在测试过程中发生集成电路元件移动而扯动导线的情况。元件移动而扯动导线的情况。元件移动而扯动导线的情况。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置


[0001]本技术属于电子元件测试仪器
，具体涉及一种集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路板测试仪具有高速度、高精度、多功能、多参数和宽测量范围等诸多特点。电路板测试仪在计算机的控制下，能自动完成激励、测量、数据处理、显示或输出测试结果，电路板测试仪应用较为广泛。
[0003]现有的电路板测试仪在对集成电路元件进行测试时，测试仪与元件之间连接有导线，测试过程中会碰触元件，元件移动及扯动导线，导线连接不够稳定及降低了导线的灵敏性的问题，为此我们提出一种集成电路测试装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种集成电路测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的测试仪与元件之间连接有导线，测试过程中碰触元件，元件移动及扯动导线，导线连接不够稳定及降低了导线的灵敏性的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括测试仪本体，所述测试仪本体的顶部设有方杆，所述方杆的内部设有滚球，所述方杆上设有滑杆，所述滑杆的端部设有第一连接块，所述第一连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)的顶部设有方杆(2)，所述方杆(2)的内部设有滚球(17)，所述方杆(2)上设有滑杆(18)，所述滑杆(18)的端部设有第一连接块(3)，所述第一连接块(3)的侧面设有连接杆(4)，所述连接杆(4)的端部设有滑动块(5)，所述滑动块(5)的内部设有第二连接块(15)、弹簧(16)，所述滑动块(5)的侧面设有支撑块(6)，所述滑动块(5)的顶部设有方盖(7)，所述方盖(7)的内部设有扭簧(8)，所述扭簧(8)穿出方盖(7)的端部上设有压块(9)，所述滑动块(5)的表面设有限位杆(10)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述方杆(2)的内部开设有滑腔，所述滚球(17)位于滑腔内，所述滑杆(18)与滚球(17)连接，所述滑杆(18)与方杆(2)滑动连接。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述第一连接块(3)的内部设有第一滑块、滑槽，所述连接杆(4)一端穿过第一连接块(3)并与第一滑块连接，所述连接杆(4)与第一连接块(3)滑动连接，所述连接杆(4)与滑动块(5)滑动连接。4.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶钧戊，李明正，胡刚，
申请(专利权)人：深圳兴磊科技有限公司，
类型：新型
国别省市：